| 例文 |
testing deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5534件
BODY CAVITY TESTING DEVICE例文帳に追加
体腔内検査装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TAPE例文帳に追加
磁気テープ検査装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, AND METHOD OF TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
試験装置及び電子デバイスの試験方法 - 特許庁
FRICTIONAL FORCE TESTING DEVICE例文帳に追加
摩擦力試験装置 - 特許庁
WEATHER RESISTANCE LIGHT TESTING DEVICE例文帳に追加
耐候光試験装置 - 特許庁
CONTROL PANEL TESTING DEVICE例文帳に追加
制御盤試験装置 - 特許庁
BATTERY PACK TESTING DEVICE例文帳に追加
電池パック試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体デバイス試験装置及び試験方法 - 特許庁
TIRE TESTING DEVICE AND TESTING ROAD SURFACE例文帳に追加
タイヤ試験装置、及び試験用路面 - 特許庁
ANALYSIS DEVICE, SENSOR TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加
分析装置、センサの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁
TESTING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
試験装置及び電子デバイス - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加
テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
電子部品試験装置 - 特許庁
EXPIRATION COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
呼気成分検査装置 - 特許庁
CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE例文帳に追加
回路基板試験装置 - 特許庁
APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置 - 特許庁
TEMPERATURE CYCLE TESTING DEVICE例文帳に追加
温度サイクル試験装置 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE TESTING BOX例文帳に追加
電子機器用試験箱 - 特許庁
TESTING DEVICE OF AUTOMOBILE例文帳に追加
自動車の試験装置 - 特許庁
CONDUCTION IMMUNITY TESTING DEVICE例文帳に追加
伝導イミュニティ試験器 - 特許庁
RADIO SYSTEM TESTING DEVICE例文帳に追加
無線システム試験装置 - 特許庁
DIGITAL CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加
デジタル回路試験装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING OPTICAL FIBER例文帳に追加
光ファイバ試験装置 - 特許庁
OPTICAL TRANSMISSION TESTING DEVICE例文帳に追加
光伝送試験装置 - 特許庁
FATIGUE CRACK TESTING DEVICE例文帳に追加
疲労亀裂試験装置 - 特許庁
EQUIPMENT FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|