「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten testing time by diagnosing units included in a semiconductor testing device to estimate a unit to be replaced.例文帳に追加

半導体試験装置に備えられるユニットの診断を行って、交換するユニットを推定することで、試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a low-power-consumption testing circuit that can reduce power consumption at the time of testing semiconductor devices by using scanning F/Fs.例文帳に追加

この発明は、スキャンＦ／Ｆを使用した半導体装置のテストにおいて、消費電力を低減した低消費電力テスト回路を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device of a semiconductor integrated circuit and its testing method capable of reducing a cost of a delay test between different clock domains.例文帳に追加

異なるクロックドメイン間のディレイテストのコストを低減することができる半導体集積回路の試験装置及びその試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加

集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 10 has a fail memory 15 for storing information on the fail data FD for indicating pass/fail obtained by testing a DUT 20.例文帳に追加

半導体試験装置１０は、ＤＵＴ２０を試験して得られるパス／フェイルを示すフェイルデータＦＤ情報を記憶するフェイルメモリ１５を備える。 - 特許庁

To achieve a semiconductor-testing device capable of grasping fail information of each DUT when connecting one pin to a plurality of DUTs for testing.例文帳に追加

１つのピンを複数のＤＵＴに接続して試験を行う際に各ＤＵＴのフェイル情報を把握可能な半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing apparatus that efficiently retrieves fail chips meeting the desired conditions and displays results of testing in an easy to view way.例文帳に追加

所望の条件と一致するフェイルチップを効率よく検索でき、その検索結果を見やすく表示できる半導体メモリ検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a synchronous semiconductor integrated circuit device for more rapidly testing than an external clock signal generated from a tester in a testing mode.例文帳に追加

テスト動作モードにおいてテスタ装置の生成する外部クロック信号よりも高速なテスト動作が可能な同期型半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The optical pulse testing device includes a plurality of semiconductor lasers (DFB-LD) as testing light sources, and makes output wavelengths of the DFB-LD 2-1 to 2-N mutually different.例文帳に追加

試験光源としての半導体レーザ（ＤＦＢ−ＬＤ）を複数備え、これらＤＦＢ−ＬＤ２−１〜２−Ｎの出力波長を互いに異ならせる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing method for testing a signal which is inputted or outputted in reality without requiring a reference sample.例文帳に追加

リファレンスサンプルを必要とすることなく、実際に入出力する信号の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor circuit testing tool provided with a testing electrode formed with precise shape and tip diameter and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

形状及び先端径が精度良く形成された検査電極を備えた半導体回路検査治具及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing test efficiency and convenience by reducing the time required to preparation for testing of tested devices.例文帳に追加

被試験デバイスの試験の準備に要する時間を削減することにより、試験効率及び利便性を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a semiconductor testing method capable of bringing all measurement terminals into contact with the terminal of a semiconductor device with a uniform contact pressure and capable of achieving reliable contact.例文帳に追加

本発明は、全ての測定端子を均一な接触圧で半導体装置の端子に接触させることができ、確実なコンタクトをとることのできる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having heightened reliability of a test result by testing many semiconductor devices loaded on a burn-in board without wrong determination.例文帳に追加

バーンインボード上に搭載される多数の半導体装置に対する試験を誤判定を生じることなく実施できるようにして、試験結果の信頼性を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a calibration technique of the semiconductor testing apparatus, correcting accidental errors due to dispersion of properties of a print circuit board and waveform distortion so as to make timing calibration at high speed.例文帳に追加

プリント基板の特性のばらつきや波形のなまりによる誤差を補正して高速にタイミング校正を行うことができる半導体試験装置および半導体試験装置の校正方法を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit tester capable of testing without replacing the tester even when number of semiconductor testing circuits is increased and dealing with a conventional tester.例文帳に追加

半導体試験回路の数が増加したとしても装置を取り替えることなく試験を行うことができるとともに、従来の装置にも対応することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of quickly and surely setting a control voltage so as to be within the power range of target value of an RF device and a semiconductor testing device using this method.例文帳に追加

本発明は、ＲＦデバイスの目標値のパワー範囲となるように、制御電圧を早く確実に設定できる半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a laminated layer CSP, which is capable of testing for every semiconductor chip at a low cost and has no restriction in a chip size.例文帳に追加

低コストで半導体チップ毎にテスト可能でチップサイズの制約のない積層ＣＳＰを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a method of inspecting a semiconductor device for testing contact resistance under the same conditions.例文帳に追加

接触抵抗が同じ条件でテストを行うことができる、半導体検査装置、及び半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

The test terminal is disposed on an unnecessary portion of the semiconductor wafer 10, and when testing the semiconductor wafer 10, a tester 20 is connected to the test terminal 14.例文帳に追加

テスト端子１４は、半導体ウェハ１０の不要部に設けられ、半導体ウェハ１０のテスト時においてテスタ２０が接続される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing computation efficiency of the device by making a using temperature of a semiconductor element proper.例文帳に追加

半導体素子の使用温度を適正化することにより装置の演算効率の向上ができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device comprising a scanning circuit which enables testing of a process monitor as well as semiconductor elements.例文帳に追加

半導体素子のみならず、プロセスモニタをも試験することができるスキャン回路を含む半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The semiconductor circuits 101 are set in test mode for testing the operation of the plurality of semiconductor circuits 101 by the setting circuits 102.例文帳に追加

設定回路１０２により、半導体回路１０１を、複数の半導体回路１０１の動作を試験する試験モードに設定する。 - 特許庁

A testing device 30 tests electrical characteristics of a solid-state imaging device as a semiconductor device formed in a semiconductor wafer 10.例文帳に追加

検査装置３０は、半導体ウエハ１０に形成された半導体デバイスとしての固体撮像素子の電気的特性を検査する。 - 特許庁

To provide automatic inspection equipment for semiconductor devices capable of highly accurately and efficiently testing a semiconductor device with a cable connected thereto.例文帳に追加

ケーブルが接続された半導体デバイスを高精度で効率良く検査することができる半導体デバイス自動検査装置を提供する。 - 特許庁

A data of a testing body part is converted into a data of a format along an MIB to be stored in an MIB database, using an MIB conversion part for conducting mutual conversion between the data of the testing body part for testing the quality of a semiconductor and the data of the format along the MIB, the semiconductor testing device is controlled using the SNMP.例文帳に追加

半導体の良否をテストするテスト本体部のデータとＭＩＢに沿った形式のデータとの相互変換を行うＭＩＢ変換部を用い、テスト本体部のデータをＭＩＢに沿った形式のデータに変換してＭＩＢデータベースに格納すると共に、ＳＮＭＰを用いて半導体テスト装置を管理できるようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which easily inputs into a semiconductor device, test information necessary for an operation test of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスである半導体装置の動作テストに必要なテスト情報を、容易に半導体装置に入力することのできる、半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a socket for a semiconductor integrated circuit in which appropriate contact pressure is applied to all external terminals of a semiconductor package when testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験時、半導体パッケージの全ての外部端子に適切な接触圧力が加わる半導体集積回路用ソケットを提供する。 - 特許庁

The testing board 520a of a semiconductor device includes a socket 510 connected to power source terminals BP1-BP4 of a semiconductor device 500 through socket pins 511, a force line FL connected to a force terminal TFP of a semiconductor testing device 530, and a sense line SL connected to a sense terminal TSP of the semiconductor testing device 530.例文帳に追加

半導体装置の試験用ボード５２０ａは、半導体装置５００の電源端子ＢＰ１〜ＢＰ４へとソケットピン５１１を介して接続されるソケット５１０、半導体試験装置５３０のフォース端子ＴＦＰへと接続されるフォースラインＦＬ及び半導体試験装置５３０のセンス端子ＴＳＰへと接続されるセンスラインＳＬを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus is verified whether the defective elopements are detected at an intended place.例文帳に追加

そして意図する位置で不良素子が検出されたかによって半導体試験装置の検証を行う。 - 特許庁

CONTROL CIRCUIT FOR DEVICE FOR OPENING AND CLOSING CONTACT, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP USING THE SAME例文帳に追加

接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁

A semiconductor inspection system 200 has a sorter 10, a detecting device 30 and a testing device 40.例文帳に追加

半導体検査システム２００は、分類装置１０と検出装置３０と試験装置４０とを有する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for removing and/or preventing surface contamination of a probe for testing a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハーのテスト用プローブの表面の汚染の除去や防止の方法と装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor element 30 is electrically connected to the pad 303 and the testing pad 903, respectively.例文帳に追加

半導体素子３０は、パッド３０３、テスト専用パッド９０３のそれぞれに電気的に接続される。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM FOR THE SAME, AND DIAGNOSIS METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置の診断プログラムおよび半導体試験装置の診断方法 - 特許庁

To provide a device for testing an element which improves productivity of a semiconductor device and attains cost reduction thereof.例文帳に追加

半導体装置の生産性を向上させ、低コスト化を実現する素子試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory for easily testing a DRAM of a cache DRAM.例文帳に追加

キャッシュＤＲＡＭにおけるＤＲＡＭ部のテストを容易に行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a method for a semiconductor integrated circuit having high practicality and versatility.例文帳に追加

より実用的且つ汎用性の高い半導体集積回路のテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁

COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁

To obtain an apparatus for testing a semiconductor integrated circuit, capable of specifying a detailed trouble place.例文帳に追加

詳細な故障箇所を特定することを可能にする半導体集積回路のテスト装置を得ること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, CALIBRATION METHOD FOR IT, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路試験装置、半導体集積回路試験装置の校正方法及び記録媒体 - 特許庁

To provide a means for improving contact reliability in the probe testing of a semiconductor integrated circuit wafer.例文帳に追加

半導体集積回路ウエハのプローブ試験における接触信頼性を向上させる手段の提供。 - 特許庁