「testing-program」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

PROGRAM CREATION DEVICE FOR TESTING MODEL例文帳に追加

モデル検査用プログラム作成装置 - 特許庁

REMOTE TESTING SYSTEM FOR PROGRAM例文帳に追加

プログラムの遠隔テスト実行システム - 特許庁

TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR COMPUTER DEVICE例文帳に追加

コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁

VEHICLE DEFLECTION PROPERTIES TESTING DEVICE, PROGRAM, AND METHOD例文帳に追加

車両偏向性試験装置、プログラム及び方法 - 特許庁

TEST EQUIPMENT, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、および、プログラム - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE AND CUSTOMIZATION PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置およびカスタマイズプログラム試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION TESTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

通信試験装置、方法、およびプログラム - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY TESTING DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

不揮発性メモリ試験装置およびプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS, TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法、およびプログラム - 特許庁

TEST PROGRAM UNIT SYSTEM AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

テストユニット装置および試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE, PROGRAM AND RECODING MEDIUM例文帳に追加

試験装置、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

PING TESTER, PING TESTING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

ｐｉｎｇ試験機、ｐｉｎｇ試験方法およびプログラム - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

TESTING PROCESS/DEVICE/PROGRAM/PROGRAM RECORDING MEDIUM OF INFORMATION PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

情報処理装置の試験方法／装置／プログラム／プログラム記録媒体 - 特許庁

TESTING METHOD, TEST PROGRAM, PROCESS MONITORING METHOD, AND PROCESS MONITORING PROGRAM例文帳に追加

試験方法、試験プログラム、工程監視方法及び工程監視プログラム - 特許庁

PROGRAM TO BE TESTED RESOURCES COMPETITION TESTING METHOD AND COMPETITION PROGRAM例文帳に追加

被テストプログラム資源競合テスト方法及び競合プログラム - 特許庁

DRIVER PROGRAM FOR DISK DEVICE AND PROGRAM FOR TESTING DISK DEVICE例文帳に追加

ディスク装置用ドライバプログラム及びディスク装置テスト用プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の検査方法、半導体集積回路の検査プログラム - 特許庁

RADIO TERMINAL, RADIO TERMINAL TESTING METHOD, RADIO TERMINAL TESTING SYSTEM, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

無線端末、無線端末試験方法、無線端末試験システム及びそのプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハー試験方法、プログラム、記録媒体、及び半導体ウエハー試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM FOR MEMORY IN THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置におけるメモリの試験方法および試験プログラム - 特許庁

PRODUCT TESTING APPARATUS, PRODUCT TESTING METHOD AND PROGRAM MAKING COMPUTER EXECUTE ITS METHOD例文帳に追加

製品検査装置、製品検査方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム - 特許庁

COMMUNICATION APPARATUS, COMMUNICATION APPARATUS TESTING SYSTEM, SIGNAL PROCESSOR, TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

通信装置、通信装置試験システム、信号処理装置、試験方法、コンピュータプログラム - 特許庁

SPECIMEN TESTING RESULT COMBINATION METHOD AND SERVER, AND SPECIMEN TESTING RESULT COMBINATION PROGRAM例文帳に追加

検体検査結果結合方法及びサーバ並びに検体検査結果結合プログラム - 特許庁

TESTING SCHEDULE MANAGING DEVICE FOR ENGINE OR VEHICLE IN BENCH TESTING, AND METHOD AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

台上試験におけるエンジン又は車両の試験スケジュール管理装置、方法及びプログラム - 特許庁

TESTING PROCESS AND TESTING PROGRAM OF AUTOMATIC OUTPUT ADJUSTING DEVICE OF NUCLEAR POWER PLANT例文帳に追加

原子力発電プラントの自動出力調整装置の試験方法及び試験プログラム - 特許庁

INFORMATION LEAK TESTING DEVICE, COMPUTER PROGRAM, AND METHOD OF TESTING INFORMATION LEAK例文帳に追加

情報漏洩検査装置及びコンピュータプログラム及び情報漏洩検査方法 - 特許庁

To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

DATA PREPARATION SYSTEM FOR TESTING MEASURING INSTRUMENT, SERVER, PROGRAM AND METHOD FOR PREPARING DATA FOR TESTING MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

計器検定用データ作成システム、サーバ、プログラム、及び計器検定用データ作成方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING MOTOR OPERATED VALVE, COMPUTER PROGRAM, AND CONTROL DEVICE OF POWER SUPPLY CASE FOR TESTING MOTOR OPERATED VALVE例文帳に追加

電動弁の試験方法、コンピュータプログラムおよび電動弁試験用電源箱の制御装置 - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT CHARACTERISTICS MONITORING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS OF FILTER SYSTEM, METHOD FOR TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT FOR TESTING FILTER SYSTEM例文帳に追加

フィルタ・システムの試験装置、システム試験の方法、およびフィルタ・システムの試験用コンピュータ・プログラム・プロダクト - 特許庁

OBJECT TESTING DEVICE, OBJECT TESTING METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM HAVING OBJECT TESTING PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

オブジェクト試験装置及びオブジェクト試験方法及びオブジェクト試験プログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

TEACHING MATERIAL ACTION TESTING METHOD IN INTELLIGENT LEARNING SUPPORT SYSTEM, TEACHING MATERIAL GENERATING/ TESTING DEVICE AND TEACHING MATERIAL GENERATING/TESTING PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

知的学習支援システムでの教材動作試験方法，教材作成・試験装置および教材作成・試験プログラム記録媒体 - 特許庁

TESTING ITEM EXTRACTION SYSTEM, TESTING ITEM EXTRACTION DEVICE, TESTING ITEM EXTRACTION METHOD USED FOR THE DEVICE, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

テスト項目抽出システム、テスト項目抽出装置、及びそれに用いるテスト項目抽出方法並びにそのプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND PROGRAM FOR DEBUGGING PROGRAM FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路試験用プログラムのデバッグ方法及び装置並びに半導体集積回路試験用プログラムのデバッグプログラム - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

INFORMATION-PROCESSING DEVICE, IMAGE-PROCESSING DEVICE, METHOD FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, PROGRAM FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, AND RECORDING MEDIUM WITH THE RECORDED PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, TEST PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム及び試験方法及び試験プログラム及び試験プログラムを記録した計算機で読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAVEFORM DISPLAY METHOD, AND WAVEFORM DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、波形表示方法および波形表示プログラム - 特許庁

WAVEFORM GENERATING APPARATUS, WAVEFORM CREATING APPARATUS, TESTING APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加

波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラム - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

EXECUTION METHOD OF PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置の半導体試験用プログラム実行方法 - 特許庁