「testing-program」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, TEST PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム及び試験方法及び試験プログラム及び試験プログラムを記録した計算機で読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

METHOD OF TESTING MOTOR OPERATED VALVE, COMPUTER PROGRAM, AND CONTROL DEVICE OF POWER SUPPLY CASE FOR TESTING MOTOR OPERATED VALVE例文帳に追加

電動弁の試験方法、コンピュータプログラムおよび電動弁試験用電源箱の制御装置 - 特許庁

To provide an information processing apparatus capable of efficiently conducting a testing process for a plurality of testing environments, a software operation testing system, a software operation testing method, a software operation testing program, and a recording medium with the program recorded therein.例文帳に追加

複数のテスト環境に対して効率よくテスト工程を実施することが可能な情報処理装置、ソフトウェア動作テストシステム、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM例文帳に追加

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁

NETWORK TESTING APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびネットワーク試験プログラム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING COMMUNICATION PROTOCOL AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

通信プロトコル試験方法、通信プロトコル試験装置とそのプログラム - 特許庁

SIGNAL GENERATING APPARATUS, TESTING INSTRUMENT, SIGNAL GENERATING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

信号生成装置、試験装置、信号生成方法、及びプログラム - 特許庁

TDL MACHINE LANGUAGE PROGRAM GENERATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のＴＤＬ機械語プログラム生成装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR DIGITAL BROADCAST RECEIVER AND PROGRAM USED THEREFOR例文帳に追加

デジタル放送受信機の試験装置及びこれに用いるプログラム - 特許庁

RELOCATABLE INSTRUMENTATION TAG FOR TESTING AND DEBUGGING OF COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コンピュータプログラムをテストし、デバッグするための再配置可能計測タグ - 特許庁

METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

EXECUTION METHOD OF PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR TEST OF SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体試験装置の半導体試験用プログラム実行方法 - 特許庁

To efficiently perform program testing by using symbolic execution.例文帳に追加

シンボリック実行を用いてより効率的にプログラムのテストを行う。 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, METHOD FOR TESTING WORK FLOW, AND TEST PROGRAM OF WORK FLOW例文帳に追加

画像処理装置、ワークフローのテスト方法及び同テストプログラム - 特許庁

INFORMATION-PROCESSING DEVICE, IMAGE-PROCESSING DEVICE, METHOD FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, PROGRAM FOR TESTING SOFTWARE OPERATION, AND RECORDING MEDIUM WITH THE RECORDED PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

WAVEFORM GENERATING APPARATUS, WAVEFORM CREATING APPARATUS, TESTING APPARATUS, AND PROGRAM例文帳に追加

波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラム - 特許庁

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

TEACHING MATERIAL ACTION TESTING METHOD IN INTELLIGENT LEARNING SUPPORT SYSTEM, TEACHING MATERIAL GENERATING/ TESTING DEVICE AND TEACHING MATERIAL GENERATING/TESTING PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

知的学習支援システムでの教材動作試験方法，教材作成・試験装置および教材作成・試験プログラム記録媒体 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing a plurality of paths using the same program of same pattern.例文帳に追加

同一のパターンプログラムを用いて、複数パスの試験を行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

SOFTWARE TESTING WORK SUPPORTING METHOD AND DEVICE FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM WITH SOFTWARE TESTING WORK SUPPORTING PROGRAM RECORDED例文帳に追加

ソフトウェア試験作業支援方法、装置、ソフトウェア試験作業支援プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の検査方法、半導体集積回路の検査プログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING LINE AND DEVICE THEREFOR AND ITS PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

回線試験方法および装置およびプログラムおよび記録媒体 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, MODULE REPLACEMENT APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、モジュール交換装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

PROGRAM AND METHOD FOR SCAN CHAIN EXTRACTION AND TESTING SYSTEM例文帳に追加

スキャンチェーン抽出プログラム、スキャンチェーン抽出方法及び試験装置 - 特許庁

CALL CENTER SYSTEM, COMMUNICATION TERMINAL, COMMUNICATION TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コールセンタシステム、通信端末、通信試験方法、およびコンピュータプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAVEFORM DISPLAY METHOD, AND WAVEFORM DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、波形表示方法および波形表示プログラム - 特許庁

NETWORK TESTING METHOD AND SYSTEM AND ITS PROGRAM AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク試験方法およびシステム、ならびにそのプログラムと記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT CHARACTERISTICS MONITORING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTER FOR THE INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD PROGRAM FOR THE INTEGRATED CIRCUIT, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM OF TESTING METHOD FOR THE INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM DESCRIBING TESTING METHOD例文帳に追加

集積回路の試験装置、及び試験方法、及び試験方法を記述した制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ＡＴＭ試験装置及びそれに用いるＡＴＭ試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

SVC CONNECTION CONTROL TESTING METHOD, STORAGE MEDIUM STORING SVC CONNECTION CONTROL TESTING PROGRAM AND NODE DEVICE例文帳に追加

ＳＶＣコネクション制御試験方法、ＳＶＣコネクション制御試験プログラムを記録した記憶媒体およびノード装置 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板試験装置、回路基板試験方法、及び回路基板試験プログラム - 特許庁

LIFETIME PREDICTION TEST METHOD OF POLYMER MEMBRANE, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラム - 特許庁

DEVICE, PROGRAM, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアテスト装置、ソフトウェアテストプログラム、ソフトウェアテスト方法及びソフトウェアテストシステム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING AUTOMATIC CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

自動回路試験システムを較正するシステム、方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

DEVICE FOR TESTING RULE FILE FOR LAYOUT VERIFICATION AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

レイアウト検証用ルールファイルのテスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAFER MAP DISPLAY DEVICE, AND WAFER MAP DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、ウエハマップ表示装置及びウエハマップ表示プログラム - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁