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第5シードの英語

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英訳・英語 number five seed; No. 5 seed


クロスランゲージ 37分野専門語辞書での「第5シード」の英訳

第5シード


「第5シード」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 16



例文

続いて、1のシード層5上に金属を含む化合物及び2の還元性ガスを供給することにより、1のシード層5の上に2のシード層6を形成する。例文帳に追加

Subsequently, a compound containing metal and a second reducing gas are supplied onto the first seed layer 5 to form a second seed layer 6 on the first seed layer 5. - 特許庁

2のシード膜14は、製造工程中に1のシード膜4に添加された金属が配線材料膜5中に拡散するのを抑える。例文帳に追加

The second seed film 14 prevents the metal, doped to the first seed film 4, from diffusing into the wiring material film 5, in the middle of manufacturing process. - 特許庁

半導体装置は、1の層間絶縁膜1に形成された1の配線溝2内に、バリアメタル3、1のシード膜4、2のシード膜14、銅膜5を有する埋め込み配線を備えている。例文帳に追加

The semiconductor device is provided with an embedded wiring having a barrier metal 3, a first seed film 4, a second seed film 14, and a copper film 5, in a first wiring groove 2 formed on a first interlayer insulating film 1. - 特許庁

続いて、1のシード層4上に2の金属又は該金属を含む化合物を供給することにより、1のシード層4上にバリア層5を形成する。例文帳に追加

Subsequently, a barrier metal layer 5 is formed on the first seed layer 4 by supplying a second metal or a compound containing the metal onto the first seed layer 4. - 特許庁

続いて、CMP法により、層間絶縁膜3のコンタクトホール3aを除く上面に残存する金属、2のシード層6及び1のシード層5を除去することにより、コンタクトホール3aにプラグ7Aを形成する。例文帳に追加

Subsequently, the metal remaining on an upper surface of the interlayer insulating film 3 except the contact hole 3a, and the second seed layer 6 and first seed layer 5 are removed by a CMP (Chemical Mechanical Polishing) method to form the plug 7A at the contact hole 3a. - 特許庁

続いて、バリアメタル層5上に3の金属又は該金属を含む化合物を供給することにより、バリアメタル層5上に2のシード層6を形成する。例文帳に追加

Then, a second seed layer 6 is formed on the barrier metal layer 5 by supplying a third metal or a compound containing the metal onto the barrier metal layer 5. - 特許庁

例文

続いて、層間絶縁膜3上に金属を含む化合物及び1の還元性ガスを供給することにより、コンタクトホール3aを含む層間絶縁膜3の上に1のシード層5を形成する。例文帳に追加

Subsequently, a compound containing metal and a first reducing gas are supplied onto the interlayer insulating film 3 to form a first seed layer 5 on the interlayer insulating film 3 including the contact hole 3a. - 特許庁

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「第5シード」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 16



例文

基板1の上に、裏打層2、FeCoBシード層3、fcc構造の結晶配向制御層4、非磁性下地層5、1記録層6、2記録層7及び保護層8を形成する。例文帳に追加

A backing layer 2, an FeCoB seed layer 3, a crystal orientation control layer 4 having an fcc structure, a non-magnetic underlayer 5, a first recording layer 6, a second recording layer 7 and a protective layer 8 are formed on a substrate 1. - 特許庁

次いで、2のレジスト膜14を剥離し、陽極酸化膜6及び金属被膜5の表面に密着/シード層15を被着し、陽極酸化膜6上に上部電極となる導体パターン8を形成する。例文帳に追加

Then, the second resist film 14 is separated, a contact/seed layer 15 is deposited on surfaces of the anodized film 6 and the metal film 5, and a conductor pattern 8 is formed on the anodized film 6 to serve as an upper electrode. - 特許庁

続いて、CMP法により、絶縁膜2の配線溝2aを除く上面に残存する合金膜7、バリア層5及び1のシード層4を除去することにより、配線溝2aに配線7Aを形成する。例文帳に追加

Following that the alloy film 7, the barrier metal layer 5, and the first seed layer 4 remaining on the upper surface, excluding the wiring groove 2a, of the insulating film 2 are removed by the CMP method, thereby forming a wiring 7A in the wiring groove 2a. - 特許庁

半導体基板1上の絶縁膜2に形成された1の配線溝3と該配線溝よりも幅広の2の配線溝5を含む全面にバリアメタル膜6a、めっきシード膜を順次形成した後、1の銅めっき膜7aを電気めっきして、熱処理する。例文帳に追加

A barrier metal film 6a and a plated seed film are successively formed on an entire surface including a first wiring groove 3 that is formed at an insulating film 2 on a semiconductor substrate 1 and a second wiring groove 5 that is wider than the wiring groove 3, and a first copper-plated film 7a is electrically plated for heat treatment. - 特許庁

テクスチャ加工は、1μm平方あたり25本以上、60本以下の略同心円状の溝で、深さは、3nm以上、5nm以下であることが好ましく、2もしくはシード層は、Tiを30原子%以上、50原子%以下含有することが好ましい。例文帳に追加

The textured surface has 25 to 60 grooves/1 μm^2 nearly concentric preferably having 3 to 5 nm depth and the second and the fourth seed layers preferably contain 30 to 50 at% Ti. - 特許庁

さらに、軟磁性裏打層4の上面側に、1の中間層6aまたは2の中間層6bの下面に接するシード層5を備えるようにし、非磁性基体1と軟磁性裏打層4の間に、少なくとも1層の下地層2と磁区制御層3とを順次積層して備えるようにした。例文帳に追加

Further, a seed layer 5 coming in contact with a lower surface of the first intermediate layer 6a or the second intermediate layer 6b is provided at an upper surface side of the soft magnetic backlining layer 4, and a base layer 2 of at least one layer and a magnetic domain control layer 3 are laminated successively. - 特許庁

基板(ガラス基板)1の表面に所定の表面粗さを有する同心円状の凹凸を形成し、その上に、プリコート層2、シード層3、下地層4、1の磁性層5、スペーサ層6、2の磁性層7、保護層8、潤滑層9を順次積層した。例文帳に追加

Concentric circular recessed and projected parts having predetermined surface roughness are formed on the surface of a substrate (glass substrate) 1, and a precoated layer 2, a seed layer 3, a substrate layer 4, a first magnetic layer 5, a spacer layer 6, a second magnetic layer 7, a protective layer 8 and a lubricant layer 9 are sequentially laminated thereon. - 特許庁

例文

更に、1の金属パターン上に形成された2の有機絶縁膜3と、2の有機絶縁膜3に形成され1の金属パターンに達する開口部(開口部15)と、この開口部を介して1の金属パターンに接続された2の金属パターン(シードメタル19及びバリアメタル5)を有する。例文帳に追加

Furthermore, the semiconductor device 100 has a second organic insulation film 3 formed on the first metal pattern, an aperture (opening 15) formed in the second organic insulation film 3 to reach the first metal pattern, and a second metal pattern (seed metal 19 and a barrier metal 5) connected with the first metal pattern through the aperture. - 特許庁

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