「semiconductor testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

CURRENT-VOLTAGE AMPLIFIER CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

電流電圧増幅回路および半導体試験装置 - 特許庁

PROBE CARD AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法および装置 - 特許庁

PROBE CARD AND APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プローブカード、半導体ウェハの試験装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND INTERFACE PLATE例文帳に追加

半導体試験装置、パフォーマンスボードおよびインターフェースプレート - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR BUMP ELECTRODE例文帳に追加

半導体バンプ電極の試験方法および試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS PHASE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその位相テスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND IC TESTER OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタ - 特許庁

DESIGNING AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の設計方法及びテスト方法 - 特許庁

DRIVER WAVEFORM GENERATION CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置におけるドライバ波形生成回路 - 特許庁

To reduce a testing time of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROBE NEEDLE THEREOF, AND PLATE OF SEMICONDUCTOR LASER TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体レーザ試験装置のプローブ針および半導体レーザ試験装置のプレートならびに半導体レーザ試験装置 - 特許庁

TEST-CONDITION DATA GENERATING METHOD AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR-WAFER VISUAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体ウエーハ外観検査装置の検査条件データ生成方法及び検査システム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING WAVELENGTH VARIABLE SEMICONDUCTOR LASER, AND METHOD FOR TESTING COHERENT LIGHT SOURCE例文帳に追加

波長可変半導体レーザの検査方法及び検査装置、コヒーレント光源の検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit, a probe card, and a testing method of the semiconductor integrated circuit that can make the testing of the semiconductor integrated circuit performed at a low cost.例文帳に追加

試験を低コスト化できる半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法を実現する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の試験方法、および半導体集積回路パッケージ - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE OR MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置または半導体装置の検査方法または半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR BURN-IN TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバーイン試験方法、バーイン試験装置および半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD OF TESTING PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、プローブカード及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁

To provide a pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, a substrate having a semiconductor device, a method of testing the semiconductor device and a tester for testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターを提供する。 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY SIGNAL OUTPUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

高周波信号出力試験方法および半導体装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC INFORMATION APPARATUS例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法、電子情報機器 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE OPERATION例文帳に追加

半導体装置の動作試験装置および動作試験方法 - 特許庁

BURN-IN TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATION CIRCUIT, AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路のバーインテスト回路およびその方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板試験装置および半導体基板試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC EQUIPMENT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電子機器の試験方法、電子機器、及び、半導体装置 - 特許庁

LEAK CURRENT TESTER AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のリーク電流検査装置および検査方法 - 特許庁

JITTER MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

ジッタ測定装置及び半導体集積回路試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD, AND SOCKET AND SEMICONDUCTOR USED THEREFOR例文帳に追加

テスト方法及びそれに用いるソケット及び半導体装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE DURING PROCESSING例文帳に追加

半導体製造工程におけるテスト装置およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND REDUNDANCY RELIEF JUDGING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および冗長救済判定方法 - 特許庁

EQUIPMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

データ処理装置およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験システムおよびその試験方法 - 特許庁

PROBER AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の検査システム、検査方法、及び検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a control circuit for a contact opening and closing device, and a semiconductor chip testing system and a semiconductor chip testing method using the control circuit.例文帳に追加

接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electric channel self-inspection semiconductor testing system.例文帳に追加

電気チャネル自己検査式半導体試験システムの提供。 - 特許庁

OSCILLATION CIRCUIT, PLL CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

発振回路、ＰＬＬ回路、半導体チップ、および、試験装置 - 特許庁