測定論の英語

高速トラヒック測定および解析の方法論とプロトコル例文帳に追加

HIGH-SPEED TRAFFIC MEASUREMENT AND ANALYSIS METHODOLOGIES AND PROTOCOLS - 特許庁

散乱光子の２次モーメント理論値によるナノ粒子径測定器例文帳に追加

NANOPARTICLE DIAMETER MEASURING INSTRUMENT BASED ON SECONDARY MOMENT THEORETICAL VALUE OF SCATTERED PHOTON - 特許庁

ＬＳＩの論理機能検証での試験条件充足測定方法例文帳に追加

TEST CONDITION SUFFICIENCY MEASURING METHOD IN LSI LOGICAL FUNCTION VERIFICATION - 特許庁

ＳＯＩ論理回路のセットアップ時間測定方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SET-UP TIME OF SOI LOGIC CIRCUIT - 特許庁

遅延量測定回路６は、論理回路４により生じる入力信号３の遅延量を、Ｄ型Ｆ／Ｆ１０の動作検証前に測定する。例文帳に追加

A delay amount measuring circuit 6 measures a delay amount of the input signal 3 due to the logic circuit 4, before operation verification of the D type F/F 10. - 特許庁

測定手段３は、抽出されたドメインの信号の論理を変化させて順序回路に入力される信号値を測定する。例文帳に追加

A measurement means 3 measures a signal value to be input to the sequential circuit by changing the logic of the extracted domain signal. - 特許庁

次に、コンピュータ５の制御部２１は、測定結果を基に、理論式から各測定回の変形係数と強度定数を求める（ステップ１０５）。例文帳に追加

Next, the control part 21 of the computer 5 obtains a deformation coefficient and a strength parameter of each measurement by a theoretical formula based on the measurement results (Step 105). - 特許庁

２つの論理回路１１、１２が良品の場合には、電流測定ユニット１８は電源電流を測定しないが、一方の論理回路（例えば１１）が不良品の場合には、電流測定ユニット１８は過剰な電源電流を測定するので、一方が不良品であると判断される。例文帳に追加

An electric power source current is not measured by an electric power source measuring unit 18 when the two logic circuits 11, 12 are nondefective, but the unit 18 measures excessive electric power source current to judge one of them as a defective, when the one of logic circuit (for example 11) is defective. - 特許庁