「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁

To provide a semiconductor laser device capable of suppressing the variation of dither effects, and a method of testing the semiconductor laser device.例文帳に追加

ディザ効果のばらつきを抑制することができる半導体レーザ装置および半導体レーザの試験方法を提供する。 - 特許庁

To accurately sort a nondefective product and a defective product in a method for probe-testing a semiconductor device formed on a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板上に形成した半導体装置のプローブテスト方法に関し、良品と不良品とを正確に選別する。 - 特許庁

To provide a testing process of a semiconductor device capable of confirming degradation of the semiconductor device after inspection.例文帳に追加

本発明は検査後の半導体装置の劣化を確認できる半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly durable semiconductor device testing device adaptable to a semiconductor device having a fine-pitch electrode.例文帳に追加

ファインピッチの電極を有する半導体デバイスに対応可能であり，耐久性の高い半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing jig capable of connecting electrically with semiconductor devices surely and stably, without pressing down semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置を押さえる必要なく、半導体装置と確実かつ安定した電気的接続が可能な検査治具を提供する。 - 特許庁

To provide a socket for a semiconductor device, having a heat sink enabled to efficiently remove the heat generated when testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験中に生じる熱を効率よく奪うことのできるヒートシンクを備えた、半導体装置用ソケット。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of attaining time reduction in the number of testing processes, and the resulting cost reduction.例文帳に追加

テスト工程の時間短縮とそれによるコストダウンを図ることができる半導体装置を得る。 - 特許庁

To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions.例文帳に追加

試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of testing high-speed time performance by using a low-speed tester.例文帳に追加

低速テスタを使用して高速な時間性能が試験できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing which reduce a production test time for semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の生産試験時間を低減する試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

To enable a semiconductor element to be efficiently manufactured in a multi-stage selecting system testing the wafers.例文帳に追加

ウェハテストによる多段階選別方式で効率的に半導体素子を製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of keeping confidentiality of test programs and test data.例文帳に追加

テストプログラムやテストデータの機密性を保持することが可能な半導体試験システムを実現する。 - 特許庁

To provide a method for testing semiconductor devices, the method capable of measuring waveform without requiring a solder-connection.例文帳に追加

半田接続することなく波形測定が可能な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor device that ensures long-term reliability.例文帳に追加

長期信頼性を保障することができる半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shielding a cable inexpensively with excellent work efficiency.例文帳に追加

低コストで作業性よくケーブルをシールドすることのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN AND ITS DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor testing device using a sequence control circuit, capable of heightening operation speed.例文帳に追加

動作速度を高速化できるシーケンス制御回路を用いた半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device testing device including a power source unit to supply a low noise voltage.例文帳に追加

低ノイズ電圧を供給する電源ユニットを含む半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTERPOSER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF (SILICON INTERPOSER TESTING FOR THREE DIMENSIONAL CHIP STACK)例文帳に追加

半導体インターポーザ及びその製造方法（３次元チップ・スタックのためのシリコン・インターポーザのテスト） - 特許庁

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING RESISTANCE VALUE OF ON-DIE-TERMINATION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SAME例文帳に追加

オンダイターミネーション抵抗値テスト装置および方法、ならびに前記装置を有する半導体装置 - 特許庁

To reduce the power consumption of a semiconductor device to which a boundary scan testing circuit is mounted.例文帳に追加

バウンダリスキャンテスト回路を搭載した半導体装置の消費電力を軽減することにある。 - 特許庁

To provide a wire testing structure that determines open circuit and short circuit, in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造を提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WITH OUTPUT IMPEDANCE ADJUSTING CIRCUIT AND METHOD OF TESTING OUTPUT IMPEDANCE例文帳に追加

出力インピーダンス調節回路を備えた半導体装置及び出力インピーダンスの試験方法 - 特許庁

This testing method of a clock synchronization type semiconductor integrated circuit goes through the following steps.例文帳に追加

本発明は、クロック同期式の半導体集積回路のテスト方法であって、以下のステップを経る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING APPARATUS THEREOF AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路検査装置、及び半導体集積回路製造方法 - 特許庁

The deciding circuit of the above constitution can be used for a deciding circuit of a semiconductor testing apparatus.例文帳に追加

以上の構成の判定回路は、半導体試験装置の判定回路に用いることができる。 - 特許庁

COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM, LOGIC MODULE, AND SEMICONDUCTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、論理モジュール、ならびに半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

METHOD AND STRUCTURE FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER PRIOR TO EXECUTION OF FLIP CHIP BUMPING PROCESS例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE例文帳に追加

複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of creating summary data with a small-scale constitution.例文帳に追加

小規模な構成でサマリデータを作成することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード - 特許庁

Thereafter, the probe 9 can contact a testing pad of the semiconductor integrated circuit 5 well.例文帳に追加

その後、プローブ９は、半導体集積回路５のテスト用パッドに良好に接触することができる。 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE DEVICE USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法、このプローブ針を用いたプローブ装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, FERROELECTRIC STORAGE DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND METHOD OF TESTING FERROELECTRIC STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、強誘電体記憶装置、電子機器および強誘電体記憶装置の試験方法 - 特許庁

TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

タイミング調整回路及びこのタイミング調整回路を用いた半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

When testing the semiconductor circuit (1), input data are processed by the plurality of data processing sections (10).例文帳に追加

半導体回路（1）のテスト時において、入力データが複数のデータ処理部（10）で処理される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of performing accurate comparison processing in comparators.例文帳に追加

コンパレータにおける正確な比較処理を可能とする半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

To achieve a semiconductor circuit testing two kinds of resistors by possessing the small number of outside connection terminals.例文帳に追加

外部接続端子数の少ない、２種類の抵抗をテストする半導体回路を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of sufficiently testing a writing operation margin.例文帳に追加

十分に書込動作マージンのテストを行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage is provided with a memory cell array 2 having plural memory cells and a testing cell array 3 having plural testing cells, and the testing cells are connected to the memory cell array 2 with bit lines.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は複数のメモリセルを有するメモリセルアレイ２と複数のテスト用セルを有するテスト用セルアレイ３とを有し、メモリセルアレイにテスト用セルがビット線で接続されている。 - 特許庁

In this fatigue testing method of applying a load repeatingly onto a testing body 1 of the semiconductor, an elastic sheet 2 is arranged to bring a face of the elastic sheet 2 into contact with the testing body 1, and the load is applied onto a face of the testing body in an opposite side of the elastic sheet.例文帳に追加

半導体装置の試験体１に荷重を繰り返し負荷する疲労試験方法であって、試験体１に弾性板２の面が接触するように弾性板を配置して、弾性板の反対側の試験体の面に荷重を負荷する。 - 特許庁