微細解析の英語

アスペクト比の大きなホール底部の微細構造を的確に解析することを可能とする半導体デバイス解析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor device analyzer which can accurately analyze a minute structure at the bottom of a hole having a large aspect ratio. - 特許庁

微細粒子の形状を観察し、解析するためのもので、微細粒子を分散させた懸濁サンプル液を細長く扁平に流し、この扁平懸濁サンプル液流中の微細粒子の形状、分散状態を観察して解析することができる３Ｄマイクロチップを提供する。例文帳に追加

To provide a 3D microchip for observing and analyzing the shape of fine particles, allowing observing and analyzing of the shape and the dispersion state of the fine particles in a flat suspended sample liquid flow running the suspended sample liquid wherein the fine particles are dispersed in the elongated and flat state. - 特許庁

微細な形状の転写が要求される射出成形において、適切な成形条件の導出を支援することのできる樹脂流動解析プログラム、樹脂流動解析装置、及び樹脂流動解析方法の提供を目的とする。例文帳に追加

To provide a resin flow analysis program, a resin flow analysis device and a resin flow analysis method, for supporting derivation of a proper molding condition in injection molding requiring transcription of a fine shape. - 特許庁

微細な場所の状態を高精度で検出することができ、半導体デバイスに生じる欠陥の解析に適用可能な準静電界解析装置及び準静電界解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a quasi-electrostatic field analyzer and analysis method, which detects the condition of a micro-fine place with high accuracy and can be applied to the analysis of defects generated in a semiconductor device. - 特許庁

また、データ解析部３８は、微分ピーク値とフォーカス位置の関係図を作成し、関係図から微細パターンの段差を算出する。例文帳に追加

Further, a data analysis unit 38 generates a relational chart between the differential peak values and focus positions, and calculates a difference in level of the fine pattern from the relational chart. - 特許庁

また、σ^２は、Ｘ線吸収スペクトルに現れる広領域Ｘ線吸収微細構造（ＥＸＡＦＳ）の解析によって得られる値である。例文帳に追加

Additionally, σ^2 is a value which is obtained by the analysis of the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) appearing in an X-ray absorption spectrum. - 特許庁

微細なピッチや密集したパターンにおいても、ＯＢＩＲＣＨ法による不良解析を行うことができるＴＥＧ配線を提供する。例文帳に追加

To provide a TEG wiring, in which even in a fine pitch or a dense pattern, failure analysis can be carried out by OBIRCH method. - 特許庁

半導体プロセスの微細化、多層配線化に伴って、困難となってきた半導体デバイスの故障個所の解析を容易に行える故障個所解析装置及びその方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and a method, capable of easily performing the analysis of the defective portion of a semiconductor device which becomes difficult according to the microfabrication of a semiconductor process and multi-layer wiring. - 特許庁