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電子ビームテストシステムの英語
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英訳・英語 electron beam test systems
「電子ビームテストシステム」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法例文帳に追加
ELECTRON BEAM TEST SYSTEM AND ELECTRON BEAM TEST METHOD - 特許庁
電子ビームテストシステム及び電子ビームテスト方法例文帳に追加
ELECTRONIC BEAM-TESTING SYSTEM AND METHOD - 特許庁
集積基板搬送モジュールを備えた電子ビームテストシステム例文帳に追加
ELECTRON BEAM TEST SYSTEM EQUIPPED WITH INTEGRATED SUBSTRATE CONVEYANCE MODULE - 特許庁
DC信号や観測したいタイミングの前から電位変化が無い信号に対してもHigh/Lowを判定できる電子ビームテストシステムを提供する。例文帳に追加
To provide an electronic beam-testing system for judging whether a signal without any potential change is high or low before a DC signal or timing to be observed. - 特許庁
クリーンルームの空間を節約することができ、フラットパネルディスプレイを電子ビームテスト装置の下方に確実に位置させることができるコンパクトな電子ビームテストシステムを提供する。例文帳に追加
To provide a compact electron beam test system capable of saving a clean room space, and positioning a flat panel display surely under an electron beam test device. - 特許庁
被解析対象物である半導体集積回路装置に電子ビームを照射して電位コントラストを取得することにより、プロセス欠陥に起因する不良又は故障を解析する電子ビームテストシステムである。例文帳に追加
The electron beam test system analyzes faulty or breakdown caused by a process defect by irradiating an electron beam to a semiconductor integrated circuit device to be analyzed and obtaining a potential contrast. - 特許庁
被解析対象物である半導体集積回路装置に、電子ビームを照射して解析のための電位コントラストを取得する電子ビームテストシステムである。例文帳に追加
In the electronic beam-testing system, electron beams are applied to a semiconductor integrated circuit device to be analyzed for acquiring potential contrast to be analyzed. - 特許庁
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