「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of testing a semiconductor laser in which accurate data transmission characteristics can be evaluated, and a laser testing device.例文帳に追加

正確なデータ伝送特性の評価を可能とするレーザの試験方法およびレーザ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a method therefor which can achieve a reduction in testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of testing test elements with high frequency modulation drive.例文帳に追加

高周波変調駆動により被試験素子の試験を行うことができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The present invention has improved a semiconductor testing apparatus testing a test object with a test head.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をテストヘッドにより試験する半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit provided with a shift-scan type testing circuit that can be shortened in testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮が可能なシフトスキャン方式の試験回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

WIRE TESTING STRUCTURE (WIRE TESTING STRUCTURE DETERMINING OPEN CIRCUIT AND SHORT-CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR DEVICE) AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

配線試験構造および方法（半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造） - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of improving testing efficiency by shortening a startup time.例文帳に追加

起動時間を短縮することにより試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device which is capable of testing the electrical properties of the semiconductor device with high accuracy before an assembly process is carried out.例文帳に追加

アセンブリ工程より前に行なう電気的特性のテストを精度良く行なうことができる半導体素子のテスト方法を提供する。 - 特許庁

SOCKET DISCRETE TYPE APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR AND CIRCULATORY TYPE APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ソケット分離型半導体試験装置、ソケット分離型半導体試験方法、循環型半導体試験装置、および循環型半導体試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing method capable of testing whether each optical semiconductor device is normally operated or not, before completion.例文帳に追加

各光半導体装置が完成する前に正常動作するか否かを試験することが可能な、半導体ウェハの試験方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 1 comprises the semiconductor testing device body 2, a plurality of replaceable adjustment tools 3a, and a switching device 4.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置本体２、複数の交換可能な調整用治具３ａ、及び切替装置４を備える。 - 特許庁

To obtain a semiconductor testing apparatus by which a semiconductor testing operation can be performed at a frequency exceeding a maximum frequency for hardware.例文帳に追加

本発明は半導体テスト装置に関し、ハードウェアにとっての最大周波数を超える周波数で半導体テストを行うことを目的とする。 - 特許庁

SKEW-ADJUSTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND SKEW-ADJUSTING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のスキュー調整方法・スキュー調整装置 - 特許庁

To shorten testing time at an output circuit of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の出力回路における試験時間を短縮する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁

POSITIVE/NEGATIVE DC POWER SUPPLY UNIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

正負直流電源装置及びこれを用いる半導体試験装置 - 特許庁

The semiconductor testing device is further provided with a relief judgment circuit 60.例文帳に追加

半導体試験装置は、救済判定回路６０をさらに備える。 - 特許庁

POSITION CORRECTING METHOD AND DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

位置補正方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME AND METHOD FOR CORRECTING ITS REFERENCE VOLTAGE例文帳に追加

半導体装置、そのテスト方法、およびその基準電圧補正方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR DETECTING OFF CAPACITY ABNORMALITY OF RELAY例文帳に追加

半導体試験装置およびリレーのオフ容量異常検出方法 - 特許庁

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置 - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, METHOD OF GENERATING SIGNAL, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

信号発生器、信号発生方法、試験装置および半導体チップ - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing a management load of a DUT board.例文帳に追加

DUTボードの管理負担を軽減する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION CIRCUIT AND TIMING CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング校正回路及びタイミング校正方法 - 特許庁

IC TESTER, IC TESTING METHOD AND PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

MANAGEMENT OF MANUFACTURE BY TESTING METAL FILM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の金属膜の試験による製造管理方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAFER MAP DISPLAY DEVICE, AND WAFER MAP DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、ウエハマップ表示装置及びウエハマップ表示プログラム - 特許庁

NOISE-WAVEFORM-ACCOMPANIED DRIVER INPUT GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法 - 特許庁

WAVE FORM FORMATTER AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE MOUNTING IT例文帳に追加

波形フォーマッタ・この波形フォーマッタを搭載した半導体デバイス試験装置 - 特許庁

EDGE CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

エッジ変換回路及びエッジ変換回路を備えた半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、試験パターン生成方法、及び回路試験方法 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS USING ITS APPARATUS例文帳に追加

信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME AND CHIP SIZE PACKAGE, AND SEMICONDUCTOR WAFER MANUFACTURING METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウェーハとそれを用いた半導体素子及びチップサイズ・パッケージ並びに半導体ウェーハの製造方法、半導体ウェーハの検査方法 - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

To provide a method and a device of testing a semiconductor wafer or a sample.例文帳に追加

半導体ウエハまたはサンプルを検査する方法と装置を提供する。 - 特許庁

CONTINUITY TESTER AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの導通検査装置及びこれに用いられる導通検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及び半導体集積回路のテスト装置 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

FUSE-CUT TEST CIRCUIT AND FUSE-CUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

ヒューズ切断テスト回路及びヒューズ切断テスト方法並びに半導体回路 - 特許庁

BIST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD FOR IT例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路内蔵半導体集積回路装置およびテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING RELIABILITY IN SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING ELEMENT FOR EXTERNAL RESONATOR-TYPE LASER例文帳に追加

外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SIMULTANEOUSLY TESTING SEMICONCUDOTR DEVICE OR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT FOR MEASURING FREQUENCY AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING THE SAME例文帳に追加

周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路 - 特許庁