時間計測回路基板の英語

イニシエータ基板内に設けた時間の基準値を設定する設定手段（レイテンシータイマー時間設定用回路）により各マスター基板及びターゲット基板毎に設定された基準時間（レイテンシータイマー時間）を各バスサイクル毎に時間計測手段（レイテンシータイマー回路）に入力する。例文帳に追加

Reference time set for each of master substrate and target substrate by a setting means (circuit for latency timer time setting) provided inside the initiator substrate for setting the reference value of the inputted to a time measuring means (latency timer circuit) for each bus cycle. - 特許庁

集積回路、磁気ヘッド、磁気ディスク、太陽電池、光モジュール、発光ダイオード、液晶表示パネルなど基板上に成膜、レジスト塗布、露光、現像、エッチングなどを繰り返して形成するデバイスの出来栄えを、コストや時間をかけずに基板の隅々まで精度よく計測する。例文帳に追加

To accurately measure the outcome of a device even over an entire surface of a substrate with little cost and time, the device including an integrated circuit, a magnetic head, a magnetic disc, a solar cell, an optical module, a light emitting diode, a liquid crystal display panel and the like that are formed on a substrate by repetitively performing film formation, resist application, exposure, development and etching. - 特許庁

複数のインバータ回路２１が夫々が搭載される回路基板に、夫々容量が異なる判別用コンデンサ２２を配置し、コントローラ２０のＣＰＵ２４は、ＦＰＧＡ２３を介して判別用コンデンサ２２に対する充電を行い、その充電電位が所定の電位に達するまでの時間を計測することで、複数の駆動モジュール、即ちインバータ回路２１の種類を判別する。例文帳に追加

The drive controller includes judging capacitors 22 having different capacities and disposed on a circuit substrate which carries a plurality of inverter circuits 21, a CPU 24 of a controller 20 for charging the judging capacitors 22 through an FPGA 23 and measuring a time until the charging potential reaches a predetermined potential to judge the type of the plurality of the drive modules, namely, the inverter circuits 21. - 特許庁