「INSPECTING STANDARD」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an inspection system and the like capable of applying the IEEE1194.1 standard, when inspecting a connection condition between an electronic element not based on the IEEE1194.1 standard and an electronic element based on the IEEE1194.1 standard.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１１９４．１規格に準拠していない電子素子と準拠した電子素子との間の接続状態を検査する場合に当該規格を適用することが可能な検査システム等を提供する。 - 特許庁

Additionally, in inspection using the inspecting tool, when both external threads that the inspecting tool has can be fitted to the taper internal thread to be inspected, it is determined that the taper internal thread meets the standard.例文帳に追加

また、この検査具を用いた検査では、検査具に備えた両方の雄ねじが検査対象のテーパ雌ねじに装着できれば、テーパ雌ねじが規格を満たしていると判断する。 - 特許庁

To provide an assembly inspecting device that can eliminate variations in inspection results caused by depending on the subjective judgment of each inspector, to regularly perform inspections based on an objective judgmental standard, and to provide an assembly inspecting method.例文帳に追加

各検査員の主観的判断に依拠するために生じる検査結果のバラツキをなくし、常に客観的な判断基準で検査を行える組立品検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface foreign matter inspecting method and inspecting device capable of conveniently making a total inspection for comparatively large foreign matter or a flaw or the like on a wafer or a liquid crystal substrate in a state of inspection standard is constant.例文帳に追加

検査基準が一定の状態でウエハや液晶基板上の比較的大きな異物、傷等の全数検査を簡便に行うことができる表面異物検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the taper internal thread inspecting tool, a taper external thread of the upper limit in standard defining an external thread that is screwed to a specified taper internal thread and a taper external thread of the lower limit in the standard are mounted to both the ends of one shaft.例文帳に追加

所定のテーパ雌ねじに螺合する雄ねじについて定められている規格内の上限のテーパ雄ねじと規格内の下限のテーパ雄ねじとを、一本の軸の両端に取り付けて検査具とする。 - 特許庁

To provide a device for inspecting a display device capable of providing a suitable inspection standard and increasing the yield of a product with an inexpensive device configuration.例文帳に追加

安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

A pair of standard protrusions 59A and 59B are protruded on the end surfaces in the width direction of the door 50 and are used for inspecting the curvature shape of the door 50.例文帳に追加

ドア５０の幅方向端面には一対の基準突起５９Ａ、５９Ｂが突設されており、該ドア５０の湾曲形状の検査用とされている。 - 特許庁

To provide a display panel inspection device and an inspection method for securing inspection reliability, when inspecting a non-standard inspection item by using an external inspection machine.例文帳に追加

規格外の検査項目を、外部検査機を使用して検査する場合に検査の信頼度を確保することができる表示パネル検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

In an inspecting part 11, the propagation delay time of a signal in each path in a circuit is analyzed, and whether or not a predetermined success standard is fulfilled for each path is checked.例文帳に追加

検査部１１において、回路中の各パスにおける信号の伝播遅延時間が解析され、パスごとに所定の合格基準を満たしているか検査される。 - 特許庁

To solve a problem wherein, in a method for inspecting a substrate having an optical surface, since a method for properly inspecting the surface of a substrate especially duplicated from a primary standard or master is not developed, the mass production of a highly densified recording medium or optical element is delayed.例文帳に追加

光学的な表面を有する基板の検査方法において、特に、原器あるいはマスターから複製される基板の適切な表面検査方法が開発されていないため、高密度化する記録媒体や光学素子の量産化が遅れている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of judging whether a subtle difference in delay time to be provided by delay circuits is within a standard value, and to provide a method of inspecting the semiconductor device.例文帳に追加

遅延回路により与えられる微小な遅延時間値が規格値内であるか否かを判断することが可能な半導体装置および半導体装置の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an interface substrate, an inspection system, and an inspecting method, for making it possible to inspect a nonstandard memory element mounted on a standard substrate for inspection in an actual operating environment.例文帳に追加

標準検査基板に非標準メモリ素子を装着して実際の動作環境で実装検査できるようにするインタフェース基板、検査システム及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a standard item efficiently measurable with excellent reproducibility and repeatedly usable as contrast when inspecting a medicine containing sealed vessel for pinholes (liquid leakage and air leakage).例文帳に追加

医薬品入り密封容器のピンホール（液漏れ・空気漏れ）を検査する際に、対照として、効率よく、また再現性よく測定でき、しかも反復使用が可能な標準品を提供すること。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING STANDARD API USING METHOD, INSPECTION PROGRAM FOR THE METHOD, RECORDING MEDIUM RECORDED WITH THE PROGRAM, APPLICATION INSPECTION SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

標準ＡＰＩ使用方法の検査装置及びその検査方法と、標準ＡＰＩ使用方法検査プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体と、アプリケーション検査システム及びその検査方法 - 特許庁

To realize the calibration of an inspecting device in a high accuracy by realizing standard samples for the calibration, in which recesses extremely similar to crystal defects are arranged, when the crystal defects are inspected.例文帳に追加

較正用標準試料に関し、結晶欠陥に極めて近似した凹所が配列された較正用標準試料を実現させ、結晶欠陥を検査する際の検査装置の較正を高い精度で実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a technique capable of estimating the present thickness reduced depth, the specific resistance of the medium present around a corrosion inspecting target and remaining life on the basis of a rational standard and capable of effectively utilizing industrial resources.例文帳に追加

現在の減肉深さ、腐食検討対象物周りに存する媒質の比抵抗、さらに余寿命を合理的な基準に基づいて推定し、産業資源を有効に利用できる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a film spooling state in a film manufacturing apparatus by which the spooling state of a standard length film to a film cartridge is highly accurately inspected with a simple and inexpensive configuration, and to provide an apparatus for the same.例文帳に追加

簡易且つ安価な構成で定尺フイルムのパトローネに対する巻込状態を高精度に検査することのできるフイルム製造装置におけるフイルム巻込状態検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

If a divergence width of a measurement waveform of an inspecting printed board and a standard waveform of a reference printed board is not enough to determine whether or not the board is good, measurement again takes place after changing the output impedance of the pulse generator 41.例文帳に追加

検査用プリント基板の測定波形と参照用プリント基板の基準波形との乖離幅が十分でなく良否判定が困難な場合には、パルス発生器４１の出力インピーダンスを変更して再測定を行なう。 - 特許庁

To provide a display inspection apparatus capable of inspecting a display quality of an FPD (Flat Panel Display) product automatically based on a unified objective standard, and shortening greatly an inspection time per sheet.例文帳に追加

ＦＰＤ製品の表示品質の検査を統一化された客観的な基準で自動化して行うことが可能で、かつ一枚当たりの検査時間を大幅に短縮することができるディスプレイ検査装置の提供を課題とする。 - 特許庁

By combining a calibration certificate retrieval system and an inspecting measurement apparatus having an inspection standard to measurement traceability allowing bringing-in calibration or remote calibration to a national measurement standard organization and a calibration company, a calibration certificate is sequentially traced back in hierarchies via the Internet and is retrieved, and a chain to a national measurement standard is confirmed to rapidly guarantee or certificate reliability of inspection results.例文帳に追加

本発明は、校正事業者及び国家計量標準機関までの遠隔校正或いは持ち込み校正を可能にする計量トレーサビリティーに、検査基準をもつ検査用計測機器及び校正証明書検索システムを組み合わせることにより、インターネットを介して校正証明書を順次階層を遡って検索し、国家計量標準に至る連鎖を確認して検査結果の信頼性を迅速に保証あるいは証明する。 - 特許庁

To reduce undetected error decision in an erroneous/missing product inspection method for inspecting rightness of assembly parts, or the like by comparing a pattern extracted from the captured image of the assembly parts with a standard pattern, and to increase reliability in an inspection result.例文帳に追加

組付部品の撮像画像から抽出したパターンを標準パターンと比較することにより当該組付部品の正誤等を検査する誤欠品検査方法における誤判定の見逃しを低減し、検査結果の信頼性を高める。 - 特許庁

A flaw detection result diagnosis device 13 compares the reception information when inspecting the piping 1 which is the inspection object with the reception information used as the standard stored in the flaw detection result storage device 12 to extract significant reception information originated in the flaw.例文帳に追加

探傷結果診断装置１３は、検査対象の配管１を検査した際の受信情報と、探傷結果記憶装置１２に記憶させた基準と成る受信情報とを比較して、欠陥に由来した有意な受信情報を抽出する。 - 特許庁

In solid imaging element inspection for inspecting a solid imaging element 11 by an inspection device 10, the solid imaging element measured beforehand in a prescribed measuring condition is placed on a prescribed spot 14a in the inspection device as the standard sample 19, and when performing self-diagnosis of the inspection device 10, the self-diagnosis is performed by measuring the standard sample 19 in the inspection device.例文帳に追加

固体撮像素子１１を検査装置１０で検査する固体撮像素子検査において、所定測定条件下で予め測定しておいた固体撮像素子を標準サンプル１９として前記検査装置内の所定箇所１４ａに置いておき、検査装置１０の自己診断を行うときは検査装置内の標準サンプル１９を測定して自己診断を行う。 - 特許庁

To obtain an inspection device for a magnetic head capable of easily inspecting the standard property of an MR head by suppressing to the utmost the effect accompanying the temperature rise of a sensor part while being not affected by the shield film structure, materials, etc., of the MR head.例文帳に追加

ＭＲヘッドのシールド膜構造及び材料等の影響を受けず、しかもセンサー部の温度上昇に伴う影響を極力抑えて簡便にＭＲヘッドの標準特性を検査することが可能な磁気ヘッドの検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and a standard solution, for inspecting an electrode of an oxidation-reduction potential measuring apparatus, which more securely inspects whether the property of an electrode is normal relative to an oxidation-reduction potential on the reduction side.例文帳に追加

還元側の酸化還元電位に対して電極の性能が正常であるか否かをより確実に検査することを可能とする酸化還元電位測定装置の電極検査方法及び酸化還元装置の電極検査用の標準液を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting an exposure mask capable of performing the standard guarantee of the inner dimensions of the exposure mask by the dimension of a place to be truly guaranteed and monitoring the pattern dimensions in an exposure area even when the exposure mask is the exposure mask of a semiconductor integrated circuit device having a random circuit pattern.例文帳に追加

ランダムな回路パターンを持つ半導体集積回路装置の露光マスクであっても、露光マスクの面内寸法の規格保証を、真に保証すべき箇所の寸法によって行え、かつ露光エリアでのパターン寸法のモニタも可能とする露光マスクの検査方法を提供すること。 - 特許庁

The system and method for inspecting nonstandard memory elements in an actual operating environment are applicable to nonstandard memory elements by using an interface substrate 100 for adapting a nonstandard pin configuration to a standard pin configuration on a substrate 170 to be inspected.例文帳に追加

実際の動作環境で非標準メモリ素子を検査する検査システム及び方法は、検査基板１７０上において非標準ピン構成を標準ピン構成に対応させたインタフェース基板１００を使用することによって、非標準メモリ素子に適用することができる。 - 特許庁

Reception information acquired when inspecting piping having the same kind and the same shape as the piping 1 and free from flaws to be detected under the same conditions as those of the inspection of the piping 1, is stored in a flaw detection result storage device 12 as reception information used as a standard.例文帳に追加

その一方で配管１と同種で同形状で、検出対象の欠陥が無い状態の配管を、配管１の検査と同じ条件でガイド波探傷装置で検査した際の受信情報を規準と成る受信情報として探傷結果記憶装置１２に記憶させておく。 - 特許庁

In the method for inspecting a sample automatically by an inspection equipment, measurement of a standard sample is conducted in the way of inspection where a plurality of samples are measured continuously and the samples are measured continuously while managing the inspection equipment automatically based on the measurements.例文帳に追加

被検査サンプルを検査装置によって自動的に検査する方法において、複数の被検査サンプルを連続して測定している検査途中に、自動的に標準サンプルの測定を行い、その結果をもとに前記検査装置を自動管理しながら被検査サンプルを連続測定するようにした。 - 特許庁

The method for manufacturing the optical element has a process for inspecting the internal state of the optical material OM which is a candidate body of the optical element by using the inspection method, and selecting the optical element from candidate bodies based on the fact that the internal state satisfies a prescribed standard.例文帳に追加

また、本発明に係る光学素子の製造方法は、この検査方法を用いて光学素子の候補体である光学材料ＯＭの内部状態を検査し、この内部状態が所定基準を満たすことに基づいて、候補体から光学素子を選別する工程を有する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device, capable of correcting an output value of an optical detector without needing a standard sample by inspecting a correction value, by driving the optical detector, using metered correction applied voltage calculated based on photoelectron multiplication factor.例文帳に追加

計測した光学検出器の光電子増倍係数を基に計算した補正印加電圧を用いて光学検出器を駆動して補正値を検査することにより、基準となる試料を必要とすること無く、光学検出器の出力値を補正することが可能な表面検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a stick bar defect inspection device, capable of stably executing inspection over long times, even if object stick bars are inputted continuously at a high speed, and inspecting accurately defective parts comprising fine split, chip, irregularities, crack, breakage, dirt, non-standard width size, or the like of the object stick bar.例文帳に追加

対象スティックバーが連続して高速に送り込まれた場合でも、長時間安定して検査が行うことができ、しかも対象スティックバーにおけるささくれ、欠け、凹凸、ひび、割れ、汚れ、幅寸法規格外等からなる不良部分を正確に検査することができるスティックバー不良検査装置を提供する。 - 特許庁

The method of prescribing a lens pair has a step for performing a standard visual acuity measurement and inspecting method, a step for deciding whether which eye is good in tolerance against a defocus due to the presbyopia and a step for selecting a lens suitable for each eye from each column of the range according to the inspected result.例文帳に追加

レンズ対を処方する方法は、標準の視力測定検査法を実施する段階と、どちらの目が老視による焦点ぼけに対する許容度において良好であるかを判定する段階と、検査結果に従ってレンジのそれぞれの列からそれぞれの目に合ったレンズをレンズを選択する段階とを有する。 - 特許庁

Removal of the thin film 2 in this manner allows elimination of a rising section (a salient) 3, and the wet etching allows an end of the recessed pattern for inspection 11 to be rounded off, thus making it possible to improve accuracy in inspecting the surface of the wafer surface using such pattern as a standard sample.例文帳に追加

このように、薄膜２を除去することにより検査用凹部パターン１１端部に形成された盛り上がり部（凸部）３を除去することができ、また、ウエットエッチングにより検査用凹部パターン１１端部に丸みをもたせることができ、かかるパターンを標準試料として用いた、ウエハ表面検査の精度を向上させることがでる。 - 特許庁

To provide a new method for inspecting the color tone of a building material which can accurately inspect the appearance color tone of the building material and accurately reproduce a standard appearance color tone simply by using a computer, an apparatus for the method, a new method for coating the building material, and an apparatus for the coating method.例文帳に追加

建材の外観色調の高精度検査、ならびに規格外観色調の高精度再現をコンピュータを用いて簡易に実現することのできる、新しい建材色調検査方法および建材色調検査装置、ならびに新しい建材塗装方法および建材塗装装置を提供する。 - 特許庁

In the printed matter inspecting method, a periphery of a detected defect candidate is searched after performing first positional correction using a standard image and the inspected image, and whether it is a real defect is determined by performing second positional correction relating to the defect candidate determined to have high possibility of error detection caused by the geometric distortion.例文帳に追加

基準画像と検査画像を用いて第一の位置補正を行った後に、検出された欠陥候補に対してその周辺部を探索し、幾何学的歪みに起因した誤検知の可能性が高いと判定された欠陥候補に対しては、第二の位置補正を行い真の欠陥であるかを判定することを特徴とする印刷物検査方法。 - 特許庁

The device for inspecting the metal joint is equipped with a heating means 12 for heating the joint; a temperature change measuring means 13 for measuring the temperature change; a temperature change compensation means 14 for compensating the temperature change to the temperature change in the heating power becoming the standard and a quality determination means 16 for comparing and sorting the temperature; change after compensation and determining the quality of the part to be inspected.例文帳に追加

その装置は、接合部を加熱する加熱手段１２と、その温度変移を測定する温度変移測定手段１３と、その温度変移を基準となる加熱パワーでの温度変移に補正する温度変移補正手段１４と、補正後の温度変移を比較選別して良否を判定する良否判定手段１６とを備える。 - 特許庁

To provide a connecting pipe for a water pressure tester installable by using the same connecting pipe in either of two kinds of standard screws used for an indoor pipe and a main pipe when installing the connecting pipe for the water pressure tester connected between the existing indoor pipe and the main pipe for inspecting water pressure or water leakage of a service water pipe.例文帳に追加

水道配管の水圧又は漏水を検査するために既設の屋内配管と本管との間に連結される水圧テスタ用連結管を取り付ける際、屋内配管と本管とに使用されている２種の規格ネジがいずれのものであっても同一の連結管を用いて取り付けることができる水圧テスタ用連結管を提供する。 - 特許庁

A method for inspecting an electrode of an oxidation-reduction potential measuring apparatus 1 wherein a measurement electrode 21 and a reference electrode 22 are immersed into a solution to be inspected to measure an oxidation-reduction potential of the solution, includes a step of immersing the measurement electrode 21 and the reference electrode 22 into a standard solution 5 prepared by adding a sulfite and quinhydrone to water in a container 4.例文帳に追加

測定電極２１及び比較電極２２を被検液に浸漬して被検液の酸化還元電位を測定する酸化還元電位測定装置１の電極を検査する方法であって、水に亜硫酸塩とキンヒドロンとを添加して調製された容器４内の標準液５に測定電極２１及び比較電極２２を浸漬する工程を有する構成とする。 - 特許庁

To provide an immunological measuring kit of asialo GM1 and an immunological measuring kit of an antiasialo GM1 antibody capable of measuring the asialo GM1 or the antiasialo GM1 antibody in a sample in a short time with high sensitivity and high accuracy, and unifying a diagnosis standard by reducing difference of each inspection result by inspection execution institutions for inspecting the asialo GM1 or the antiasialo GM1 antibody.例文帳に追加

試料中のアシアロＧＭ１や抗アシアロＧＭ１抗体を高感度、高精度かつ短時間で測定することができ、しかも、アシアロＧＭ１や抗アシアロＧＭ１抗体を検査する検査実施機関によって検査結果が異なることを減少させ、診断基準を統一することができる、アシアロＧＭ１の免疫学的測定キット並びに抗アシアロＧＭ１抗体の免疫学的測定キットを提供する。 - 特許庁