「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.例文帳に追加

本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁

To provide a controlling method and an apparatus for a probe-tip sanding of a semiconductor-element testing apparatus.例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置を提供するにある。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device comprises the semiconductor elements (203, 207), the scanning circuit (220) connectable to the semiconductor elements (203, 207) for testing the performance thereof, and the process monitor (PM) which is arranged in a path subjected to the testing by the scanning circuit (220).例文帳に追加

半導体素子（２０３，２０７）と、半導体素子に接続可能であり、半導体素子の機能を試験するためのスキャン回路（２２０）と、スキャン回路が試験を行うパス中に設けられるプロセスモニタ（ＰＭ）とを有する半導体装置が提供される。 - 特許庁

The semiconductor-testing apparatus that is requested to generate a timing edge pulse of a period M that is different from a period N that is the testing period of the semiconductor-testing apparatus has a period- converting means for generating a timing edge pulse of a period M that is different from a period N of a test rate without applying a specific number of plurality of timing sets that the semiconductor-testing apparatus has.例文帳に追加

半導体試験装置の試験周期である周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスの発生を行うことが求められる半導体試験装置において、半導体試験装置が備える所定複数個のタイミングセットを適用すること無く、テストレートの周期Ｎとは異なる異周期Ｍのタイミングエッジパルスが発生できる周期変換手段を備える、半導体試験装置。 - 特許庁

To reduce the number of driving power supplies of IGBT in a semiconductor device of a three level inverter circuit to enable testing of the semiconductor device.例文帳に追加

３レベルインバータ回路の半導体装置におけるＩＧＢＴの駆動電源数を減らし、かつ半導体装置の試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a simulator for a semiconductor test device to allow maintenance for a soft ware used in a semiconductor testing system even when no actual equipment exists.例文帳に追加

実機がなくとも半導体試験システムで使用されるソフトウェアの保守を可能とする半導体試験装置用シミュレータを提供する。 - 特許庁

To obtain a much information on a semiconductor device determined as a defective, in a burn-in testing device for executing heating test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを加熱試験するバーンイン試験装置において、不良品と判定された半導体デバイスについて多くの情報を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing apparatus for shortening a time required for retrieving a singular cell such as a defective cell or the like included in a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリに含まれる不良セル等の特異セルの検索に要する時間を短縮できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING IT, AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WHERE SCAN TEST CIRCUIT IS MOUNTED例文帳に追加

スキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.例文帳に追加

単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing method enabling easy test with a good reproducibility even if a semiconductor chip has a warp.例文帳に追加

半導体チップが反りを生じていても再現性よく、かつ、簡便にテストを実施することができる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device failure analysis system that displays a fail bit map speedily so as to prevent increase in the cost of semiconductor device testing.例文帳に追加

フェイルビットマップを速やかに表示し、半導体装置の検査コストの増大を防止できる半導体装置の不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which activates power gating function, at the normal operation, and effectively activates a testing function at testing.例文帳に追加

本発明は、通常動作時にはパワーゲーティング機能が動作するとともに、試験時には試験機能が有効に動作する半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing arrangement and testing method for semiconductor device capable of easily conducting strength evaluation of electromagnetic sensitivity of an LSI simple body against an electric wave.例文帳に追加

電波に対するＬＳＩ単体の電磁感受性の強度評価を容易に行うことができる半導体装置の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device to be tested is mounted on a socket installed on a board of a burn-in testing apparatus and a voltage is applied to the semiconductor device while increasing the voltage up to a maximum testing voltage Vm in a stepped manner.例文帳に追加

バーンイン試験装置のボードに設けられたソケットに、試験対象の半導体装置を装着し、その半導体装置に対し、電圧を最大試験電圧Ｖｍまでステップ状に上昇させて印加していく。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor integrated circuits in parallel, whose outputs in test results become a synchronized with each other, even if identical test patterns are simultaneously input in it.例文帳に追加

同じテストパタ−ンを同時に入力してもテスト結果の出力が相互に非同期となる複数の半導体集積回路を同時に並列的にテスト可能な半導体集積回路のテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a relay diagnosis device and a semiconductor testing device, capable of estimating the individual replacement time of each relay that constitutes a semiconductor testing circuit, with high reliability, and of reducing the maintenance cost.例文帳に追加

半導体試験回路を構成するリレー１個毎の個別の交換時期を高い信憑性をもって推定することができ、保守費用を低減化できるリレー診断装置及半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To enhance testing accuracy by sufficiently and uniformly releasing heat generated by semiconductor elements during aging test and to improve the mounting efficiency of the semiconductor elements by reducing the size of testing jigs and increasing the number of the testing jigs to be stored in a constant-temperature tank.例文帳に追加

本発明は、エージング試験に伴い半導体素子から発生する熱を十分、且つ均一に放熱させて、試験精度を高めると共に、試験用治具を小型化して恒温槽に収容できる試験用治具の数を増加させ、半導体素子の実装効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor chip with a small chip area and a semiconductor wafer used for manufacturing the semiconductor chip which can prevent a short circuit between probes.例文帳に追加

プローブ針同士の短絡を抑制でき、かつ小さいチップ面積を有する半導体チップと、この半導体チップの製造に用いられる半導体ウエハのテスト方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for transferring a semiconductor device between trays used for testing the semiconductor device, by using a buffer tray for storing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を収納するためのバッファトレイを用いて前記半導体装置をテストするために用いられるトレイの間で、前記半導体装置を移送する方法と装置が開示される。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

This method makes it possible to determine whether to assemble a semiconductor device using the semiconductor element 11 based on the testing result of the electric characteristics of the distorted semiconductor element 11, and to reduce production cost of the semiconductor device.例文帳に追加

歪曲した半導体素子１１の電気特性の試験結果に基づいて、当該半導体素子１１を半導体装置に組み立てるか否かを判断できるようになり、半導体装置の製造コストが低減する。 - 特許庁

To shorten a semiconductor measurement time in a semiconductor measurement device used in a semiconductor product inspection process testing electric characteristics of a semiconductor, a break in a wire, and the like, for example.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体の電気的特性、断線等を検査する半導体製品検査工程において使用される半導体測定装置に関し、半導体測定時間の短縮を図ることが課題である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of securing reliability to rated voltage of a semiconductor without thermal runaway of the semiconductor in a reliability test where voltage is applied in the reverse direction of semiconductor having pn junction.例文帳に追加

ｐｎ接合を有する半導体の逆方向に電圧を印加する信頼性試験において、該半導体を熱暴走させることなく半導体の定格電圧に対する信頼性を保証できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating such a factor that a contact force between a pad of a semiconductor device and a probe of a tester is changed concerning a method for manufacturing the semiconductor device, a method for testing the semiconductor device, the tester of the semiconductor device, and the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置に関し、半導体装置のパッドと試験装置のプローブとの接触力が変化した要因を推定する方法の提供。 - 特許庁

The semiconductor wafer 200 comprises a plurality of semiconductor chip regions 220 including the ferroelectric memory device 100, a chip region 210 for testing, and circuits 230, 240 for connecting the plurality of semiconductor chip regions 220 to the chip region 210 for testing.例文帳に追加

本発明の半導体ウエハ２００は、強誘電体メモリ装置１００を含む複数の半導体チップ領域２２０と、試験用チップ領域２１０と、複数の半導体チップ領域２２０と試験用チップ領域２１０とを接続する配線２３０，２４０と、を含む。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1, a redundancy system 20 for performing redundancy computation using a test result of a semiconductor device, and an instantaneous interruption detection device 30 for detecting the instantaneous interruption which occurs in a bus B.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０と、バスＢで生ずる瞬低を検出する瞬低検出装置３０とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor devices, when the timing of a test pattern signal applied on a specied pin by each semiconductor device to be tested must be selected to timing which is suitable for each device.例文帳に追加

被試験半導体デバイス毎に特定のピンに印加する試験パターン信号のタイミングを各デバイスに適したタイミングに選定しなければならない場合に、複数の半導体デバイスを同時に試験することを可能にした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve, for use in probe testing of semiconductor devices, a reduction of the number of probe needles to the necessary minimum and power supply margins for the semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置のプローブ試験で、プローブ針の数を必要最小限にすることと、半導体装置への電力供給マージンを提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit which generates test pattern data and writes the test pattern data into the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体集積回路の試験装置が試験パタンデータを生成して半導体集積回路へ書き込むことを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing a plurality of built-in semiconductor chips in parallel by using only a part of data input/output terminals.例文帳に追加

一部のデータ入出力端子のみを用いて内蔵された複数の半導体チップを並列にテストすることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.例文帳に追加

信頼性の高い半導体デバイスの良品／不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The second substrate 2 has on a second surface 22 a second semiconductor chip 30 and a second test point 25 for testing the second semiconductor chip 30.例文帳に追加

また、第２基板の第２表面２２には、第２半導体チップ３０と、この第２半導体チップ３０をテストするための第２テストポイント２５とが形成されている。 - 特許庁

To provide a word line driving device for easily detecting a defective word line, a semiconductor memory device including the same, and a method for testing the semiconductor memory device.例文帳に追加

ワードラインの不良検出を容易にするためのワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.例文帳に追加

半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁

To easily debug a program for testing a semiconductor for a semiconductor device operating, based on packet data such as a packet transfer type memory device.例文帳に追加

パケット転送型メモリデバイスのようにパケットデータに基づいて動作する半導体デバイスに対する半導体試験用プログラムを容易にデバッグできるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MOUNTING STRUCTURE, ITS MOUNTING METHOD, ITS TESTING METHOD, ITS QUALITY DISPLAYING METHOD, ITS TRANSPORTING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、その実装構造、その実装方法、その試験方法、その品質表示方法、その運搬方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

The high production or cost reduction of the semiconductor device is attained by performing an element test of the semiconductor element 20 with this element testing device 1.例文帳に追加

このような素子試験装置１を用いて、半導体素子２０の素子試験を行うことにより、半導体装置の高生産または低コスト化が実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device capable of measuring electric characteristics of a semiconductor device having many electrodes and operated in a high frequency.例文帳に追加

多数の電極を有し、高周波で動作する半導体デバイスの電気特性の測定が行える半導体デバイス試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system capable of saving the trouble of collecting input-output waveforms and fail information from semiconductor devices.例文帳に追加

半導体デバイスの入出力波形やフェイル情報の収集に要する手間を低減することができる半導体試験システムを提供すること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor testing apparatus which shortens the time required for judging whether the defective bit of a semiconductor memory can be relieved or not and which reduces the memory capacity of a defective-bit storage memory.例文帳に追加

半導体メモリの不良ビット救済可否判定に要する時間を短縮しかつ不良ビット記憶メモリの記憶容量を低減する。 - 特許庁

To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step.例文帳に追加

検査工程において高精度な試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁