「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TIMING CALIBRATION OF THE SAME例文帳に追加

半導体デバイス試験装置のタイミング校正方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING D/A CONVERTING PART AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

ＤＡ変換部の試験装置、試験方法、及び半導体集積回路装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE CARD, PROBE DEVICE AND PROBE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその製造方法、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT, TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト回路の解析方法、テスト装置、および半導体集積回路装置 - 特許庁

To provide a RAM bus handler capable of automatically testing a RAM bus type semiconductor device.例文帳に追加

RAMバス型の半導体ディバイスを自動でテストできるRAMバスハンドラを提供する。 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

SEQUENCE CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME CIRCUIT例文帳に追加

シーケンス回路及び当該回路を備える半導体集積回路試験装置 - 特許庁

PROBE CARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MANUFACTURE OF THIS PROBE CARD例文帳に追加

半導体集積回路テスト用のプローブカードおよびこのプローブカードの製造方法 - 特許庁

LINEARIZATION METHOD OF VARIABLE DELAY CIRCUIT, TIMING GENERATOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路の線形化方法、タイミング発生器及び半導体試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of shortening time for development of the semiconductor device, and to provide a method of testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の開発時間を短縮することができる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit (IC) capable of testing the IC simply and quickly without developing a specific outer testing device for testing a digital circuit of the IC, and to provide a method of manufacturing the IC using the testing device.例文帳に追加

半導体集積回路のディジタル回路の試験を、特別な外部試験機を開発することなしに、簡単に、しかも迅速に実行できる半導体集積回路の試験装置と、それを使用する半導体集積回路の製造方法を提案する。 - 特許庁

To prevent excessive defect determination from being caused by a defect of a testing device itself built in a semiconductor device having a built-in testing function.例文帳に追加

内蔵試験機能を有する半導体装置の内蔵試験機能自体の不良による過剰な不良判定を防止する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing circuit which can set the test mode in a short time and moreover reduce the testing time.例文帳に追加

テストモードを短時間に設定でき、しかも、テスト時間を短縮することを可能にした半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time.例文帳に追加

電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of improving testing efficiency by reducing the analysis time of fail data.例文帳に追加

フェイルデータの解析時間を短縮することで、試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROGRAM FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路試験用プログラムのデバッグ方法及び装置並びに半導体集積回路試験用プログラムのデバッグプログラム - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device test unit which is suitable for testing a three-dimensional semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

３次元半導体集積回路装置に好適な半導体集積回路装置のテスト装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁

POWER SUPPLYING METHOD UPON TESTING IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CAD SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路における試験時の電源供給方法および半導体集積回路用ＣＡＤシステム - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit-testing apparatus and a semiconductor integrated circuit-testing method for quickly and efficiently testing a semiconductor integrated circuit where analog and digital circuits are mixed, and hence for reducing costs required for the test.例文帳に追加

アナログ回路とディジタル回路とが混在する半導体集積回路を短時間で効率良く試験することができ、その結果として試験に要するコストを低減することができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of terminals on a testing device which are to be assigned for chip selection terminals in testing all semiconductor chips on a laminated type semiconductor device.例文帳に追加

積層型半導体装置における全ての半導体チップのテストを行うにあたり、テスト装置側でチップ選択端子に対して割り当てるべき端子数を削減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device that can use a reference comparator having a simple structure and can reduce costs, and to provide a method for calibrating the semiconductor-testing device.例文帳に追加

簡易な構造を有する基準コンパレータを使用することができ、コスト低減が可能な半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of preventive maintenance for semiconductor testing apparatus allowing maintenance before the occurrence of any trouble, and a semiconductor testing apparatus having a preventive maintenance function.例文帳に追加

本発明は、不具合が発生する前に保守ができる半導体試験装置の予防保守方法と、その予防保守機能を有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

SAMPLING DIGITIZER AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE PROVIDED WITH THE SAMPLING DIGITIZER例文帳に追加

サンプリングデジタイザ及びこのサンプリングデジタイザを備えた半導体集積回路試験装置 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus which is capable of improving user-friendliness.例文帳に追加

ユーザの使い勝手を向上することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。 - 特許庁

METHOD FOR FITTING SPRING ELEMENT ONTO SEMICONDUCTOR DEVICE AND FOR TESTING WAFER LEVEL例文帳に追加

半導体デバイス上へのばね要素の取り付け、及びウエハレベルのテストを行う方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing the erroneous connection of a function block.例文帳に追加

機能ブロックの誤接続を防止できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

CONTROLLING METHOD AND APPARATUS FOR PROBE-TIP SANDING OF SEMICONDUCTOR-ELEMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

To provide a pogo pin and a contactor for semiconductor element testing that is equipped with the pogo pin.例文帳に追加

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクターを提供する。 - 特許庁

DELAY CIRCUIT, TESTING DEVICE, PROGRAM, SEMICONDUCTOR CHIP, INITIALIZATION METHOD, AND INITIALIZATION CIRCUIT例文帳に追加

遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for scan-testing a path to a macro-block.例文帳に追加

マクロブロックまでのパスをスキャンテストする半導体集積回路を提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, RECORDING MEDIUM, TEST DATA GENERATING APPARATUS, AND LSI TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体集積回路、記録媒体、テストデータ生成装置およびＬＳＩ試験装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which achieves speed up of a testing operation.例文帳に追加

テスト動作の高速化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a testing device body 10 for testing a DUT 40, and a signal waveform display device 20 for displaying a signal waveform acquired by a test performed by the testing device body 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ４０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０によって行われた試験で得られた信号の波形を表示する信号波形表示装置２０とを備える。 - 特許庁

To provide a data transfer circuit and a semiconductor testing device equipped therewith which are capable of significantly reducing the waiting time during the semiconductor testing, and performing arithmetic operation processings on the data for testing which are now measured during the testing period.例文帳に追加

本発明は、半導体試験における待ち時間を大幅に削減し、かつ試験中に現在測定している試験のデータの演算処理を行うことができるデータ転送回路、およびこれを備えた半導体試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory element and a semiconductor memory device that are designed for shortening the time necessary for testing a plurality of semiconductor memory elements.例文帳に追加

複数の半導体記憶素子の試験に要する時間の短縮を図った半導体記憶素子および半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing mismatch of impedance due to a contactor of a socket, its testing device, and a testing method using it.例文帳に追加

ソケットのコンタクタによるインピータンスのミスマッチを防ぐ半導体装置及びそのテスト装置及びそれを用いるテスト方法を得ることである。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus and its testing method for testing a circuit block (IP) at a high speed, using few external terminals.例文帳に追加

少ない外部端子を用いて高速に回路ブロック（ＩＰ）をテストすることができる半導体装置およびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

To enable a power source short circuit testing to be performed, without having to provide a testing pad in a semiconductor device having power shutdown function.例文帳に追加

電源遮断機能を有する半導体装置において試験用パッドを設けることなく電源ショート試験の実施を可能にする。 - 特許庁

To prevent conduction failure between a testing device (probe needle) for a vertical testing device and a semiconductor chip (electrode pad), or dispersion of a contact resistance.例文帳に追加

垂直式試験装置の試験装置（プローブ針）と半導体チップ（電極パッド）との導通不良や、接触抵抗のバラツキを防止する。 - 特許庁