半導体自動検査装置の英語

異なる配線材が混成されている場合でも、外観検査を人手に頼らず自動的に行うことができる半導体外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor appearance inspection device capable of performing appearance inspection automatically without depending on manual labor, even when different wiring materials are mixed. - 特許庁

半導体基板の上に形成されたバンプの高さを高精度で自動的に検出できるバンプ検査方法及びバンプ検査装置を提供する。例文帳に追加

To detect, automatically with high accuracy, the height of a bump formed on a semiconductor substrate. - 特許庁

半導体ウエハ上に形成された微細な多数の半田バンプ等を自動的に検査することのできるウエハ検査用Ｘ線透視装置を提供する。例文帳に追加

To automatically inspect a large number of fine soldering bumps or the like formed on a semiconductor wafer. - 特許庁

半導体ウェハ等の被検査体の端部の欠陥の種類を効率的に自動判別することが可能な検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device that efficiently carries out automatic identification of the types of defects on an end portion of an object to be inspected such as a semiconductor wafer. - 特許庁

ハンドラーとテスターを連動化し、再検査作業をほぼ自動化してオペレータの作業負担を軽減すると共に、効率化を図ることができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。例文帳に追加

To obtain an apparatus and a method for inspecting a semiconductor capable of alleviating an operator's working load and enhancing an efficiency by interlocking a handler to a tester and substantially automating a rechecking work. - 特許庁

半導体装置を構成する半導体基板の裏面の傷や欠陥等を自動的に検出し、前記傷や欠陥等に対応する半導体チップを自動的に特定することができる半導体装置の検査方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor device inspection method which automatically specifies flaws, defects, or the like, of the back of a semiconductor substrate constituting a semiconductor device and can specify a semiconductor chip which corresponds to the flaws, defects, or the like. - 特許庁

半導体装置の回路配線の故障箇所を特定するのに必要な電流を自動的に作り出し、且つオープン故障箇所の特定ができる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method and an inspection device of a semiconductor device which can automatically produce a current required for locating a failure part of circuit wiring of the semiconductor device and locate an open failure part. - 特許庁

半導体デバイスの検査装置において、半導体デバイスの設計データを利用することで検査装置の複数のパラメータを自動的に設定可能とする機能をそなえた。例文帳に追加

An inspection apparatus for a semiconductor device is provided with a function by which a plurality of parameters of the inspection apparatus can be automatically set by using design data on the semiconductor device. - 特許庁