small angle scatteringとは 意味・読み方・使い方

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING SMALL-ANGLE SCATTERING AND SAMPLE ANALYSIS METHOD例文帳に追加

小角散乱測定装置、小角散乱測定方法、および試料解析方法 - 特許庁

(2) The half-width angle of equatorial direction in small angle X-ray scattering measurement is ≤2.5°.例文帳に追加

（２）小角Ｘ線散乱測定における赤道方向の半価幅のなす角が２．５度以下。 - 特許庁

A method for analyzing the structure of a porous material allows small angle electron beam scattering to form a small angle electron beam scattering image 15 through image formation of a small angle electron beam scattering portion emerging at the central part of the electron beam diffraction image of the porous material.例文帳に追加

本発明の多孔質材料の構造解析方法は、小角電子線散乱により多孔質材料の電子線回折像の中央部に現れる小角電子線散乱部分を結像させることで小角電子線散乱像１５を形成することを特徴とする。 - 特許庁

In particular, the image data of the small angle electron beam scattering image 15 can be processed for structure analysis.例文帳に追加

特に、小角電子線散乱像１５の画像データに構造解析処理を施すことができる。 - 特許庁

The structure analysis processing for the small angle electron beam scattering portion may be combined for use.例文帳に追加

また、小角電子線散乱部分の構造解析処理を併用することができる。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR RATE OF CHANGE OF STRESS IN ORIENTED FILM BY USING SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING METHOD例文帳に追加

小角Ｘ線散乱法を用いる延伸フィルムの応力変化率評価方法 - 特許庁

To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed.例文帳に追加

試料を固定しながら、小角Ｘ線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角Ｘ線散乱の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a super-small-angle X-ray scattering measuring device capable of accurately capturing a scattering line from a sample in a super-small-angle region by suppressing the occurrence of a smearing phenomenon.例文帳に追加

スメアリング現象の発生を抑えることにより、超小角領域における試料からの散乱線を正確に捕えることができる超小角Ｘ線散乱測定装置を提供する。 - 特許庁