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下陥凹の英語
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英訳・英語 recessus inferior omentalis; inferior recess of the omental bursa; inferior omental recess
「下陥凹」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 119件
ダクト本体20内へ向けて陥凹する陥凹壁部36を下壁部分24に形成する。例文帳に追加
A depressed recessed wall part 36 depressed and recessed toward the inside of the duct body 20 is formed on a lower wall part 24 on this vehicle air intake duct. - 特許庁
乾燥剤ホルダ43に下方に凹んだ凹陥部45を形成し、凹陥部45内に冷媒洩れ検出用蛍光材48を配置する。例文帳に追加
A recessed part 45 recessed downward is formed in the drying agent holder 43, and a refrigerant leakage detecting fluorescent material 48 is arranged in the recessed part 45. - 特許庁
マンホール蓋の吊り下げ用フック受棒を有する凹陥部カバー装置例文帳に追加
RECESSED SECTION COVERING DEVICE HAVING HOOK RECEIVING BAR FOR HANGING MANHOLE LID - 特許庁
陥凹部は、第1の平坦部及び該陥凹部が隣接する第1の端部において第1の平坦部より下方に設置される。例文帳に追加
The depression section is located below the first flat section at a first end where the first flat section and the depression section are contiguous. - 特許庁
磁性金属被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法であって、前記被検体の欠陥部の歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出する。例文帳に追加
This method of detecting the micro surface roughness and defect detects the micro surface roughness and defect having 0.5-6 μm of roughness in the magnetic metal specimen, and detects the surface defect by detecting a signal caused by a strain in a defective part of the specimen. - 特許庁
クッションパッド2には、尻下部4の下面から上面側に凹陥する凹部10が設けられている。例文帳に追加
A recess 10 recessed from the lower surface toward the upper surface of the under-buttock part 4 is formed on the cushion pad 2. - 特許庁
さらに、板状部材6の表面6aの欠陥(凸凹)が微小欠陥3(例えば0.2mm以下の凸凹)であっても、微小欠陥3を目視により確実に検出できることになる。例文帳に追加
Even if the defects (the unevenness) on the surface 6a of the plate member 6 are the minute defects 3 such as the unevenness of 0.2 mm or less, the minute defects can be visually and surely detected. - 特許庁
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「下陥凹」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 119件
しかし、凹所3の内面を酸化処理すると、微小欠陥が取り除かれ、強度低下を防止できる。例文帳に追加
However, the micro defects are removed by oxidation-processing the inside of the recess 3, the strength deterioration can be then prevented. - 特許庁
キズの検出能力を低下させることなく、黒点や凹みなどの欠陥を同時に検出することができる欠陥検出装置を提供する。例文帳に追加
To provide a defect detection device capable of detecting simultaneously a black spot and a defect such as a hollow, without lowering a detection capacity of a flaw. - 特許庁
水素アニール時より短時間のうちに、ウェーハ加工起因の微小凹凸欠陥を低減または消滅させ、かつ微小凹凸欠陥を原因としたデバイスの歩留の低下を無くすことができ、微小凹凸欠陥によるデバイスの歩留の低下を無くせるシリコンウェーハの製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a manufacturing method of a silicon wafer capable of reducing or eliminating minute rough defects caused by wafer processing within a short period after hydrogen annealing, and capable of eliminating degradation in device yield which is caused by minute rough defects. - 特許庁
その後延出アーム32の下面,上面に凹陥部44を形成する一方、ゴムストッパ34の対応する部分に凹陥部44を充填する充填部48を突出状態で設け、ゴムストッパ34を凹陥部44及び充填部48において形状拘束するようになす。例文帳に追加
Thereafter, a recessed part 44 is formed in a lower surface and an upper surface of the extension arm 32, and on the other hand, a filling part 48 for filling the recessed part 44 is provided by projecting in a corresponding part of the rubber stopper 34, and shape of the rubber stopper 34 is regulated by the recessed part 44 and the filling part 48. - 特許庁
レベリングブロック6の下端部に、下方に向けて開口する凹陥部22を形成し、前記ブーツ7を前記凹陥部22の内側上面22aに固定した。例文帳に追加
A recess portion 22 opening downward is formed on the lower end of the leveling block 6 and the boot 7 is fixed on an inside upper surface 22a of the recess portion 22. - 特許庁
エアバッグ収容ケース8の前壁部8b及び後壁部8cのうちエアバッグ5L,5R同士の当接部分の下側に位置する部分に、それぞれ、これらの上縁部から下方へ凹陥した凹陥部10F,10Rが形成されている。例文帳に追加
Recesses 10F, 10R recessed downwardly from upper edges thereof are formed in parts located below abutted parts of the airbags 5L, 5R out of a front wall part 8b and a rear wall part 8c of an airbag storage case 8. - 特許庁
位相欠陥となる微小な凸欠陥や、透過光量の低下を引き起こす微小な凹欠陥を低減できるマスクブランク用基板の製造方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a method for manufacturing a mask blank substrate for decreasing minute projection defects resulting in phase defects or decreasing minute recess defects which induce decrease in transmitted light quantity. - 特許庁
そして、受光素子の配列方向における上限ピークと下限ピークとの関係に応じて凹部欠陥か、凸部欠陥かを判定して欠陥を検出する。例文帳に追加
According to the relationship between the upper-limit peak and the lower-limit peak in the arrangement direction of the light receiving elements, the recess defect and the protrusion defect are discriminated, and the defect is detected. - 特許庁
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