「格子干渉計」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子の製造方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER - 特許庁

Ｘ線干渉計用の回折格子について、格子間でのＸ線に対する透明性を向上させる。例文帳に追加

To improve transparency to x-rays in between gratings regarding a diffraction grating for an x-ray interferometer. - 特許庁

Ｘ線タルボ干渉計に用いられる位相型回折格子と振幅型回折格子の製造方法例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD FOR X-RAY PHASE TYPE DIFFRACTION GRATING AND AMPLITUDE TYPE DIFFRACTION GRATING USED FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER - 特許庁

両光ヘテロダイン干渉装置３０、４０からの干渉信号により、測長位置Ｘにおける格子ピッチＰ（Ｘ）が計測できる。例文帳に追加

Those interference signals from both optical heterodyne interference devices 30 and 40 enable to measure a grid pitch P (X) at a measuring position X. - 特許庁

回折格子１５は、レンズ８の瞳面でシアリング干渉を生じるように設計されている。例文帳に追加

The diffraction grating 15 is designed so as to generate shearing interference in the eye surface of the lens 8. - 特許庁

Ｘ線用透過型回折格子、Ｘ線タルボ干渉計およびＸ線撮像装置例文帳に追加

TRANSMISSION TYPE DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY, X-RAY TALBOT INTERFEROMETER AND X-RAY IMAGING APPARATUS - 特許庁

集積された光マルチビーム干渉計のアレイ導波路格子を提供する。例文帳に追加

To provide an array waveguide grating of an integrated optical multibeam interferometer. - 特許庁

１軸回折格子１０または２軸回折格子の全面に光を照射し、＋１次回折光と−１次回折光のそれぞれの波面情報をフィゾー型干渉計１１などの形状計測用干渉計で評価する。例文帳に追加

Lights are applied to the entire surface of mono-axis diffraction grating 10 or bi-axis diffraction grating, and the respective wavefront information of plus first-order diffracted light and minus first-order diffracted light is evaluated by a shape measuring interferometer such as Fizeau type interferometer 11 or the like. - 特許庁

溝のアスペクト比の高い回折格子を容易かつ高精度で製造することができるＸ線タルボ干渉計用回折格子及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計を提供する。例文帳に追加

To provide a diffraction grating for an X-ray Talbot interferometer which can be manufactured with ease and high accuracy as the diffraction grating having high aspect ratio of a groove, a method for manufacturing the diffraction grating for the X-ray Talbot interferometer, and the X-ray Talbot interferometer. - 特許庁

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method for stably supplying a phase diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer and an amplitude diffraction grating. - 特許庁

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び／又は振幅型回折格子の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and/or an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer. - 特許庁

Ｘ線タルボ干渉計を構成する位相型回折格子及び振幅型回折格子の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a phase type diffraction grating and an amplitude type diffraction grating constituting an X-ray Talbot interferometer. - 特許庁

変位検出装置は、回折格子２と、格子干渉計４，５と、相対位置情報出力手段６，７とを備えている。例文帳に追加

A displacement detector includes a diffraction grating 2, grid interferometers 4 and 5, and relative position information output means 6 and 7. - 特許庁

Ｘ線タルボ回折格子の製造方法、Ｘ線タルボ回折格子、Ｘ線タルボ干渉計及びＸ線位相イメージング装置例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING X-RAY TALBOT DIFFRACTION GRATING, X-RAY TALBOT DIFFRACTION GRATING, X-RAY TALBOT INTERFEROMETERS AND X-RAY PHASE IMAGING APPARATUS - 特許庁

Ｘ線タルボ干渉計に用いられるＸ線位相型回折格子及びＸ線振幅型回折格子の製造方法を提案する。例文帳に追加

To provide manufacturing methods for an X-ray phase type diffraction grating and an X-ray amplitude type diffraction grating used for an X-ray Talbot interferometer. - 特許庁

斜入射干渉計１は、レーザ光源２と、第１回折格子３と、第２回折格子４とを備える。例文帳に追加

The oblique incidence interferometer 1 includes a laser light source 2; a first diffraction grating 3; and a second diffraction grating 4. - 特許庁

波長特性の温度依存性を低減することができる、低損失のマッハ・ツェンダ干渉計、アレイ導波路回折格子及びマッハ・ツェンダ干渉計の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a low-loss Mach-Zehnder interferometer which can reduce temperature dependence of wavelength characteristics, and to provide an arrayed waveguide diffraction grating and a method for manufacturing the Mach-Zehnder interferometer. - 特許庁

回折格子からの＋１次回折光または−１次回折光と、フィゾー型干渉計１２の内部に搭載されている参照用オプティカルフラット１２からの参照光が重なり合うように、形状計測用干渉計に対して回折格子を相対的に傾ける。例文帳に追加

The diffraction grating is relatively inclined to the shape measuring interferometer so that the plus first-order diffracted light or minus first-order diffracted light from the diffraction grating and reference light from a reference optical flat 12 provided inside the Fizeau type interferometer 12 may be overlapped. - 特許庁

小型低損失アレイ導波路格子に結合された低減駆動電圧を有する非対称マッハ・ツェンダー干渉計例文帳に追加

ASYMMETRIC MACH-ZEHNDER INTERFEROMETER HAVING REDUCED DRIVE VOLTAGE COUPLED TO COMPACT LOW-LOSS ARRAYED WAVEGUIDE GRATING - 特許庁

ファブリペロー干渉計５と凹面回折格子７とで光をＹ−Ｚ面とＸ−Ｚ面とにおける射出角を波長毎に異ならせる。例文帳に追加

By the Fabry-Perot interferometer 5 and the concave diffraction grating 7, emission angles on a Y-Z plane and an X-Z plane are made different for each wavelength. - 特許庁

第１および第２回折格子（Ｇ１、Ｇ２）の１つは、干渉計のミラー（ＭＩ）を設けるためにある程度の０次反射をさらに示してもよい。例文帳に追加

One of the first and second diffraction gratings (G1, G2) may further show some degree of zero order reflection to provide the mirror (MI) of the interferometer. - 特許庁

単結晶ダイヤモンド切削刃具及びその製造方法、並びにＸ線タルボ干渉計用回折格子の製造方法例文帳に追加

SINGLE CRYSTAL DIAMOND CUTTING TOOL, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY TALBOT INTERFEROMETER - 特許庁

干渉計は、回折格子２１、コンデンサーレンズ２２、透明板２３、フィールドレンズ２４および撮像素子２５をこの順に配置させている。例文帳に追加

In the interferometer, a diffraction grating 21, a condenser lens 22, a transparent plate 23, a field lens 24, and an imaging element 25 are arranged in this order. - 特許庁

露光マスクを必要とせず、Ｘ線タルボ干渉計用位相型回折格子を容易かつ高精度で製造することができる方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method capable of easily and highly accurately manufacturing a phase type diffraction grating for an x-ray Talbot interferometer without requiring an exposure mask. - 特許庁

格子干渉計４，５は、光源３と、反射手段１２，１３と、ビームスプリッタ１７と、受光手段１８，１９とを有している。例文帳に追加

The grid interferometers 4 and 5 include a light source 3, reflection means 12 and 13, a beam splitter 17, and light receiving means 18 and 19. - 特許庁

ビームスプリッターに透過型回折格子を用いることで、比較的安価で取扱い易く、透過効率の高い軟Ｘ線干渉計を提供する。例文帳に追加

To provide a soft X-ray interferometor with high penetration efficiency, relatively inexpensive and easy to handle by using a transmission grating as a beam splitter. - 特許庁

Ｘ線タルボ干渉計に用いる高アスペクト比のＸ線回折格子を安定的に供給可能な製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method which makes it possible to stably supply X-ray diffraction gratings with a high aspect ratio to be used for an X-ray Talbot interferometer. - 特許庁

第２の格子は放射源の回折像を受け取る焦点面に配置されており、シアリング干渉計を形成している。例文帳に追加

A second grating is disposed on the focal surface to receive the refractive image of an irradiating light to form a Shearing interferometer. - 特許庁

回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、被検光学系の波面収差を高精度に計測する。例文帳に追加

To measure the wavefront aberration of an optical system to be examined based on an interference fringe obtained using a diffraction grating. - 特許庁

回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、被検光学系の波面情報を効率的に、かつ高精度に計測する。例文帳に追加

To efficiently and precisely measure wavefront information of an optical system to be inspected, based on interference fringes obtained by a diffraction grating. - 特許庁

ミラー（反射）型光学系に対する回折格子シアリング干渉計を用いた波面収差計測機において、２重の回折干渉を行うので０次光や高次の回折光が重なってしまい解析が困難になってしまうことを防止する。例文帳に追加

To provide a wave aberration measuring machine using a diffraction grating shearing interferometer for a mirror (reflection) type optical system, which can prevent the analysis of zero-order light or high-order overlapped diffracted light from becoming difficult caused by double diffraction interference. - 特許庁

回折格子を用いたシアリング干渉計測装置において、使用波長が同じでピッチの異なる回折格子を二種類以上と、前記使用波長と異なる第二の使用波長用の回折格子を少なくとも一種類を同一の基板、または、同一の支持体上に構成したことを特徴とする。例文帳に追加

In the shearing interferometer using diffraction gratings, two or more kinds of diffraction gratings which have the same operating wavelength and different pitches, and at least one kind of diffraction grating which has an operating wavelength differing from the same operating wavelength, are made up on their common substrate or support body. - 特許庁

トールボット干渉計は、光源１から発せられて被検光学系Ｌを通った光を、回折格子３および撮像素子４を含むセンサ部Ｍに導き、被検光学系の波面を計測する。例文帳に追加

The Talbot interferometer guides light that is emitted by a light source 1 and passes through an inspection-object optical system L to a sensor part M that includes a diffraction grating 3 and an image pickup device 4 to measure a wave front of the inspection-object optical system. - 特許庁

移動体の上面に設けられたスケール（回折格子）に計測ビームを投射し、そのスケールにて発生する複数の回折ビームから生成される干渉光（強度Ｉ）を受光して、回折格子の周期方向に関するステージの位置情報（変位ΔＹに係わる位相φ）を計測する。例文帳に追加

A measurement beam is projected on a scale (diffraction grating) provided on an upper surface of the moving body, and interference light (intensity I) generated by a plurality of diffracted beams generated through the scale is received to measure position information (a phase ϕ associated with displacement ΔY) of a stage relating to a period direction of the diffraction grating. - 特許庁

本発明の一実施形態によれば、マッハツェンダ干渉計とアレイ導波路回折格子とを組み合わせて、透過スペクトルを平坦化した波長合分波器において、チャネル間の挿入損失を均一化することができる。例文帳に追加

The insertion loss between channels can be uniformized in the wavelength multiplexer/demultiplexer in which transmission spectrum is planarized by combining a Mach-Zehnder interferometer and an array waveguide diffraction grating. - 特許庁

別の実施形態において、センサはマッハ−ツェンダー干渉計（ＭＺＩ）を有し、その一方のアームは２つのブラッグ格子によって形成された共振器を有する。例文帳に追加

In another embodiment, the sensor has a Mach-Zehnder interferometer (MZI), one arm of which has a resonator formed by two Bragg gratings. - 特許庁

非対称マッハ・ツェンダー干渉計（ＭＺＩ）は、低いリプルを有するより広範な通過帯域を提供するために、小型低損失アレイ導波路格子（ＡＷＧ）に結合された低減駆動電圧を有する。例文帳に追加

The asymmetric Mach-Zehnder interferometer (MZI) has a reduced drive voltage coupled to a compact low-loss arrayed waveguide grating (AWG) to provide a broader passband with low ripple. - 特許庁

基板２２上に金属膜２０ｂｘを切削して形成したＸ線吸収部２０ｂが、一方向に沿って所定間隔で畝状に複数形成されているＸ線タルボ干渉計用回折格子２０である。例文帳に追加

A diffraction grating 20 for an X-ray Talbot interferometer has a plurality of X-ray absorption parts 20b formed on a substrate 22 by cutting a metal film 20bx in a wavy shape at prescribed intervals in one direction. - 特許庁

２次元の回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、不要な回折光の影響を抑制して、被検光学系の波面情報を高精度に計測する。例文帳に追加

To highly accurately measure the wavefront information of an optical system to be expected by suppressing an influence of unwanted diffracted light based on an interference fringe obtained using a two-dimensional diffraction grating. - 特許庁

アレイ導波路格子型合分波器１０は、入力導波路２１，２２と出力導波路２３，２４を２つずつ有する一つのアレイ導波路格子（ＡＷＧ）２０とマッハツェンダー干渉計型インターリーバ３０とを組み合わせた構成を有する。例文帳に追加

The arrayed wave guide grating demultiplexer 10 is built in a configuration combining an arrayed wave guide grid (AWG)20 which has input wave guide paths 21, 22 and output wave guide paths 23, 24 and a Mach-zehnder interferometer interleaver 30. - 特許庁

干渉計による計測位置決め誤差と、回折格子を用いる位置検出センサーによるアッベの原理に基づく誤差の両者を排除し、気体ゆらぎの影響低減と計測精度の向上を図るステージ位置計測および位置決め装置である。例文帳に追加

To reduce the effect of gas fluctuation and improve measurement accuracy, by eliminating both of positioning error of measurement with an interferometer and an error due to principles of Abbe by position detection sensor using diffraction grating. - 特許庁

高波長分散の平行干渉計（A）と低波長分散の回折格子（B）をそれぞれの波長分散方向が直交するように組合せ分光装置を構成し、分光装置で、２次元的に広がった光を２次元アレイ型光検出部（５０）を設け、光計測装置を構成する。例文帳に追加

The combination spectrograph is constituted to make respective wavelength dispersing directions of a parallel interferometer A of high wavelength dispersion and a diffraction grating B of low wavelength dispersion orthogonal each other, and a two-dimensional array type optical detecting part 50 is provided to detect light dispersed two-dimensionally by the spectrograph, so as to constitute the optical measuring instrument. - 特許庁

波長分離素子、波長多重素子としてはアレイ導波路格子を使用可能な他、多段マッハツェンダ型干渉計、バルク型光フィルタ、あるいはファイバ型（または導波路型）グレーティングを多段接続した光フィルタ等の使用も可能である。例文帳に追加

The wavelength separator and the wavelength multiplexer can use an array waveguide lattice in addition to a multi-stage Mach-Zehnder interferometer, a bulk type optical filter or an optical filter containing the fiber type (or waveguide type) gratings connected together in a multi-stage form, etc., respectively. - 特許庁

本発明の一実施形態による波長監視付きフィルタは、２つの入力と２つの出力を有するマッハツェンダー干渉計（ＭＺＩ）と、前記２つの出力に接続された２つのアレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）とから構成される。例文帳に追加

The filter with a wavelength monitor comprises: a Mach-Zehnder interferometer (MZI) having two inputs and two outputs; and two arrayed waveguide diffraction gratings (AWG) connected to the two outputs of the MZI. - 特許庁

多数（Ｎ個）の導波路ｉからなる集積された光マルチビーム干渉計のアレイ導波路格子１のトリミングのために、これらの導波路ｉの少なくとも１つｊが、コア屈折率ｎ_ｊを変化させる照射によってのみ、その光路長Ｌ_ｊに沿った領域Ｂ_ｊにわたって処理される。例文帳に追加

In order to trim the array waveguide grating 1 of the integrated optical multibeam interferometer consisting of many (N) waveguides (i), at least one of those waveguides (i) is processed over an area Bj of its optical path length Lj only by irradiation varying the core refractive index nj. - 特許庁