粉末試料の英語

本発明は、粉末充填穴付きホルダー、粉末充填穴の下端を封止する下部板、およびその粉末を粉末充填穴の他端から封止、プレスするパンチ部付きホルダーを有する表面分析用の粉末試料成形治具およびそれを用いた粉末試料加圧成形方法である。例文帳に追加

The power sample molding jig for surface analysis has a holder having a hole for filling powder, a lower plate for sealing the lower end of the power filling hole, and a holder having a punch section for sealing and pressing the powder from the other end of the power filing hole, and the power sample pressure forming method uses the jig. - 特許庁

エバネッセント波を用いた粉末若しくは粉末を固めた試料片の紫外可視吸収スペクトル測定装置例文帳に追加

ULTRAVIOLET AND VISIBLE LIGHT ABSORPTION SPECTRUM MEASURING INSTRUMENT FOR POWDER OR SAMPLE PIECE BROUGHT INTO BLOCK WITH POWDER USING EVANESCENT WAVE - 特許庁

レーザーアブレーション方法、試料分析方法、分析用バインダ、及び粉末加工物の製造方法例文帳に追加

LASER ABLATION METHOD, SAMPLE ANALYSIS METHOD, BINDER FOR ANALYSIS AND MANUFACTURING METHOD OF POWDER PROCESSED MATERIAL - 特許庁

抽出後の残渣を乾燥し、水中フルボ酸の粉末標準試料を得る。例文帳に追加

After the extraction, the remainder is dried to obtain the standard powder specimen of the in-water fulvic acid. - 特許庁

微粉末試料の重量計量装置とそれを利用した分析試料作製装置、さらに、かかる装置を備えた蛍光Ｘ線分析装置例文帳に追加

WEIGHING INSTRUMENT FOR FINE POWDER SAMPLE, ITS APPLIED ANALYTICAL SAMPLING DEVICE AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER EQUIPPED WITH ABOVE-STATED DEVICES - 特許庁

密封式小型試料容器への粉末試料充填の際に、試料容器本体のシール部に粉末試料が付着するのを防いでシール不良による測定の失敗あるいは熱分析装置の破損を防止できるようにし、しかもグローブボックス内での作業性を大幅に改善できるようにする。例文帳に追加

To prevent erroneous measurement or breakage of a thermal analysis equipment arising from defective sealing and to improve greatly a workability inside a glove box by a method wherein a powder sample is prevented from adhering to a sealing part of a sample container main body when the powder sample is filled into a sealed-up type small sample container. - 特許庁

測定セル５は、積分球３に付設された測定セル５の面以外の粉末試料の周囲を、粉末試料に照射された光を吸収する光吸収部材で囲むように構成される。例文帳に追加

A measurement cell 5 is constituted so that the surroundings of the powder sample except on the surface of the measurement cell 5 attached to an integration ball 3 are surrounded by a light absorption member which absorbs the light with which the powder sample is irradiated. - 特許庁

フィルム上に薄膜が形成されている被検試料を１０枚積層させ、Ｘ線が入射する側から数えて第１番目の被検試料１Ｊと第２番目の被検試料１Ｉとの間に標準粉末試料を仕込み、これを測定対象試料とする。例文帳に追加

The measuring objective sample is constituted by stacking ten test samples in each of which a thin film is formed on a film, and putting a standard powder sample between a test sample 1J which is closest to a side where an X-ray enters and a test sample 1I which is second closest to the side. - 特許庁