半導体特性測定システムの英語

半導体チップの特性測定システム及びチップ特性測定方法例文帳に追加

CHARACTERISTIC MEASUREMENT SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR CHIP AND CHIP CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD - 特許庁

半導体装置、被測定素子の特性測定方法及び半導体装置の特性管理システム例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, MEASURING METHOD OF CHARACTERISTIC OF ELEMENT TO BE MEASURED AND CONTROL SYSTEM FOR CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体集積回路装置とその測定方法ならびにＡＣ特性測定システム例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, MEASURING METHOD THEREFOR, AND AC CHARACTERISTICS MEASURING SYSTEM - 特許庁

半導体ウエハ又はサンプルの電気特性を自動的に測定する方法とシステム例文帳に追加

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING ELECTRICAL PROPERTY OF SEMICONDUCTOR WAFER OR SAMPLE AUTOMATICALLY - 特許庁

半導体のような試料の表面特性を測定するためのシステムに関し、自己較正機能を備えたエリプソメータを提供する。例文帳に追加

To provide an ellipsometer with a self-calibrating capability regarding a system for measuring surface characteristics of a sample such as a semiconductor device. - 特許庁

半導体素子レイヤーの多様な特性を測定するための測定マークとそれを利用したキャリブレーション方法、測定システム及び測定してキャリブレーションするためのコンピュータプログラム製品を提供する。例文帳に追加

To provide marks for measuring the various characteristic of a semiconductor device layer, a calibration method using the same, a measurement system, and computer program products for measurement and calibration. - 特許庁

半導体装置の搬送系の時間短縮と半導体装置の外形に影響されない搬送系の汎用化、およびトレー上で電気的特性を測定することによる測定システムへの半導体装置単体の搬送時間を短縮することができるトレー水平搬送式ハンドラ装置を提供する。例文帳に追加

To provide a handler device for horizontally conveying a tray capable of shortening the conveying time of a single semiconductor device to a measuring system by shortening the time of the conveying system of the semiconductor devices, generalizing the conveying system unaffected by the outer shapes of the semiconductor devices, and measuring electric characteristics on the tray. - 特許庁