標準セル法の英語

これにより、ゲート仕上がり寸法がばらついても標準セルの動作には影響を与えないので、標準セルの特性のばらつきを抑制することができる。例文帳に追加

Thereby, the variations of finished dimension of the gate do not affect the operation of the standard cell, so that the characteristics of standard cells are controlled. - 特許庁

これにより、ゲート仕上がり寸法がばらついても標準セルの動作には影響を与えないので、標準セルの特性のばらつきを抑制することができる。例文帳に追加

Therefore, since an operation of a standard cell is not affected even if a gate trim size varies, the variation can be controlled in the characteristics of a standard cell. - 特許庁

集積回路レイアウトを自動的に形成する方法は、第１のセル高さを決定する工程５１０と、第１のセル高さを有する複数の標準的なセルを製作する工程５２０と、複数の標準的なセルから、複数の標準的なセルを配置配線させることにより集積回路レイアウトを形成させる工程５３０とを含む。例文帳に追加

The method of automatically forming the integrated circuit layout includes: a process 510 of determining a first cell height; a process 520 of manufacturing a plurality of standard cells each having the first cell height; and a process 530 of forming the integrated circuit layout from the plurality of standard cells by arranging and wiring the plurality of standard cells. - 特許庁

本発明は、一般に、プロセステスタ及び標準光電池セルプロセスを使用してプロセステスタを製造するための方法に関する。例文帳に追加

The present invention generally relates to process testers and methodology of fabricating the same, using standard photovoltaic cell processes. - 特許庁

同じセル高さを有する複数の標準的なセルにより集積回路レイアウトを形成し、レイアウトの配列を最適化させることが可能な集積回路レイアウトを自動的に形成する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of automatically forming an integrated circuit layout optimizing the arrangement of the layout by forming the integrated circuit layout by a plurality of standard cells having the same cell height. - 特許庁

エミッション電流密度の分布特性を測定し、その平均値avと標準偏差divから統計的手法を用いて、ピクセルあるいはサブピクセル当たりに必要なエミッションサイト数を見積もる。例文帳に追加

The number of emission sites required for each pixel or sub-pixel is estimated by measuring a distribution characteristic of emission current density, and by using a statistical technique from its average value av and a standard deviation div. - 特許庁

標準セルＳｃ１を配列して半導体集積回路を設計する方法において、標準セルＳｃ１を構成するゲートパターン５の端部に、該ゲートパターン５と垂直な方向にダミーパターン３を配置し、該ダミーパターン３の配置により、ゲートパターン５の端部での該ゲートパターンの占有密度の低下を補う。例文帳に追加

In a method for designing the semiconductor integrated circuit by arraying standard cells Sc1, at the ends of gate patterns 5 constituting the standard cells Sc1, dummy patterns 3 are disposed in the direction perpendicular to the gate patterns 5, and reduction in the gate pattern possession density at the ends of the gate patterns 5 is compensated by disposing the dummy patterns 3. - 特許庁

現在、国際標準化委員会○○では、基地局セル内に存在する各携帯端末機の位置情報に応じた情報提供方法として以下のようなものが提案されている。例文帳に追加

Currently, the International Standardization Committee XXX has proposed the following process for providing information according to the positional information of portable terminal devices located within the certain cell site of the base station発音を聞く  - 特許庁