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下陥凹の英語

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英訳・英語 recessus inferior omentalis; inferior recess of the omental bursa; inferior omental recess


JST科学技術用語日英対訳辞書での「下陥凹」の英訳

下陥凹


「下陥凹」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 119



例文

ダクト本体20内へ向けてする壁部36を壁部分24に形成する。例文帳に追加

A depressed recessed wall part 36 depressed and recessed toward the inside of the duct body 20 is formed on a lower wall part 24 on this vehicle air intake duct. - 特許庁

乾燥剤ホルダ43に方にんだ部45を形成し、部45内に冷媒洩れ検出用蛍光材48を配置する。例文帳に追加

A recessed part 45 recessed downward is formed in the drying agent holder 43, and a refrigerant leakage detecting fluorescent material 48 is arranged in the recessed part 45. - 特許庁

マンホール蓋の吊りげ用フック受棒を有する部カバー装置例文帳に追加

RECESSED SECTION COVERING DEVICE HAVING HOOK RECEIVING BAR FOR HANGING MANHOLE LID - 特許庁

部は、第1の平坦部及び該部が隣接する第1の端部において第1の平坦部より方に設置される。例文帳に追加

The depression section is located below the first flat section at a first end where the first flat section and the depression section are contiguous. - 特許庁

磁性金属被検体の凸量0.5μm以上6μm以の微小凸表面欠を検出する微小凸表面欠の検出方法であって、前記被検体の欠部の歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠を検出する。例文帳に追加

This method of detecting the micro surface roughness and defect detects the micro surface roughness and defect having 0.5-6 μm of roughness in the magnetic metal specimen, and detects the surface defect by detecting a signal caused by a strain in a defective part of the specimen. - 特許庁

クッションパッド2には、尻部4の面から上面側にする部10が設けられている。例文帳に追加

A recess 10 recessed from the lower surface toward the upper surface of the under-buttock part 4 is formed on the cushion pad 2. - 特許庁

例文

さらに、板状部材6の表面6aの欠(凸)が微小欠3(例えば0.2mm以の凸)であっても、微小欠3を目視により確実に検出できることになる。例文帳に追加

Even if the defects (the unevenness) on the surface 6a of the plate member 6 are the minute defects 3 such as the unevenness of 0.2 mm or less, the minute defects can be visually and surely detected. - 特許庁

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英和解剖学用語集での「下陥凹」の英訳

下陥凹(網嚢の)


日英・英日専門用語辞書での「下陥凹」の英訳

下陥凹


「下陥凹」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 119



例文

しかし、所3の内面を酸化処理すると、微小欠が取り除かれ、強度低を防止できる。例文帳に追加

However, the micro defects are removed by oxidation-processing the inside of the recess 3, the strength deterioration can be then prevented. - 特許庁

キズの検出能力を低させることなく、黒点やみなどの欠を同時に検出することができる欠検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect detection device capable of detecting simultaneously a black spot and a defect such as a hollow, without lowering a detection capacity of a flaw. - 特許庁

水素アニール時より短時間のうちに、ウェーハ加工起因の微小凸欠を低減または消滅させ、かつ微小凸欠を原因としたデバイスの歩留の低を無くすことができ、微小凸欠によるデバイスの歩留の低を無くせるシリコンウェーハの製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a silicon wafer capable of reducing or eliminating minute rough defects caused by wafer processing within a short period after hydrogen annealing, and capable of eliminating degradation in device yield which is caused by minute rough defects. - 特許庁

その後延出アーム32の面,上面に部44を形成する一方、ゴムストッパ34の対応する部分に部44を充填する充填部48を突出状態で設け、ゴムストッパ34を部44及び充填部48において形状拘束するようになす。例文帳に追加

Thereafter, a recessed part 44 is formed in a lower surface and an upper surface of the extension arm 32, and on the other hand, a filling part 48 for filling the recessed part 44 is provided by projecting in a corresponding part of the rubber stopper 34, and shape of the rubber stopper 34 is regulated by the recessed part 44 and the filling part 48. - 特許庁

レベリングブロック6の端部に、方に向けて開口する部22を形成し、前記ブーツ7を前記部22の内側上面22aに固定した。例文帳に追加

A recess portion 22 opening downward is formed on the lower end of the leveling block 6 and the boot 7 is fixed on an inside upper surface 22a of the recess portion 22. - 特許庁

エアバッグ収容ケース8の前壁部8b及び後壁部8cのうちエアバッグ5L,5R同士の当接部分の側に位置する部分に、それぞれ、これらの上縁部から方へした部10F,10Rが形成されている。例文帳に追加

Recesses 10F, 10R recessed downwardly from upper edges thereof are formed in parts located below abutted parts of the airbags 5L, 5R out of a front wall part 8b and a rear wall part 8c of an airbag storage case 8. - 特許庁

位相欠となる微小な凸欠や、透過光量の低を引き起こす微小なを低減できるマスクブランク用基板の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a mask blank substrate for decreasing minute projection defects resulting in phase defects or decreasing minute recess defects which induce decrease in transmitted light quantity. - 特許庁

例文

そして、受光素子の配列方向における上限ピークと限ピークとの関係に応じて部欠か、凸部欠かを判定して欠を検出する。例文帳に追加

According to the relationship between the upper-limit peak and the lower-limit peak in the arrangement direction of the light receiving elements, the recess defect and the protrusion defect are discriminated, and the defect is detected. - 特許庁

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