標準検査法の英語

コンタクトホール検査用標準試料、その製造方法およびコンタクトホール検査方法例文帳に追加

STANDARD SAMPLE FOR CONTACT HOLE INSPECTION, MANUFACTURE THEREOF AND INSPECTION OF THE CONTACT HOLE - 特許庁

標準ＡＰＩ使用方法の検査装置及びその検査方法と、標準ＡＰＩ使用方法検査プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体と、アプリケーション検査システム及びその検査方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING STANDARD API USING METHOD, INSPECTION PROGRAM FOR THE METHOD, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH THE PROGRAM, APPLICATION INSPECTION SYSTEM AND ITS METHOD - 特許庁

五　細菌学的検査にあつては、標準微生物の株の取扱いの方法例文帳に追加

5. Methods for handling standard microbe strains for bacteriological inspections発音を聞く  - 日本法令外国語訳データベースシステム

標準１２誘導心電図の構築方法および心電図検査装置例文帳に追加

CONSTRUCTION METHOD OF STANDARD 12 LEAD ELECTROCARDIOGRAM AND ELECTROCARDIOGRAM INSPECTION APPARATUS - 特許庁

検査用標準試料の製造方法、半導体集積回路の製造装置の検査方法および半導体集積回路装置の検査方法例文帳に追加

METHOD OF MAKING STANDARD SAMPLE FOR INSPECTION, METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING APPARATUS, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

標準検査基板に非標準メモリ素子を装着して実際の動作環境で実装検査できるようにするインタフェース基板、検査システム及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an interface substrate, an inspection system, and an inspecting method, for making it possible to inspect a nonstandard memory element mounted on a standard substrate for inspection in an actual operating environment. - 特許庁

実際の動作環境で非標準メモリ素子を検査する検査システム及び方法は、検査基板１７０上において非標準ピン構成を標準ピン構成に対応させたインタフェース基板１００を使用することによって、非標準メモリ素子に適用することができる。例文帳に追加

The system and method for inspecting nonstandard memory elements in an actual operating environment are applicable to nonstandard memory elements by using an interface substrate 100 for adapting a nonstandard pin configuration to a standard pin configuration on a substrate 170 to be inspected. - 特許庁

非標準メモリ素子を実際の動作環境で検査するためのインタフェース基板、検査システム及び検査方法例文帳に追加

INTERFACE SUBSTRATE, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTING METHOD FOR INSPECTING NONSTANDARD MEMORY ELEMENT IN ACTUAL OPERATING ENVIRONMENT - 特許庁