「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor wafer having self-shielding capability, and to provide a testing method of the wafer.例文帳に追加

自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハおよびそれのテスト方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRIC-POWER CAPACITY SETTING METHOD, POWER SUPPLY DEVICE, AND POWER SUPPLY DEVICE FOR SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

電力容量設定方法、電源装置、半導体デバイス試験装置用電源装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can improve the testing accuracy of an MCP.例文帳に追加

ＭＣＰの試験精度を向上させることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for reducing power consumption at testing.例文帳に追加

本発明は、テスト時における消費電力を小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the testing time of the wafer of a semiconductor device.例文帳に追加

この発明は、半導体装置のウェハ・テスト時間の短縮を図ることを特徴とする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING POWER SUPPLY VARIATION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路の電源変動検証装置及び方法並びにそのプログラム - 特許庁

To abridge setup time of a semiconductor testing device, and abridge its measurement and evaluation time.例文帳に追加

半導体テスト装置のセットアップ時間を短縮し、その測定・評価時間を短くする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of taking large-capacity failure data.例文帳に追加

大容量のフェイルデータを取り込むことを可能にする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

WORD LINE DRIVING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE INCLUDING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

ワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法 - 特許庁

IMPACT TEST METHOD, IMPACT TESTING DEVICE AND RELIABILITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法、衝撃試験装置および半導体装置の信頼性評価方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND APPARATUS FOR INSPECTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト方法、および半導体集積回路装置の検査装置 - 特許庁

TESTING SOCKET, MANUFACTURING METHOD OF CONTACT TERMINAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

テスト用ソケット、接触端子の製造方法、並びに、半導体装置およびその製造方法 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING ELECTRIC POWER SOURCE FOR DEVICE IN SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE, AND ELECTRIC POWER SOURCE UNIT FOR DEVICE THEREIN例文帳に追加

半導体試験装置のデバイス用電源制御方法及びデバイス用電源装置 - 特許庁

To provide a flip-chip semiconductor package for testing bumps, and to provide a mothod of manufacturing the same.例文帳に追加

バンプテストのためのフリップチップ半導体パッケージ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate testing and adjustment after an optical semiconductor package is hermetically sealed.例文帳に追加

光半導体パッケージを密封封止した後のテストや調整を容易に行えるようにする。 - 特許庁

PICTURE PROCESSING METHOD AND DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

画像処理方法、画像処理装置およびそれらを用いた半導体デバイス試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens pattern-data loading time.例文帳に追加

パターンデータのロード時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH PROCESS MONITOR CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

プロセスモニタ回路を備えた半導体装置、その試験方法、並びにその製造方法 - 特許庁

This invention relates to a method for testing constitution elements of a semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、半導体メモリー構成要素の試験のための方法に関するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving cost reduction and timing precision.例文帳に追加

コスト削減及びタイミング精度の向上が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

METHOD OF CLEANING NEEDLE TIP OF PROBE CARD, WAFER-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, DATA RECORDING MEDIUM例文帳に追加

プローブカードの針先クリーニング方法，半導体装置のウエハ検査装置，データ記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路およびその検査方法、半導体集積回路の調整方法 - 特許庁

Then, the overcurrent detection result of the semiconductor device is outputted to testing equipment.例文帳に追加

そして、半導体装置に対する過電流検出結果をテスト装備に出力する。 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

To provide a method for testing the effectiveness of ion implantation in a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハにおけるイオン注入の有効性をテストする方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of logic comparators is provided in this instrument for testing the semiconductor circuit for receiving the output data from the tested semiconductor circuit.例文帳に追加

被試験半導体回路からの出力データを受ける半導体回路試験装置に複数の論理比較器を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip test socket, in particular, suitable for testing a bare chip, in the semiconductor chip test socket easy to be handled and operated surely.例文帳に追加

扱いやすく動作確実な半導体チップテストソケットであって、特にベアチップのテストに好適なものを提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING METHOD FOR THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD USED FOR BURN-IN STRESS AND D/S例文帳に追加

半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、バーインストレス＆Ｄ／Ｓに用いられるプローブカード - 特許庁

A semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 3, which is an object to be tested, for predetermined electric characteristics.例文帳に追加

半導体試験装置１は、試験対象物の半導体装置３について所定の電気的特性のテストを行う。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing device which uses a semiconductor relay for switching signal generators.例文帳に追加

信号発生器の切り換えに、半導体リレーを用いることができる半導体検査装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing a margin concerning a read operation in a short testing period of time even when a keeper circuit is connected to a bit line, and also to provide a testing method thereof.例文帳に追加

ビット線にキーパー回路を接続しても、読み出し動作に関するマージンを短いテスト時間で検査することのできる半導体記憶装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.例文帳に追加

テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.例文帳に追加

外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To separately control and test semiconductor devices under test in a semiconductor device tester for testing the semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの試験を行う半導体デバイス試験装置において、試験の対象となる半導体デバイスを個々に制御し、試験できるようにする。 - 特許庁

This semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 40 based on a signal acquired by applying test signals S1-Sn to the semiconductor device 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体デバイス４０に試験信号Ｓ１〜Ｓｎを印加して得られる信号に基づいて半導体デバイス４０の試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor module capable of testing with high accuracy the connecting state of an internal connection between semiconductor devices, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置間の内部結線の接続状態をより高精度に試験することが可能な半導体モジュールおよび半導体装置を提供すること。 - 特許庁

When simultaneously testing a plurality of semiconductor memories, operation of a defective semiconductor memory is prevented from affecting the tests of the other semiconductor memories.例文帳に追加

複数の半導体メモリを同時に試験するときに、正常に動作しない半導体メモリの動作が他の半導体メモリの試験に影響することを防止できる。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing a self-heating semiconductor comprises a temperature sensor for measuring the temperature of the semiconductor and a temperature control means for controlling the flow of a cooling medium blown on the semiconductor, on the basis of the measured value of the temperature and the upper-limit temperature of the semiconductor allowed in the testing environment.例文帳に追加

自己発熱する半導体を試験する半導体試験装置において、 前記半導体の温度を測定する温度センサと、 前記温度の測定値と試験環境において許容される前記半導体の上限温度に基づいて前記半導体に吹き付ける冷却媒体の流量を制御する温度調節手段と、を備える。 - 特許庁

To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.例文帳に追加

高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of testing a semiconductor device outputting a reference clock DQS, used for data delivery, simultaneously to data reading, with high accuracy in a short period.例文帳に追加

データの読み出しに同期してデータの受渡しに利用される基準クロックＤＱＳを出力する半導体デバイスを短時間に高精度に試験する試験方法を提案する。 - 特許庁