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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > ディジタル試験装置に関連した英語例文

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ディジタル試験装置の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28



例文

ディジタルリレーの自動試験装置例文帳に追加

AUTOMATIC TESTING MACHINE FOR DIGITAL RELAY - 特許庁

ディジタル・インタフェース試験装置例文帳に追加

DIGITAL INTERFACE TEST DEVICE - 特許庁

ディジタル回路装置および半導体装置試験方法例文帳に追加

DIGITAL CIRCUIT DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

ディジタル保護制御装置試験支援装置例文帳に追加

TESTING SUPPORT DEVICE OF DIGITAL PROTECTION CONTROL APPARATUS - 特許庁

例文

ディジタルシグナルプロセッサカードの自動試験装置例文帳に追加

AUTOMATIC TEST DEVICE FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR CARD - 特許庁


例文

ディジタル形保護継電装置の点検試験例文帳に追加

INSPECTION TEST DEVICE OF DIGITAL FORM PROTECTION RELAY SYSTEM - 特許庁

ディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法例文帳に追加

DIGITAL EXCHANGE DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING TEST LINE CONNECTION THEREOF - 特許庁

まず、自動試験装置(ATE:Automated Test Equipment)ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス(DUT)クロックのディジタル出力を、キャプチャする。例文帳に追加

First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel. - 特許庁

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供例文帳に追加

To provide an analog-digital converting method and a device suitable for an automatic testing device. - 特許庁

例文

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供例文帳に追加

To provide a method and apparatus for analog to digital conversion suitable to an automatic test device. - 特許庁

例文

遷移タイムスタンプを利用したディジタル・デバイスの試験装置および方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING DIGITAL DEVICE USING TRANSITION TIME STAMP - 特許庁

入出力確認試験における作業を軽減し、入出力確認試験の期間短縮が可能なディジタル制御装置を提供する。例文帳に追加

To provide a digital controller capable of lessening operations at an input and output checking test and shortening a period of the input and output checking test. - 特許庁

クロスコネクト機能を用いたディジタル交換における試験にて確実なループ接続および回線復旧の時間短縮化の少なくとも一方を実現するディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法の提供。例文帳に追加

To provide a digital exchange device and its method for controlling test line connection for realizing at least one of reliable loop connection and shortening of line recovery time in a test in digital exchange using a cross connect function. - 特許庁

動作状態のディジタル情報処理装置のプリント板に、確実に擬似故障を発生させて試験することを目的とする。例文帳に追加

To test by surely generating pseudo-failure in a printed board of a digital information processor in operation state. - 特許庁

本発明は、集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体に関し、ロジック専用の試験装置でアナログディジタル変換回路を試験する場合でも、測定精度の劣化を防止することができるようにする。例文帳に追加

To prevent deterioration of measurement accuracy, even when testing an analog-digital converting circuit with a tester for exclusive use for logic, concerning an integrated circuit, a tester for the integrated circuit, a testing method for the integrated circuit, a program of the testing method for the integrated circuit, and a recording medium having recorded the program for the testing method of the integrated circuit. - 特許庁

ベースバンド処理データの収集が可能であり、ディジタル変復調システムのフィールド試験時における送受信無線性能評価を車両に搭載した状態で行うことができるディジタル変復調方式データ収集装置およびベースバンド処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a digital modulation and demodulation system data collecting device and a baseband processor capable of collecting baseband processing data and performing transmission and reception radio performance evaluation in a field test mode of a digital modulation and demodulation system while mounted on a vehicle. - 特許庁

アナログ回路とディジタル回路とが混在する半導体集積回路を短時間で効率良く試験することができ、その結果として試験に要するコストを低減することができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit-testing apparatus and a semiconductor integrated circuit-testing method for quickly and efficiently testing a semiconductor integrated circuit where analog and digital circuits are mixed, and hence for reducing costs required for the test. - 特許庁

半導体集積回路のディジタル回路の試験を、特別な外部試験機を開発することなしに、簡単に、しかも迅速に実行できる半導体集積回路の試験装置と、それを使用する半導体集積回路の製造方法を提案する。例文帳に追加

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit (IC) capable of testing the IC simply and quickly without developing a specific outer testing device for testing a digital circuit of the IC, and to provide a method of manufacturing the IC using the testing device. - 特許庁

電力系統の保護および監視・制御を行うディジタル保護制御装置において、実装置に入出力基板が搭載されていない場合であっても、実装置に対する試験等の効果的な実施を可能とすること。例文帳に追加

To make it possible to conduct testing of a real unit effectively, even if an I/O substrate is not mounted on the real unit in a digital protection control apparatus which performs protection, supervision and control of a power system. - 特許庁

簡易な構成で所望のワンダを有する信号を発生することができるワンダ発生装置、及び当該ワンダ発生装置を備えるディジタル回線試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a wander generator with a simple configuration capable of generating a signal having a desired wander, and to provide a digital line test device equipped with the wander generator. - 特許庁

試験条件によって材料試験機12のゲインKact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置16のA/Dコンバータ32へ入力するアナログセンサ信号SSaの増幅率を調節することで、ループゲインKlpを最適値に調整する。例文帳に追加

The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value. - 特許庁

ディジタル信号処理装置16を用いたフィードバック制御系10は、材料試験機12を制御するための制御系であり、そのフィードバック経路中に減衰器28を備えている。例文帳に追加

A feedback control system 10 which uses a digital signal processor 16 is a control system for controlling a material testing machine 12 and is equipped with an attenuator 28 in its feedback path. - 特許庁

半導体集積回路のディジタル回路を試験するテスト補助装置を、半導体集積回路と信号のやり取りを行なうテスト回路基板に近傍に配置する。例文帳に追加

A test aid device for testing the digital circuit of the IC is disposed in the vicinity of the substrate of a testing circuit which communicates with a signal with the IC. - 特許庁

ディジタル制御システムを構成する各装置・機器の更新時に、系統停止を不要にして稼働率を向上し、更新後の特性試験を容易に行なえるようにして、更新期間を短縮する。例文帳に追加

To improve an operation ratio by eliminating a system stop in renewing each device and equipment configuring a digital control system, and to shorten a renewal interval by facilitating a characteristic test after renewal. - 特許庁

受信回路部2の性能による影響を受けることなく、且つ、外部に“001”パターン発生器20を用意しなくともDS3送信パルスマスク試験を行なうことができるディジタル伝送装置を提供する。例文帳に追加

To provide a digital transmission that is not susceptible to the effect of the performance of a reception circuit section 2 and can conduct a DS3 transmission pulse mask test without the need for a '001' pattern generator 20 at the outside of the transmission apparatus. - 特許庁

ディジタル変復調システム100のベースバンド処理装置104内にデータ収集装置107に対する入出力インタフェース部105を設けることにより、ベースバンド処理部で処理されたデータ収集がリアルタイムに行われ、り、車両に搭載したディジタル変復調システム100のフィールド試験時において、即座に送受信無線性能評価が可能になった。例文帳に追加

Data collection processed by a baseband processing part is carried out in real time and transmission and reception radio performance evaluation can be immediately performed in the field test mode of the digital modulation and demodulation system 100 mounted on the vehicle by providing an input-output interface part 105 with respect to a data collecting device 107 in a baseband processor 104 of the digital modulation and demodulation system 100. - 特許庁

計測機は、定期的に各アナログデータまたはディジタルデータを収集し、自機の記憶媒体または通信回線上に接続された記憶媒体にデータを保存し、収集した情報から各環境試験装置等の状態を判断し、その情報を表示する。例文帳に追加

The measuring instrument periodically collects the analog or digital data, saves the data on its storage medium or a storage medium connected to a communication line, determines the state of the respective environment test devices, etc., and displays their information. - 特許庁

例文

LEDの視認性が良く、不具合発生時に不具合の基板を迅速に特定でき、復旧作業時間を短縮し、スペア基板保有の費用を削減し、試験作業の効率を高められる手段を備えたディジタル保護・制御装置を提供する。例文帳に追加

To provide a digital protective controller which is excellent in visual perceptivity of LEDs and is equipped with a means capable of quickly specifying a faulty substrate on the occurrence of fault thereby shortening a retrieval work time, and reducing the cost of possession of a spare substrate and raising the efficiency in test work. - 特許庁

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