複像検査の英語

複雑な画像処理を行うことなく、検査対象を撮像した画像及び検査対象に関する情報を正確に遷移させて検査をする。例文帳に追加

To inspect an image formed by photographing an inspection object and information relating to the inspection object by correctly making them transit without executing complicated image processing. - 特許庁

次いで、その被検査画像を、複数の被検査分割画像に分割する（Ｓ４３）。例文帳に追加

Subsequently, the image to be inspected is divided into a plurality of the divided images to be inspected (S43). - 特許庁

画像処理装置は、被検査物の中の同一箇所が前記複数の背景板の上の被検査物を通るとき前記カメラにより撮像された被検査物の画像から、被検査物の外観の欠陥を検査する。例文帳に追加

An image processor inspects the defect of the appearance of the inspecting object, based on the image of the inspecting object picked up by the camera, when the same part in the inspecting object travels through the inspecting objects on the plurality of background plates. - 特許庁

画像診断装置は複数の検査を実行する順序が異なる複数の検査のセットで総検査時間をそれぞれ計算し、計算された総検査時間の中から最短の総検査時間を特定する。例文帳に追加

The diagnostic imaging system respectively calculates the total inspection time in the set of the two or more inspections, in which order of performing the two or more inspections differs, and specifies the shortest total inspection time out of the calculated total inspection time. - 特許庁

撮像によりカメラモジュールの解像度を検査するための複数の解像度検査用パターンを有する解像度検査用チャートであって、 複数の前記解像度検査用パターンは任意の姿勢に回転可能であることを特徴とする。例文帳に追加

The present invention relates to a resolution inspection chart having a plurality of resolution inspection patterns for inspecting a resolution of a camera module through imaging, the plurality of resolution inspection patterns can be rotated in arbitrary attitudes. - 特許庁

複数の検査装置で得られた検査データの空間的に同じ検査部位を同期させて表示する医用画像表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a medical image display system for synchronously displaying the spatially same inspection regions of inspection data obtained by a plurality of inspection devices. - 特許庁

コーティング検査装置１０は、検査区域ごとに、色分解された複数の画像のいずれかを選択して検査してもよい。例文帳に追加

The device 10 may select and inspect any one of these color-separated images by each inspection region. - 特許庁

画像診断装置が複数の検査を順次実行するに際し、総検査時間が最短となる検査のセットを探索する。例文帳に追加

The diagnostic imaging system searches for the set of the inspections, in which the total inspection time is shortest, in the case of performing two or more inspections one by one. - 特許庁