FZPとは 意味・読み方・使い方

The FZP 16 may be substituted with a phase modulation type FZP applied with X-ray nontransmissible processing in a portion other than a Fresnel zone worked part, and light other than objective diffracted light may be shielded by a shielding means provided in the vicinity of a focal point of the FZP 16.例文帳に追加

また、ＦＺＰ１６をフレネルゾーン加工部以外の部分にＸ線不透過処理を施した位相変調型ＦＺＰとしたり、ＦＺＰ１６の焦点近傍に設けた遮蔽手段により目的とする回折光以外の光を遮断するようにした。 - 特許庁

A concentric circular FZP pattern portion 101 is provided on a Ta film on an SiN film by an electron beam drawing technique or the like to form a Fresnel zone plate (FZP) 100.例文帳に追加

ＳｉＮ膜上のＴａ膜上に電子線描写などの手法により同心円状のＦＺＰパターン部分１０１を設けてフレネルゾーンプレート（ＦＺＰ）１００とする。 - 特許庁

Furthermore, a secondary light source of a microspot formed at the focal point of the FZP 3 is provided with a collimator part 2a focused thereat.例文帳に追加

また、ＦＺＰ３の焦点に形成される極小スポットの二次光源に対して、ここを焦点とするコリメータ部２ａを設ける。 - 特許庁

To provide a topography measurement device using an FZP expansion method capable of reducing influence of direct light effectively.例文帳に追加

直接光の影響を効果的に低減できるＦＺＰ拡大法によるトポグラフィー測定装置を提供すること。 - 特許庁

A condensing part, i.e., an FZP(Fresnel zone plate) 3, is disposed at a position spaced apart from the light emitting part 4b of an LED 4 by a distance L sufficient with respect to the emission diameter and a light shielding part 2b for refracting unnecessary light outward is disposed on the periphery of the FZP 3.例文帳に追加

ＬＥＤ４の発光部４ｂから発光径に対して十分な距離Ｌを隔てた位置に集光部としてのＦＺＰ（フレネルゾーンプレート）３を配置し、このＦＺＰ３の周辺に、不要な光を外方に屈折させる遮光部２ｂを設ける。 - 特許庁

An incident X-ray beam 104 is made to get incident into the FZP 100, and a Bessel beam 107 formed in a transmission beam is emitted onto a measuring objective area of the sample 106.例文帳に追加

このＦＺＰ１００に入射Ｘ線ビーム１０４を入射させ、この透過光中に形成されるベッセルビーム１０７を試料１０６の測定対象領域上に照射する。 - 特許庁

X-ray non-transmission processing by gold plating is executed in the central portion 102 and a peripheral portion of the FZP 100 to irradiate a sample 106 with only light condensed while avoiding an influence of direct light.例文帳に追加

ＦＺＰ１００の中央部分１０２および周辺部分１０３には、直接光の影響を避け集光された光のみが試料１０６を照射するようにするために金メッキによるＸ線不透過処理が施されている。 - 特許庁