process measurementとは 意味・読み方・使い方

To provide a process error measurement method and a process error measuring apparatus that minimize process errors, and an overlay measurement method and an overlay measuring apparatus that utilize them.例文帳に追加

工程エラーを最少化するための工程エラー測定方法及び装置と、これを利用したオーバーレー測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A measurement processing section 47 performs a measurement process based on the frame image or the odd-field image.例文帳に追加

計測処理部４７は、フレーム画像または奇数フィールド画像に基づいて計測処理を実行する。 - 特許庁

To suggest a process configuration reducing a load on signal processing of measurement data or a load on arithmetic processing of measurement data.例文帳に追加

計測データの信号処理又は演算処理負担を軽減する処理構成を提案する。 - 特許庁

The method of manufacturing the piezoelectric resonator includes a base side wafer measurement process S3, a load capacity value calculation process S4, a cover side wafer measurement process S5 and an etching process S7 in the previous process of a layout junction process S8.例文帳に追加

圧電共振子の製造方法は、配置接合プロセスＳ８の前工程に、基体側ウェハ測定プロセスＳ３と負荷容量値演算プロセスＳ４と蓋体側ウェハ測定プロセスＳ５とエッチングプロセスＳ７とを含む。 - 特許庁

(a) Does the person in charge of credit risk measurement at the financial institution have sufficient knowledge with regard to the measurement technique and understand the modeling process of credit risk measurement?発音を聞く 例文帳に追加

ａ．金融機関の担当者は、計測手法に関する知識を十分持ち、信用リスク計測のモデル化の過程について理解しているか。 - 金融庁

(i) Does the person in charge of market risk measurement at the financial institution have sufficient knowledge with regard to the measurement technique and understand the modeling process of market risk measurement?発音を聞く 例文帳に追加

（ⅰ）金融機関の担当者は、計測手法に関する知識を十分持ち、市場リスク計測のモデル化の過程について理解しているか。 - 金融庁

To provide a method to simulate a stress (strain) measurement process using a microscopic spectroscopic measurement, particularly a microscopic Raman measurement.例文帳に追加

顕微分光計測、特に、顕微ラマン計測を用いた応力（歪み）計測過程をシミュレートする方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, while a measurement process of the sample can be smoothly progressed, the measurement load of each measurement unit 41 can be uniformized.例文帳に追加

これにより、円滑に検体の測定処理を進めることができると共に、各測定ユニット４１の測定負荷を均一化することができる。 - 特許庁