「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a memory test device for testing setup time Tds and hold time Tdh of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのセットアップ・タイムＴｄｓとホールド・タイムＴｄｈを試験するメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS METHOD AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING AND METHOD FOR ADJUSTING TEST VECTOR ADDRESS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置とその試験方法、タイミング調整方法、テストベクタアドレス調整方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing crossing of a connection line for connecting to DUT.例文帳に追加

ＤＵＴとの間を接続する接続線の交差を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of further improving the operation efficiency of a testing device.例文帳に追加

試験装置の稼動効率をより向上させることのできる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily and speedily detecting a glitch which appears in a test signal.例文帳に追加

試験信号に現れるグリッジを容易かつ迅速に検出可能な半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a calibration method for a semiconductor testing apparatus capable of obtaining handleability and high measuring accuracy.例文帳に追加

良い使い勝手が得られ、また高い測定精度が得られる半導体試験装置の校正方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF FORMING AUXILIARY CIRCUIT FOR TESTING THE SAME, AND TEST VECTOR CONVERTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置およびその試験用補助回路の生成方法およびそのテストベクタ変換方法 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory for testing bit-line leakage with high precision in a short time period.例文帳に追加

ビット線リークを短時間で精度良くテストすることができる不揮発性半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device capable of measuring noise quantity without directly observing inside noise.例文帳に追加

内部のノイズを直接観察しなくてもノイズ量を測定できる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a comparator of a high operation speed with low fluctuation of a leak current.例文帳に追加

動作速度が速く、リーク電流の変動が小さいコンパレータを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of improving the testing efficiency by shortening the time in wasteful standby state.例文帳に追加

無駄な待機状態を短縮することによりテスト効率を改善できる半導体テストシステムを実現すること。 - 特許庁

RELAY LIFETIME PREDICTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROGRAM THEREFOR, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED例文帳に追加

半導体試験装置のリレー寿命予測システム及びそのプログラム並びにそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a device for testing temperature change which can suitably perform a test for temperature change in a semiconductor chip.例文帳に追加

好適に半導体チップの温度変化試験を行うことができる温度変化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of adjusting or testing a phase difference of signals with high accuracy and simply.例文帳に追加

信号の位相差の調整又はテストを高精度且つ簡略に行える半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of performing changeover of a testing mode, in a short time.例文帳に追加

本発明は、試験モードの切り替えを短時間で実行可能な半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method of forming a semiconductor which allows skipping steps of repeatedly performing and halting etching and testing.例文帳に追加

エッチング、試験を繰り返し停止、実行する工程を省略可能とする半導体の形成方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.例文帳に追加

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a timing regulation circuit for fine delay resolution suitable for a semiconductor testing device using an FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡを用いて半導体試験装置に適した細かい遅延分解能のタイミング調整回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test chamber capable of testing a semiconductor device efficiently under a more accurate temperature condition.例文帳に追加

半導体デバイスをより正確な温度条件の下で、効率的に試験することができるテストチャンバを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for efficiently adjusting the voltage values outputted from power supply sections.例文帳に追加

電源部から出力される電圧値を効率よく調整することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of simultaneously performing a function test and a power supply voltage test.例文帳に追加

ファンクションテストと電源電圧試験とを同時に行うことの可能な半導体装置方法を提供する。 - 特許庁

Signals c1 to c5 which are generated as a result are integrated so as to form the output signal C1 of the semiconductor testing apparatus.例文帳に追加

その結果生成される信号ｃ１〜ｃ５を統合して半導体テスト装置の出力信号Ｃ１とする。 - 特許庁

The semiconductor tester 10 inputs a corrected testing signal into the circuit block having one earth terminal.例文帳に追加

半導体テスタ１０は、補正されたテスト信号を上記１つの接地端子を有する回路ブロックに入力する。 - 特許庁

A plurality of adsorbing holes 14 is prepared on a mounting surface of a testing jig substrate 13 wherein a semiconductor device 11 is loaded.例文帳に追加

半導体装置１１が載置される検査治具基板１３の載置面に複数の吸着口１４を設ける。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 is provided with a tester processor 100, a tester main body 20, and a test head 30.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、テスタプロセッサ１０、テスタ本体２０、テストヘッド３０を含んで構成されている。 - 特許庁

To provide a method for reclaiming a test substrate that has been used for testing a semiconductor manufacturing tool.例文帳に追加

半導体製造ツールをテストするために使用されたテスト基板が各々のテスト基板を再生利用すること。 - 特許庁

By using the element testing arrangement 1 thus constituted, production enhancement or cost reduction of the semiconductor element 20 is attained.例文帳に追加

この様な素子試験装置１を用いれば、半導体素子２０の高生産または低コスト化が実現する。 - 特許庁

To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.例文帳に追加

複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.例文帳に追加

そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package equipped with an electrode pad which serves as an effective stopper when forming a through-hole electrode in a semiconductor substrate and contributes to successful testing in a testing process such as the Die Sort test.例文帳に追加

半導体基板に貫通電極を形成する際に良好なストッパーとして働き、さらにダイソート等のテスト工程においても良好なテストを行うことができる電極パッドを備えた半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing semiconductor integrated circuits capable of easily tracking down, at low cost and in a short time, the causes of malfunction which occurs in a wave-shaping part provided for the apparatus for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置が備える波形整形部において生ずる不具合の原因究明を短時間で容易に且つ低コストで行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate for testing of a semiconductor integrated circuit capable of drawing out wirings to external connection terminals, even if the number of electrodes of a wafer level CSP in a state of a wafer is huge, and to provide a semiconductor integrated circuit testing system using the same.例文帳に追加

ウェーハ状態のウェーハレベルＣＳＰの電極の数が膨大であっても外部接続端子への引き出しが可能な半導体集積回路試験用基板、およびそれを用いた半導体集積回路試験システムを提供する - 特許庁

To provide a probe card capable of performing a testing process of a plurality of semiconductor elements (for instance, 4 elements) with same performance as that when one element is tested to a plurality of semiconductor elements formed on a semiconductor substrate; and to provide a testing method thereof.例文帳に追加

本発明によれば、一つの半導体基板に形成された複数個の半導体素子に対し、１個測定の場合と同等の性能をもって、複数個（例えば４個）同時に試験処理を行うことができるプローブカード及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, its testing method and design method with which it can be decided whether or not the semiconductor device is defective or a test mode controller is defective, when the test result of the semiconductor device fails and by which testing time can be shortened and the yield be improved.例文帳に追加

半導体装置のテストが不合格の場合、半導体装置の故障なのか、テストモード制御装置が故障であったのかを判別することができ、またテスト時間の短縮と歩留りの向上を図ることができる半導体装置、そのテスト方法および設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.例文帳に追加

半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of achieving self-diagnosis function in a state where a DUT is connected to the testing device, without greatly increasing a substrate surface or component cost.例文帳に追加

基板面積や部品コストを大幅に増大させることなく、試験装置にＤＵＴを接続させたまま自己診断機能を実現することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a type-switching method capable of shortening a type switching operation time of a device, in testing of the semiconductor device under a low-temperature environment.例文帳に追加

低温環境下での半導体デバイスの試験における該デバイスの品種切替作業時間を短縮させることができる試験装置及び品種切替方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a total testing period by carrying out a determination processing at a side of measurement module rather than conventionally at a side of control device.例文帳に追加

従来は制御装置側で行なっていた判定処理を計測モジュール側で行なえるようにして、トータルのテスト時間を短縮できるようにした半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method capable of testing the semiconductor storage device, which inputs an external command and an external address together en bloc very efficiently with high precision.例文帳に追加

外部コマンド及び外部アドレスを一括して取り込む半導体記憶装置ついて非常に効率がよくしかも精度の高い試験を行うことができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁