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INSPECTING STANDARDとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 検査基準
「INSPECTING STANDARD」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 45件
INSPECTION STANDARD DETERMINATION METHOD AND DEVICE, AND APPEARANCE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
検査基準決定方法、検査基準決定装置、及び外観検査装置 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING ELECTRODE OF OXIDATION-REDUCTION POTENTIAL MEASURING APPARATUS, AND STANDARD SOLUTION FOR INSPECTING ELECTRODE OF OXIDATION-REDUCTION POTENTIAL MEASURING APPARATUS例文帳に追加
酸化還元電位測定装置の電極検査方法及び酸化還元電位測定装置の電極検査用の標準液 - 特許庁
STANDARD SAMPLE FOR INSPECTING MOISTURE AMOUNT MEASURING INSTRUMENT, SAMPLE SET, AND INSPECTION METHOD OF MOISTURE AMOUNT MEASURING INSTRUMENT USING STANDARD SAMPLE例文帳に追加
水分量測定装置検定用標準試料、試料セット及びそれを利用した水分量測定装置検定方法 - 特許庁
METHOD OF MAKING STANDARD SAMPLE FOR INSPECTION, METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING APPARATUS, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加
検査用標準試料の製造方法、半導体集積回路の製造装置の検査方法および半導体集積回路装置の検査方法 - 特許庁
The host computer 14 compares standard inspection results received from the inspecting device of an arbitrary manufacturing department with standards specified in a standard file.例文帳に追加
ホストコンピュータ14は、任意の製造部門の検査装置から受信した規格検査結果と規格ファイルに規定された規格とを比較する。 - 特許庁
To provide an inspection system and the like capable of applying the IEEE1194.1 standard, when inspecting a connection condition between an electronic element not based on the IEEE1194.1 standard and an electronic element based on the IEEE1194.1 standard.例文帳に追加
IEEE1194.1規格に準拠していない電子素子と準拠した電子素子との間の接続状態を検査する場合に当該規格を適用することが可能な検査システム等を提供する。 - 特許庁
Additionally, in inspection using the inspecting tool, when both external threads that the inspecting tool has can be fitted to the taper internal thread to be inspected, it is determined that the taper internal thread meets the standard.例文帳に追加
また、この検査具を用いた検査では、検査具に備えた両方の雄ねじが検査対象のテーパ雌ねじに装着できれば、テーパ雌ねじが規格を満たしていると判断する。 - 特許庁
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「INSPECTING STANDARD」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 45件
To provide an assembly inspecting device that can eliminate variations in inspection results caused by depending on the subjective judgment of each inspector, to regularly perform inspections based on an objective judgmental standard, and to provide an assembly inspecting method.例文帳に追加
各検査員の主観的判断に依拠するために生じる検査結果のバラツキをなくし、常に客観的な判断基準で検査を行える組立品検査装置および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a surface foreign matter inspecting method and inspecting device capable of conveniently making a total inspection for comparatively large foreign matter or a flaw or the like on a wafer or a liquid crystal substrate in a state of inspection standard is constant.例文帳に追加
検査基準が一定の状態でウエハや液晶基板上の比較的大きな異物、傷等の全数検査を簡便に行うことができる表面異物検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁
In the taper internal thread inspecting tool, a taper external thread of the upper limit in standard defining an external thread that is screwed to a specified taper internal thread and a taper external thread of the lower limit in the standard are mounted to both the ends of one shaft.例文帳に追加
所定のテーパ雌ねじに螺合する雄ねじについて定められている規格内の上限のテーパ雄ねじと規格内の下限のテーパ雄ねじとを、一本の軸の両端に取り付けて検査具とする。 - 特許庁
To provide a device for inspecting a display device capable of providing a suitable inspection standard and increasing the yield of a product with an inexpensive device configuration.例文帳に追加
安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供する。 - 特許庁
A pair of standard protrusions 59A and 59B are protruded on the end surfaces in the width direction of the door 50 and are used for inspecting the curvature shape of the door 50.例文帳に追加
ドア50の幅方向端面には一対の基準突起59A、59Bが突設されており、該ドア50の湾曲形状の検査用とされている。 - 特許庁
To provide a display panel inspection device and an inspection method for securing inspection reliability, when inspecting a non-standard inspection item by using an external inspection machine.例文帳に追加
規格外の検査項目を、外部検査機を使用して検査する場合に検査の信頼度を確保することができる表示パネル検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
In an inspecting part 11, the propagation delay time of a signal in each path in a circuit is analyzed, and whether or not a predetermined success standard is fulfilled for each path is checked.例文帳に追加
検査部11において、回路中の各パスにおける信号の伝播遅延時間が解析され、パスごとに所定の合格基準を満たしているか検査される。 - 特許庁
To solve a problem wherein, in a method for inspecting a substrate having an optical surface, since a method for properly inspecting the surface of a substrate especially duplicated from a primary standard or master is not developed, the mass production of a highly densified recording medium or optical element is delayed.例文帳に追加
光学的な表面を有する基板の検査方法において、特に、原器あるいはマスターから複製される基板の適切な表面検査方法が開発されていないため、高密度化する記録媒体や光学素子の量産化が遅れている。 - 特許庁
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