「specifying method」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR SPECIFYING SHORT CIRCUIT PART IN ELECTRIC CIRCUIT例文帳に追加

電気回路における短絡箇所特定方法 - 特許庁

SPECIFYING METHOD ACCORDING TO LEAD ISOTOPE RATIO SUCH AS SMUTS例文帳に追加

煤塵等の鉛同位体比による特定法 - 特許庁

IMAGING DEVICE AND METHOD FOR SPECIFYING LASER BEAM ARRANGEMENT例文帳に追加

画像形成装置，レーザ光の配列特定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING VOICE INPUT PERSON例文帳に追加

音声入力者を判定する方法及び装置 - 特許庁

IMAGE FORMING APPARATUS AND ABNORMAL SPOT SPECIFYING METHOD例文帳に追加

画像形成装置および異常箇所特定方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY APPARATUS, IMAGE DISPLAY METHOD, CURVED LINE SPECIFYING APPARATUS, CURVED LINE SPECIFYING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、画像表示方法、曲線特定装置、曲線特定方法、プログラム、および、記録媒体 - 特許庁

INK JET RECORDING DEVICE AND NOZZLE POSITION SPECIFYING METHOD例文帳に追加

インクジェット記録装置及びノズル位置特定方法 - 特許庁

AREA SPECIFYING METHOD, AREA SPECIFYING DEVICE, MAP DISPLAY METHOD, MAP DISPLAY DEVICE, AND ROUTE GUIDE DEVICE例文帳に追加

エリアの特定方法、エリアの特定装置、地図表示方法、地図表示装置および経路案内装置 - 特許庁

LUMINANCE-SENSING INDEX SPECIFYING METHOD FOR ILLUMINATION SPACE例文帳に追加

照明空間の明るさ感覚指標規定方法 - 特許庁

METHOD OF SPECIFYING NOISE SOURCE OF SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子のノイズ発生源特定方法 - 特許庁

OPTICAL EQUIPMENT SYSTEM AND SUBJECT POSITION SPECIFYING METHOD例文帳に追加

光学機器システム及び被写体位置特定方法 - 特許庁

SIGNAL INJECTION PLACE SPECIFYING METHOD AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

信号注入箇所特定方法、及び測定器 - 特許庁

SCREEN OPERATION POSITION SPECIFYING METHOD IN NAVIGATION SYSTEM例文帳に追加

ナビゲーションシステムにおける画面操作位置指示方法 - 特許庁

METHOD FOR CREATING SAMPLE FOR SPECIFYING FAULT PART IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND FAULT PART SPECIFYING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の不良箇所特定用試料の作成方法及び不良箇所特定方法 - 特許庁

FAILURE MODE SPECIFYING METHOD AND FAILURE DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

故障モード特定方法及び故障診断装置 - 特許庁

FAILURE HANDLING SYSTEM AND FAILURE FACTOR SPECIFYING METHOD例文帳に追加

故障措置システム、及び、故障要因特定方法 - 特許庁

IMAGING SYSTEM AND METHOD FOR SPECIFYING POSITION OF OBJECT例文帳に追加

撮像システム、及び対象物の位置特定方法 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING FILM FORMING CONDITION, FILM FORMING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR FILM BODY例文帳に追加

製膜条件特定方法、製膜方法、及び膜体製造方法 - 特許庁

SPECIFYING METHOD AND SPECIFYING DEVICE FOR POSITION AND ANGULAR DIRECTION OF SINGLE OR PLURALITY OF HOLES例文帳に追加

１つまたは複数の孔の位置および角度方向の特定方法および特定装置 - 特許庁

POINTING DEVICE, EXTERNAL INFORMATION PROCESSOR, INSTRUCTION POSITION SPECIFYING DEVICE AND INSTRUCTION POSITION SPECIFYING METHOD例文帳に追加

ポインティング装置、外部情報処理装置、指示位置特定装置、及び指示位置特定方法 - 特許庁

MUSICAL INFORMATION SPECIFYING DEVICE, AND PROGRAM FOR REALIZING MUSICAL INFORMATION SPECIFYING METHOD例文帳に追加

音楽情報指定装置および音楽情報指定方法を実現するためのプログラム - 特許庁

FAULT DETECTION CIRCUIT AND FAULT LOCATION SPECIFYING METHOD例文帳に追加

故障検出回路および故障箇所特定方法 - 特許庁

METHOD OF SPECIFYING AND STARTING SERVICE LOGICAL PROGRAM例文帳に追加

サービス論理プログラムの特定方法および起動方法 - 特許庁

IMAGING APPARATUS, METHOD OF SPECIFYING FACE AREA AND PROGRAM例文帳に追加

撮像装置、及び顔領域特定方法とプログラム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SPECIFYING FEATURE OF IMAGE DATA例文帳に追加

画像データの特徴を特定する方法及びシステム - 特許庁

MULTIPLEXER, AND METHOD FOR SPECIFYING ITS FAILURE SPOT例文帳に追加

多重化装置及びその障害箇所特定方法 - 特許庁

METHOD OF SPECIFYING INPUT EDGE ROUTER, PROGRAM, AND COMPUTER例文帳に追加

入力エッジルータ特定方法、プログラム及びコンピュータ - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SPECIFYING TIME OF PHOTOGRAPHING PRINT IMAGE例文帳に追加

プリント画像の撮影時期特定装置及び方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SPECIFYING PHOTOGRAPHING CAMERA例文帳に追加

撮影カメラ特定装置及び撮影カメラ特定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EVALUATING METHOD AND DEFECT POSITION SPECIFYING DEVICE例文帳に追加

半導体評価方法及び欠陥位置特定装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING PIPING POSITION例文帳に追加

配管位置特定方法及び配管位置特定装置 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING CAUSE OF DEFECT AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE例文帳に追加

不良原因特定方法及び基板処理装置 - 特許庁

PRESENT POSITION SPECIFYING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

現在位置特定装置および現在位置特定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SPECIFYING CAUSE OF ABNORMALITY OF DEVICE例文帳に追加

機器の異常原因特定方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING SPOT AND ITS OBJECT例文帳に追加

地点とその対象物の特定方法および装置 - 特許庁

SPECIFYING METHOD OF ARTICLE AND ARTICLE ORDERING SYSTEM例文帳に追加

商品の特定方法および商品発注システム - 特許庁

RESISTANCE FORCE SPECIFYING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

抵抗力特定方法及び抵抗力特定システム - 特許庁

PLANE REGION SPECIFYING METHOD AND IMAGE MEASURING DEVICE例文帳に追加

平面領域特定方法、及び、画像計測装置 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFYING CAUSE OF ABNORMALITY OF WATER LEVEL IN BOILER例文帳に追加

ボイラにおける水位異常の原因特定方法 - 特許庁

METHOD OF SPECIFYING COMPOUND HAVING INSECTICIDE ACTIVITY例文帳に追加

殺虫剤活性化合物を特定するための方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SPECIFYING POSITION, AND OPERATION BODY例文帳に追加

位置特定装置、位置特定方法および操作体 - 特許庁

PROGRAM AND METHOD FOR SPECIFYING POINTER POSITION例文帳に追加

ポインタ位置特定プログラムおよびポインタ位置特定方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SPECIFYING SECURITY MEASURE DEVICE例文帳に追加

セキュリティ対策機器の特定方法およびそのシステム - 特許庁

MANAGING DEVICE, WORKFLOW SPECIFYING METHOD, STORAGE MEDIUM AND PROGRAM例文帳に追加

管理装置、ワークフロー特定方法、記憶媒体、プログラム - 特許庁

RESIDENT SPECIFYING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

居住者特定方法および居住者特定システム - 特許庁