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校正歪の英語
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英訳・英語 equivalent strain for calibration; reference strain
「校正歪」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 35件
プローブ形状歪み校正にはフレーム歪み校正の結果が適用される。例文帳に追加
For calibration of form distortions, the results of the frame distortion calibration are applied. - 特許庁
走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE - 特許庁
カメラで撮影された画像から、カメラ光学系の歪みを補正するカメラ校正装置におけるカメラ校正方法であり、校正の際に使われるレンズ歪み関数が、偏心に依存するレンズ歪みをパラメタとして有する。例文帳に追加
This is a camera calibration method in a camera calibration device which corrects distortion of camera optics from an image photographed with a camera, and a lens distortion function used for calibration has a lens distortion dependent on eccentricity as a parameter. - 特許庁
歪ゲージを用い、製造途中でその出力が校正される荷重センサの校正方法であって、校正の作業時間を短縮でき、製造コストを低減できる荷重センサの校正方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method of calibration of a load sensor capable of reducing calibration hours and production cost for the calibration method of the load sensor capable of calibrating the output of the same in the production using a strain gauge. - 特許庁
歪補正ステップでは、校正処理によって算出した画像中心を基に歪を補正する。例文帳に追加
A distortion correction step corrects distortion on the basis of the image center calculated by compensation processing. - 特許庁
2次歪特性校正モードでは、第1テスト信号の受信ミキサへの供給の間に、校正回路42は受信ミキサの動作パラメータを可変して2次歪特性を最良の状態に校正する。例文帳に追加
Under a secondary distortion characteristic calibration mode, during supply of the first test signal to the receiving mixer, the calibration circuit 42 varies an operation parameter of the receiving mixer to calibrate secondary distortion characteristics into the best state. - 特許庁
フレーム歪み誤差と並んでプローブ形状誤差をも校正できるステレオビジョンプローブシステムの包括的校正方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for global calibration of a stereo vision probe system which can calibrate distortion errors, as well as, probe form errors. - 特許庁
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「校正歪」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 35件
同一のプローブチップが包括的校正ルーチンの全体を通じて用いられる場合、プローブチップ校正はフレーム歪み校正により用いられる画像セットからの画像を用いる。例文帳に追加
When the same probe tip is used throughout the global calibration routine as a whole, the probe tip calibration uses images from the set of images used by the frame distortion calibration. - 特許庁
第1の信号に含まれる利得及び/又は位相の歪みを第2の信号に基づいて校正する。例文帳に追加
A gain and/or distortion of a phase included in the first signals is calibrated based on the second signals. - 特許庁
包括的校正システム100において、フレーム歪み校正は、可搬式の校正治具160にタッチプローブ140を設置して三角法演算を行う反復工程を含むが、タッチプローブ140のプローブ形状歪み誤差に影響されない。例文帳に追加
In a global calibration system 100, frame distortion calibration includes an iterative process for installing the touch probe 140 on a portable calibration jig 160 and performing triangulation, but the iterative process will not be affected by probe form distortion errors in the touch probe 140. - 特許庁
走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。例文帳に追加
This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion. - 特許庁
校正部は、撮像された複数の画像を校正して、前記複数の画像それぞれのレンズ歪みが補正され、前記複数の画像の間で、対応する画像内の位置が水平に一致され、かつ平面に垂直な面に合わせられた複数の校正画像を得る。例文帳に追加
The calibration unit calibrates a plurality of picked up images so that the lens distortion of each of the plurality of images is corrected, and a plurality of calibration images in which corresponding positions in the images are horizontally aligned and are aligned with a surface vertical to the plane among the plurality of images are obtained. - 特許庁
波形歪みの影響を低減し、高精度な光学式エンコーダ、および、このような光学式エンコーダとなるように校正するための光学式エンコーダ校正装置の提供をする。例文帳に追加
To provide a high-precision optical encoder with reduced influence of waveform distortion, and to provide an optical encoder calibrating device for calibrating the encoder to have such performance. - 特許庁
変換パラメータ算出部32は、各撮像装置21,22,23毎に、画像校正用の撮像対象を撮像して得られた校正用の画像データから歪み補正用の変換パラメータを算出する。例文帳に追加
A conversion parameter calculation part 32 calculates conversion parameters for distortion correction by the image pickup devices from image data for correction obtained by picking up images of an object for image correction. - 特許庁
歪みゲージ式検出器のアンプの電気的校正に際してオペレータが介在する必要がなく、校正を自動化することのできる材料試験機の制御装置を提供する。例文帳に追加
To provide a controller of a material testing machine constituted so as to dispense with an operator at the time of the electrical calibration of the amplifier of a strain gauge type detector and capable of automating calibration. - 特許庁
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