偏光解析装置の英語

解析中の光を出力可能な偏波アナライザ装置例文帳に追加

POLARIZED WAVE ANALYZER DEVICE CAPABLE OF OUTPUTTING LIGHT UNDER ANALYSIS - 特許庁

偏光解析測定方法および装置例文帳に追加

ELLIPSOMETRIC MEASUREMENT METHOD AND APPARATUS - 特許庁

次いで、試料の偏光解析装置の層厚（ｄ_ｅｌｌｉ）が偏光解析装置を用いて決定される。例文帳に追加

Then, thickness (d_elli) of the polarizing analysis device of the sample is determined using the polarizing analysis device. - 特許庁

偏光解析装置、偏光解析による異常検出方法、磁気記録媒体の製造方法、及び、半導体ウェーハの製造方法例文帳に追加

POLARIZATION ANALYZER, METHOD OF DETECTING ABNORMALITY BY POLARIZATION ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING MAGNETIC RECORDING MEDIUM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

偏光解析装置及び分光光度計により算出されるデータと測定値の一致を向上させる。例文帳に追加

To improve match of data calculated by a polarizing analysis device and a spectrophotometer with a measured value. - 特許庁

試料へ温度負荷を印加した状態でも容易に解析可能な偏光顕微鏡型の結晶方位解析装置および偏光顕微鏡方式の結晶方位解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a polarization microscope type crystal orientation analysis apparatus in which analysis is easily performed even in a state that a temperature load is applied on a sample, and to provide a polarization microscope type crystal orientation analysis method. - 特許庁

安価で耐久性のある偏光子アレイ、偏光センサー、およびそれを用いた偏光解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide inexpensive and durable polarizer array, a polarization sensor, and a polarization analysis device using the same. - 特許庁

偏光解析装置及び分光光度計を有する光学測定システムが較正され、先ず偏光解析装置と分光光度計が互いに独立して較正される。例文帳に追加

An optical measuring system having the polarizing analysis device and the spectrophotometer is calibrated, and the polarizing analysis device and the spectrophotometer are firstly calibrated independently. - 特許庁