「"testing-program"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

WEB LOAD TESTING METHOD AND WEB LOAD TESTING PROGRAM例文帳に追加

ウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法および試験プログラム - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING PROGRAM, AND INFORMATION PROCESSING UNIT例文帳に追加

試験方法、試験プログラム、及び情報処理装置 - 特許庁

MAGNETIC DISK DEVICE, AND TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM THEREOF例文帳に追加

磁気ディスク装置、その試験方法および試験プログラム - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法および半導体試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験プログラムおよび半導体試験方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING UNIT, SOFTWARE TESTING METHOD AND SOFTWARE TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、ソフトウェア検査方法およびソフトウェア検査プログラム - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法および試験プログラム - 特許庁

MODULE TESTING DEVICE, MODULE TESTING METHOD, AND MODULE TESTING PROGRAM例文帳に追加

モジュール試験装置、モジュール試験方法およびモジュール試験プログラム - 特許庁

ANALYSIS DEVICE, SENSOR TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加

分析装置、センサの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁

PROTOCOL TESTING DEVICE, PROTOCOL TESTING METHOD, AND PROTOCOL TESTING PROGRAM例文帳に追加

プロトコル試験装置、プロトコル試験方法およびプロトコル試験プログラム - 特許庁

PSEUDO CALL TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING PSEUDO CALL TESTING PROGRAM例文帳に追加

疑似呼試験方法および疑似呼試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, MODULE REPLACEMENT APPARATUS, AND METHOD FOR TESTING PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、モジュール交換装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

MEDIUM TESTING METHOD, MEDIUM TESTER, MEDIUM TESTING PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

媒体検査方法、媒体検査装置、媒体検査プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

TESTING METHOD AND STORAGE MEDIUM STORING TESTING PROGRAM例文帳に追加

テスト方法、および、テスト用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

RADIOGRAPHIC TESTING APPARATUS, RADIOGRAPHIC TESTING METHOD AND RADIOGRAPHIC TESTING PROGRAM例文帳に追加

放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の検査方法、半導体集積回路の検査プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING APPARATUS, PROGRAM TESTING METHOD FOR PROGRAM TESTING APPARATUS, AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験装置、プログラム試験装置のプログラム試験方法およびプログラム試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM FOR MEMORY IN THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置におけるメモリの試験方法および試験プログラム - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラム - 特許庁

TESTING PROCESS AND TESTING PROGRAM OF AUTOMATIC OUTPUT ADJUSTING DEVICE OF NUCLEAR POWER PLANT例文帳に追加

原子力発電プラントの自動出力調整装置の試験方法及び試験プログラム - 特許庁

CLIP TESTER, CLIP TESTING METHOD, CLIP TESTING DEVICE, AND CLIP TESTING PROGRAM例文帳に追加

クリップテスタ、クリップ試験方法、クリップ試験装置、クリップ試験プログラム - 特許庁

To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

ATTACK IMITATION TESTING METHOD, ATTACK IMITATION TESTING DEVICE AND ATTACK IMITATION TESTING PROGRAM例文帳に追加

攻撃模倣テスト方法、攻撃模倣テスト装置及び攻撃模倣テストプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT CHARACTERISTICS MONITORING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム - 特許庁

SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁

The semiconductor integrated circuit device 1 is simulated by a computer by using a test bench TB as the testing program.例文帳に追加

半導体集積回路装置１は、テスト用プログラムであるテストベンチＴＢを用いてコンピュータによるシミュレーションが行われる。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法 - 特許庁

SVC CONNECTION CONTROL TESTING METHOD, STORAGE MEDIUM STORING SVC CONNECTION CONTROL TESTING PROGRAM AND NODE DEVICE例文帳に追加

ＳＶＣコネクション制御試験方法、ＳＶＣコネクション制御試験プログラムを記録した記憶媒体およびノード装置 - 特許庁

OBJECT TESTING DEVICE, OBJECT TESTING METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM HAVING OBJECT TESTING PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

オブジェクト試験装置及びオブジェクト試験方法及びオブジェクト試験プログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To verify the operation of a semiconductor integrated circuit device efficiently in a short time by verifying the operation of an IP itself by a testing program.例文帳に追加

テスト用プログラムによってＩＰそれ自体の動作検証を行い、短時間で効率よく半導体集積回路装置を動作検証する。 - 特許庁

To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加

デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁

TEACHING MATERIAL ACTION TESTING METHOD IN INTELLIGENT LEARNING SUPPORT SYSTEM, TEACHING MATERIAL GENERATING/ TESTING DEVICE AND TEACHING MATERIAL GENERATING/TESTING PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

知的学習支援システムでの教材動作試験方法，教材作成・試験装置および教材作成・試験プログラム記録媒体 - 特許庁

To discover the nonconformity of a testing program and the fault of the communication system, etc., between a tester and a probe or handler in early stages.例文帳に追加

テスト用プログラムの不具合や、テスタとプローバやハンドラとの間の通信系統等の故障を早期に発見する。 - 特許庁

Even when internal configuration is different for every memory (when correspondence relation between a program address specified by a testing program and a physical address in a memory is different), a memory testing program can be used universally by inputting externally correspondence relation for every memory.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING APPARATUS, SOFTWARE OPERATION TESTING SYSTEM, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報処理装置、ソフトウェア動作テストシステム、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

Also, even when internal configuration is unknown, the memory testing program can be used universally for various memories by estimating its internal configuration.例文帳に追加

また、内部構成が不明である場合であっても、その内部構成を推定することを可能とすることで、各種メモリに対して、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することができるようになる。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide a Web load testing method and Web load testing program for imposing a large access load on an arbitrary period in a Web load test.例文帳に追加

ウェブ負荷試験において大きなアクセス負荷を任意の時期に掛けられるようにできるウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラムを、提供する。 - 特許庁

The message transmitting/receiving part 12 rewrites a circuit configuration based on the testing program 133 to rewrite a configuration of a memory table so as to be able to perform operations of a plurality of slave stations.例文帳に追加

メッセージ送受信部１２は、試験用プログラム１３３に基づいて回路構成を書き換え、複数台分の子局の動作を行えるようにメモリテーブルの構成を書き換える。 - 特許庁

The testing program includes a category weighting table 25 having a statistic weighting ratio, reference weighting ratio, an upper limit value and a lower limit value, which are set to each category obtained by classifying test cases.例文帳に追加

テストケースを分類したカテゴリに対して、統計重み付け比率、基準重み付け比率、上限値、下限値が設定されたカテゴリ重み付けテーブル２５を設けた。 - 特許庁