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格子干渉計の英語
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英訳・英語 grating interferometer
「格子干渉計」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
干渉計測装置及び格子干渉式エンコーダ例文帳に追加
INTERFEROMETER AND LATTICE INTERFERENCE TYPE ENCODER - 特許庁
タルボ・ロー干渉計用の線源格子例文帳に追加
SOURCE GRATING FOR TALBOT-LAU-TYPE INTERFEROMETER - 特許庁
X線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにX線タルボ干渉計例文帳に追加
DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND X-RAY TALBOT INTERFEROMETER - 特許庁
EUV用シアリング干渉計の回折格子の回折方向測定方法例文帳に追加
DIFFRACTION DIRECTION MEASURING METHOD OF DIFFRACTION GRATING OF SHEARING INTERFEROMETER FOR EUV - 特許庁
X線干渉計用の回折格子及びその製造方法例文帳に追加
DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY INTERFEROMETER AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁
X線タルボ干渉計用位相型回折格子の製造方法例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER - 特許庁
X線干渉計用の回折格子について、格子間でのX線に対する透明性を向上させる。例文帳に追加
To improve transparency to x-rays in between gratings regarding a diffraction grating for an x-ray interferometer. - 特許庁
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「格子干渉計」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 50件
X線タルボ干渉計に用いられる位相型回折格子と振幅型回折格子の製造方法例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD FOR X-RAY PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING AND AMPLITUDE TYPE DIFFRACTION GRATING USED FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER - 特許庁
両光ヘテロダイン干渉装置30、40からの干渉信号により、測長位置Xにおける格子ピッチP(X)が計測できる。例文帳に追加
Those interference signals from both optical heterodyne interference devices 30 and 40 enable to measure a grid pitch P (X) at a measuring position X. - 特許庁
回折格子15は、レンズ8の瞳面でシアリング干渉を生じるように設計されている。例文帳に追加
The diffraction grating 15 is designed so as to generate shearing interference in the eye surface of the lens 8. - 特許庁
X線用透過型回折格子、X線タルボ干渉計およびX線撮像装置例文帳に追加
TRANSMISSION TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY, X-RAY TALBOT INTERFEROMETER AND X-RAY IMAGING APPARATUS - 特許庁
集積された光マルチビーム干渉計のアレイ導波路格子を提供する。例文帳に追加
To provide an array waveguide grating of an integrated optical multibeam interferometer. - 特許庁
1軸回折格子10または2軸回折格子の全面に光を照射し、+1次回折光と−1次回折光のそれぞれの波面情報をフィゾー型干渉計11などの形状計測用干渉計で評価する。例文帳に追加
Lights are applied to the entire surface of mono-axis diffraction grating 10 or bi-axis diffraction grating, and the respective wavefront information of plus first-order diffracted light and minus first-order diffracted light is evaluated by a shape measuring interferometer such as Fizeau type interferometer 11 or the like. - 特許庁
溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるX線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにX線タルボ干渉計を提供する。例文帳に追加
To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer. - 特許庁
X線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating. - 特許庁
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