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ディジタル試験装置の英語
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英訳・英語 digital test equipment
「ディジタル試験装置」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 28件
ディジタルリレーの自動試験装置例文帳に追加
AUTOMATIC TESTING MACHINE FOR DIGITAL RELAY - 特許庁
ディジタル・インタフェース試験装置例文帳に追加
DIGITAL INTERFACE TEST DEVICE - 特許庁
ディジタル回路装置および半導体装置の試験方法例文帳に追加
DIGITAL CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
ディジタルシグナルプロセッサカードの自動試験装置例文帳に追加
AUTOMATIC TEST DEVICE FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR CARD - 特許庁
ディジタル形保護継電装置の点検試験器例文帳に追加
INSPECTION TEST DEVICE OF DIGITAL FORM PROTECTION RELAY SYSTEM - 特許庁
ディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法例文帳に追加
DIGITAL EXCHANGE DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING TEST LINE CONNECTION THEREOF - 特許庁
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「ディジタル試験装置」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 28件
まず、自動試験装置(ATE:Automated Test Equipment)ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス(DUT)クロックのディジタル出力を、キャプチャする。例文帳に追加
First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel. - 特許庁
自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供例文帳に追加
To provide an analog-digital converting method and a device suitable for an automatic testing device. - 特許庁
自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供例文帳に追加
To provide a method and apparatus for analog to digital conversion suitable to an automatic test device. - 特許庁
遷移タイムスタンプを利用したディジタル・デバイスの試験装置および方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL DEVICE USING TRANSITION TIME STAMP - 特許庁
入出力確認試験における作業を軽減し、入出力確認試験の期間短縮が可能なディジタル制御装置を提供する。例文帳に追加
To provide a digital controller capable of lessening operations at an input and output checking test and shortening a period of the input and output checking test. - 特許庁
クロスコネクト機能を用いたディジタル交換における試験にて確実なループ接続および回線復旧の時間短縮化の少なくとも一方を実現するディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法の提供。例文帳に追加
To provide a digital exchange device and its method for controlling test line connection for realizing at least one of reliable loop connection and shortening of line recovery time in a test in digital exchange using a cross connect function. - 特許庁
動作状態のディジタル情報処理装置のプリント板に、確実に擬似故障を発生させて試験することを目的とする。例文帳に追加
To test by surely generating pseudo-failure in a printed board of a digital information processor in operation state. - 特許庁
本発明は、集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体に関し、ロジック専用の試験装置でアナログディジタル変換回路を試験する場合でも、測定精度の劣化を防止することができるようにする。例文帳に追加
To prevent deterioration of measurement accuracy, even when testing an analog-digital converting circuit with a tester for exclusive use for logic, concerning an integrated circuit, a tester for the integrated circuit, a testing method for the integrated circuit, a program of the testing method for the integrated circuit, and a recording medium having recorded the program for the testing method of the integrated circuit. - 特許庁
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