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test program generatorの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20件
TEST PROGRAM GENERATOR例文帳に追加
テストプログラムジェネレータ - 特許庁
AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATOR, AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATING METHOD, AND AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION PROGRAM例文帳に追加
テストプログラム自動生成装置、テストプログラム自動生成方法及びテストプログラム自動生成プログラム - 特許庁
TEST CASE GENERATOR, AND TEST CASE GENERATION PROGRAM AND METHOD例文帳に追加
テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、およびテストケース生成方法 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁
The generation of the test program is performed by use of a test program-generating component group 101, a test program-generating component embodiment part 102, a random number generator 103, and a test program generator 100 having a test program output part 104.例文帳に追加
テストプログラムの生成は、テストプログラム生成用部品群101と、テストプログラム生成用部品具現化部102と、乱数器103と、テストプログラム出力部104とを備えたテストプログラム生成器100を用いて行われる。 - 特許庁
To provide an automatic test system for efficiently executing a test in a program generator.例文帳に追加
プログラムジェネレータのテストを効率的に実施するための自動テストシステムを提供する。 - 特許庁
To provide an automatic test program generator capable of shortening a working time for regenerating a test program.例文帳に追加
テストプログラムを再生成するための作業時間を短縮することができるテストプログラム自動生成装置を提供する。 - 特許庁
A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101.例文帳に追加
変換後のテスト実行部記述ファイル102‐2を受信したテストプログラムジェネレータ103は、これを解析し、テスト条件100とテストアルゴリズム101から生成したテストプログラム104の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 - 特許庁
TEST VECTOR GENERATOR, TEST VECTOR GENERATING METHOD, FAILURE ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR GENERATING TEST VECTOR例文帳に追加
テストベクタの生成装置、テストベクタの生成方法、半導体集積回路の故障解析装置、およびテストベクタを生成するためのプログラム - 特許庁
ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加
分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁
HIGH-VISION MOVING PICTURE TEST SIGNAL GENERATOR, GENERATING PROGRAM THEREOF AND GENERATING METHOD THEREFOR例文帳に追加
ハイビジョン動画テスト用信号生成装置、ハイビジョン動画テスト用信号生成プログラムおよびハイビジョン動画テスト用信号生成方法 - 特許庁
Program cells are combined by a program cell combination unit 130 by using random numbers generated by a random number generator 120 with program cell information 110 and cell weight information 111 being input, and a compiler test program 140 is automatically generated.例文帳に追加
プログラムセル情報110とセル重み情報111を入力として、乱数発生器120により発生させた乱数を用いて、プログラムセル組合せ器130でプログラムセルを組合せ、コンパイラのテストプログラム140を自動生成する。 - 特許庁
To provide a high-vision moving picture test signal generator, a program and a method thereof which generates an optimum moving picture test signal for checking the error of compressed signals on a transmission line.例文帳に追加
伝送路における圧縮信号のエラーをチェックするために最適な動画テスト信号を生成することができるハイビジョン動画テスト用信号生成装置、プログラムおよび方法を提供する。 - 特許庁
SIGNAL PROCESSING DEVICE, TEST SYSTEM, DISTORTION DETECTION DEVICE, SIGNAL COMPENSATION DEVICE, ANALYSIS SIGNAL GENERATOR, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, DISTORTION DETECTION METHOD, SIGNAL COMPENSATION METHOD, AND ANALYSIS SIGNAL GENERATION METHOD例文帳に追加
信号処理装置、試験システム、歪検出装置、信号補償装置、解析信号生成装置、プログラム、記憶媒体、歪検出方法、信号補償方法、および、解析信号生成方法 - 特許庁
A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加
プログラムメモリ部24は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、DUTの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の1つである。 - 特許庁
An external inspection circuit 24 includes a control circuit 38 stored with a test pattern producing program for producing a test pattern according to a signal SIG2, a signal generator 40 for outputting a signal SIG4 (frequency setting signal) according to the test pattern, and a comparison discriminator 42 for comparing a signal SIG3 with an expected value to output a comparison result.例文帳に追加
外部検査回路24はテストパタン生成プログラムが記憶され、信号SIG2に応じてテストパタンを生成する制御回路38と、テストパタンに応じて信号SIG4(周波数設定信号)を出力する信号発生器40と、信号SIG3と期待値とを比較して比較結果を出力する比較判定器42とを含む。 - 特許庁
A frame processor 50 executes a process of decompressing the test pattern 20 output from the pattern generator 30 in operation in software manner by executing a previously set program, and generates/outputs a pulse shape signal, based on the decompressed data.例文帳に追加
フレームプロセッサー50は、あらかじめ設定されたプログラムを実行することにより、パターンジェネレーター30から出力されたテストパターン20の伸張処理をソフト的に行い、さらに、伸張されたデータに基づいて、パルス波形を生成して出力する。 - 特許庁
The terminal white list generator 133 generates a white list in which software whose installation to the malware infected terminal is allowed, and setting in a reference terminal 134 which is treated so as not to be infected with the malware are shown, and loads a test body extraction program on the malware infected terminal.例文帳に追加
端末ホワイトリスト生成装置133は、マルウェア感染端末にインストールが許可されているソフトウェアと、マルウェアに感染されないように処置されている基準端末装置134での設定が示されるホワイトリストを生成し、検体抽出プログラムをマルウェア感染端末にロードする。 - 特許庁
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