回路内試験の英語

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置及びその試験方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE HAVING BUILT-IN DLL CIRCUIT, AND ITS TESTING PROCESS - 特許庁

フラッシュＥＥＰＲＯＭ内蔵マイクロコンピュータの試験回路及びその試験方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT FOR MICROCOMPUTER HAVING BUILT-IN FLASH EEPROM, AND ITS TEST METHOD - 特許庁

試験室内の回路基板への結露を防止する環境試験装置及び環境試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for testing an environment which prevents condensation on a circuit board in a testing chamber. - 特許庁

パターン選択回路は、第１試験モード時に、パターン発生回路から出力される内部試験パターンを選択し、第２試験モード時に、試験端子を介して供給される外部試験パターンを選択し、選択した試験パターンをメモリチップに出力する。例文帳に追加

A pattern select circuit selects an internal test pattern output from the pattern generating circuit in a first test mode, and selects an external test pattern supplied through a test terminal in a second test mode to output the selected test pattern to the memory chip. - 特許庁

半導体集積回路は、内部試験回路により電気的試験が行われる複数の第１パッドと、外部の試験装置により電気的試験が行われる複数の第２パッドとを有する。例文帳に追加

A semiconductor integrated circuit has a plurality of first pads for which an internal test circuit conducts an electric test and a plurality of second pads for which an external test device conducts an electric test. - 特許庁

モータ制御回路および内視鏡操作部耐久試験装置例文帳に追加

MOTOR CONTROL CIRCUIT AND DURABILITY TEST DEVICE FOR ENDOSCOPE OPERATION PART - 特許庁

プリント配線板の内層回路評価用試験片及びその作成方法例文帳に追加

TEST PIECE FOR EVALUATING INNER LAYER CIRCUIT OF PRINTED WIRING BOARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。例文帳に追加

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale. - 特許庁