「testing-program」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

The TB testing must be completed thirty days before the start of the student’s program.例文帳に追加

ＴＢテストは生徒のプログラム開始３０日前までに完了していなければならない。 - Weblio Email例文集

DELAY CIRCUIT, TESTING DEVICE, PROGRAM, SEMICONDUCTOR CHIP, INITIALIZATION METHOD, AND INITIALIZATION CIRCUIT例文帳に追加

遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAFER MAP DISPLAY DEVICE, AND WAFER MAP DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、ウエハマップ表示装置及びウエハマップ表示プログラム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CALIBRATING AUTOMATIC CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

自動回路試験システムを較正するシステム、方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

PROGRAM, APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATIC SOFTWARE TESTING例文帳に追加

ソフトウェアの自動試験プログラム、ソフトウェアの自動試験装置、およびソフトウェアの自動試験方法 - 特許庁

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加

無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁

ERROR PROCESS TEST SYSTEM OF SOFTWARE, TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM FOR TEST PROGRAM例文帳に追加

ソフトウェアのエラー処理テストシステム、テスト方法及びテストプログラムの記録媒体 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING RULE FILE FOR LAYOUT VERIFICATION AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

レイアウト検証用ルールファイルのテスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

CALL CENTER SYSTEM, COMMUNICATION TERMINAL, COMMUNICATION TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コールセンタシステム、通信端末、通信試験方法、およびコンピュータプログラム - 特許庁

BATTERY CHARGE/DISCHARGE TESTING METHOD FOR PORTABLE COMPUTER, PORTABLE COMPUTER, RECORDING MEDIUM AND PROGRAM例文帳に追加

携帯型コンピュータのバッテリ充放電試験方法、携帯型コンピュータ、記録媒体及びプログラム - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

SERVER AND METHOD FOR TESTING CALL QUALITY, COMMUNICATION TERMINAL, AND PROGRAM例文帳に追加

通話品質試験用サーバ、通話品質試験方法、通信端末、およびプログラム - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTER, PRINTED CIRCUIT BOARD ASSEMBLING AND TESTING LINE SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

プリント回路基板検査装置とプリント回路基板組み立て検査ラインシステムおよびプログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN AND ITS DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

PROGRAM AND METHOD FOR SCAN CHAIN EXTRACTION AND TESTING SYSTEM例文帳に追加

スキャンチェーン抽出プログラム、スキャンチェーン抽出方法及び試験装置 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS, TESTING METHOD, INSPECTION PROGRAM, AND COMPUTER READABLE MEDIUM例文帳に追加

検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING POWER SUPPLY VARIATION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路の電源変動検証装置及び方法並びにそのプログラム - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁

VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM例文帳に追加

ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

RAID TEST SYSTEM, RAID TEST PROGRAM AND RAID TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラム及びＲＡＩＤ試験方法 - 特許庁

NETWORK TESTING APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびネットワーク試験プログラム - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM, MULTIPLEXER INCLUDED THEREIN, AND METHOD AND PROGRAM FOR TESTING LINE TRANSMISSION CHARACTERISTIC例文帳に追加

通信システム、そのシステムに含まれる多重化装置、回線伝送特性テスト方法ならびにプログラム - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING COMMUNICATION QUALITY例文帳に追加

通信品質試験システム、通信品質試験方法及び通信品質試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM FOR THE SAME, AND DIAGNOSIS METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置の診断プログラムおよび半導体試験装置の診断方法 - 特許庁

SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM例文帳に追加

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

DATA COMMUNICATION DEVICE, CENTRAL MANAGEMENT DEVICE, TESTING METHOD, REMOTE MANAGEMENT SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

LIFE TESTING APPARATUS FOR PORTABLE TERMINAL WITH SLIDING MECHANISM, AND LIFE TEST PROGRAM例文帳に追加

摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR AND STORAGE MEDIUM STORED WITH PROGRAM THEREOF例文帳に追加

情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

ESTIMATION METHOD OF DUCTILE FRACTURE LIMIT, ITS PROGRAM, RECORDING MEDIUM AND FRACTURE TESTING MACHINE例文帳に追加

延性破壊限界の推定方法とそのプログラムと記録媒体と破壊試験機 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加

直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁

RELAY LIFETIME PREDICTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROGRAM THEREFOR, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED例文帳に追加

半導体試験装置のリレー寿命予測システム及びそのプログラム並びにそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly.例文帳に追加

このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。 - 特許庁

METHOD, PROGRAM AND DEVICE FOR TESTING CHARGE AND DISCHARGE OF SECONDARY BATTERY, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE SAME PROGRAM例文帳に追加

二次電池の充放電試験方法、充放電試験プログラム、これを記録した記録媒体及び充放電試験装置 - 特許庁

To provide a measurement program starting method that can appropriately prevent unauthorized use of a measurement program that runs on a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置において動作する測定プログラムを不正に利用されるのを適正に防止できる測定プログラム起動方法を提供する。 - 特許庁

To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.例文帳に追加

プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁

To increase the efficiency of test work by eliminating the need for creating a stub program exclusively for a program to be tested or setting a testing environment.例文帳に追加

テスト対象プログラム専用のスタブプログラムの作成や、テスト環境の設定を不要とし、テスト作業を効率化する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a measuring device to be used is changed.例文帳に追加

使用する測定器に変更が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁