プロセス計測の英語

プロセス状態／外部入力推定手段４は、プロセス状態に関する非計測データを推定する。例文帳に追加

A process status/external input estimating means 4 estimates non-measurement data related to a process status. - 特許庁

光計測を用いた半導体製造プロセスのプロセスパラメータの測定方法例文帳に追加

METHOD OF MEASURING PROCESS PARAMETER OF SEMICONDUCTOR FABRICATION PROCESS USING OPTICAL MEASUREMENT - 特許庁

プロセス量検出器が取り付けられない計測点のプロセス量を適正に監視し記録できるプロセス監視装置を得ることである。例文帳に追加

To obtain a process monitoring device which appropriately monitors and records process quantity at a measuring point to which a process quantity detector can not be attached. - 特許庁

本プロセスは、オブジェクトを動かす最短距離を計測する。例文帳に追加

The process calculates the shortest distance to move the object. - 特許庁

パターン計測システム、パターン計測方法、プロセス管理方法及び露光条件決定方法例文帳に追加

PATTERN MEASURING SYSTEM, PATTERN MEASURING METHOD, PROCESS MANAGING METHOD, AND EXPOSURE CONDITION RESOLUTION METHOD - 特許庁

計測装置、リソグラフィ装置、プロセス装置、計測方法、及びデバイス製造方法。例文帳に追加

MEASURING INSTRUMENT, LITHOGRAPHY UNIT, PROCESS APPARATUS, MEASURING METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD - 特許庁

放射温度計測方法および装置、放射温度計測用部品、プロセス機器例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING RADIATION TEMPERATURE, PART FOR MEASURING RADIATION TEMPERATURE, AND PROCESS DEVICE - 特許庁

定着プロセスにおいて、トナーの変形とトナーにかかる荷重を同時に計測し、定着プロセスに関わるトナーの挙動を可視化計測することができる可視化計測方法および可視化計測装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a visualization measurement method and a visualization measurement apparatus capable of simultaneously measuring the deformation of toner and load applied to the toner in a fixing process and capable of visibly measuring toner behavior concerned with the fixing process. - 特許庁