白色干渉縞の英語

光源としてスペクトル幅の広い白色光による光波の干渉法において、ヘテロダイン干渉を実現するために白色光に一様な周波数シフトを与えたり干渉縞を走査する干渉計と、実際に計測する計測用干渉計とを別々に設けることによって、被測定物体からの弱い反射光を高感度で検出し、空間的位置決めなどを高感度で可能とする。例文帳に追加

To enable spatial positioning with high sensitivity by detecting weak reflected light from a body to be measured with high sensitivity by providing an interferometer which gives a uniform frequency shift to white light and scans interference fringes so as to actualize heterodyne interference and an interferometer which takes actual measurement separately in an interference method for a light wave by white light with wide spectrum width as a light source. - 特許庁

白色干渉形状測定を用いる形状と材質の測定方法であり、白色干渉光学系の光軸に垂直に設置した被測定物の測定面を、白色干渉光学系内で光軸方向に相対移動させ、干渉縞強度の極大値の発生の回数を数えることで、測定面内の各測定位置ごとの表面材質の分類を行うことを特徴とする。例文帳に追加

In the measuring method of the shape and material using a white interference shape measurement, a measurement surface of the measured object disposed perpendicularly to the optical axis of a white interference optical system is relatively moved in the optical axis direction in the white interference optical system, and the number of occurrences of the maximal value of the interference fringe intensity is counted, thereby classifying surface material at each measuring position in the measurement surface. - 特許庁

白色干渉縞のピーク位置を正確に検出可能な寸法測定装置及び寸法測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a dimension measuring device and dimension measuring method capable of accurately detecting the peak position of a white interference fringe. - 特許庁

白色干渉を用いた円筒状の被測定物の内径寸法測定において、干渉縞の測定に用いる測定光を効率良く利用可能な内径測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inner diameter measuring device capable of efficiently utilizing the measuring light used for measurement of interference fringe, in inner diameter dimension measurement of a cylindrical object to be measured using white interference. - 特許庁

白色干渉を用いた寸法測定において、干渉縞のピーク位置を正確に検出して、精度よく寸法を測定することが可能な寸法測定装置及び寸法測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a dimension measuring device and a dimension measuring method capable of accurately detecting a peak position of interference fringe and precisely measuring a dimension in dimension measurement using white interference. - 特許庁

その白色光は駆動部２４によって相対的距離が変動される参照面１５と測定対象面とに照射されて、その光路差の変化によって干渉縞が生じる。例文帳に追加

The white light is radiated through a driving portion 24 to a reference surface 15 and the measuring object surface having varying relative distance, and the variation of the optical path difference generates interference stripes. - 特許庁

白色光干渉計は、 白色光源からの光に光路差を生成するための第１の光学系と、該第１の光学系からの光の光路差を検出するための第２の光学系と、を有し、該第２の光学系は光を２つに分岐する分岐手段と該分岐手段からの光によって生成された干渉縞を検出するための光検出装置を有する。例文帳に追加

The white light interferometer has a first optical system for forming light path difference in the light from a white light source and a second optical system for detecting the light path difference of the light from the first optical system and the second optical system has a branch means for branching light into two lights and a photodetector for detecting the interference fringe formed by the light from the branch means. - 特許庁