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X-ray spectral analysisとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 X線分光分析
「X-ray spectral analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
MULTILAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BERYLLIUM例文帳に追加
ベリリウム蛍光Ｘ線分析用多層膜分光素子 - 特許庁
MULTI-LAYER FILM SPECTRAL ELEMENT FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF BORON例文帳に追加
ホウ素蛍光Ｘ線分析用多層膜分光素子 - 特許庁
The composition in the surface is measured by the X-ray photoelectron spectral analysis method.例文帳に追加
また、これら表面の成分組成はＸ線光電子分光分析法で計測する。 - 特許庁
A qualitative analysis and a quantitative analysis are made by making use of the relation between the content of the marking material and a fluorescent X-ray analysis spectral intensity.例文帳に追加
標識材料の含有化量とケイ光Ｘ線分析スペクトル強度との関係を利用した定性・定量分析を行う。 - 特許庁
In total reflection fluorescent X-ray analysis, a collimator for specifying the incident position and angle of an X-ray and a superconducting spectral element are integrated and brought close to or into contact with a sample, to thereby remove necessity of each independent alignment for the sample, the spectral element and the incident X-ray when performing the total reflection local fluorescent X-ray measurement.例文帳に追加
本願発明においては、Ｘ線の入射位置、角度を規定するためのコリメータと超伝導分光素子を一体化し、これを試料に近接あるいは接触させることにより、全反射局所蛍光Ｘ線測定を行うに際して試料、分光素子、入射Ｘ線各々独立のアライメントの必要性を排除した。 - 特許庁
In the above two stages of spectral analysis, the X-ray source is located at the same position and holds the same posture, and an emission slit 104 is located at the same position even though the position and posture of the multilayer mirror 102 are changed.例文帳に追加
上述の２種類の分光段階において、Ｘ線源の位置及び姿勢は同じであり、多層膜ミラー１０２の位置と姿勢は変化するが出射スリット１０４の位置は同じである。 - 特許庁
As the carbon material, the content of each of Zn and Cu by ICP emission spectral analysis is preferably 15 ppm or lower, furthermore, perferably, the content of Fe is 100 ppm or lower and the content of Cl by X-ray fluorescent analysis is preferably 70 ppm or lower.例文帳に追加
前記炭素材料としては、ＩＣＰ発光分析によるＺｎ、Ｃｕの含有量がそれぞれ１５ｐｐｍ以下で、かつＦｅの含有量が１００ｐｐｍ以下であることが好ましく、また、ケイ光Ｘ線分析によるＣｌの含有量が７０ｐｐｍ以下であることが好ましい。 - 特許庁
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「X-ray spectral analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
Inside an analysis chamber 3, an electron beam irradiation part 4 is provided to generate electron beams B made to irradiate a sample S, an X-ray spectral detector 5 which spectrally detects X rays R generated from the sample, an electron detector 6 which detects electrons E generated from the sample and the like.例文帳に追加
分析室３の内部には試料Ｓに照射するための電子ビームＢを発生する電子線照射部４や試料から発生するＸ線Ｒを分光して検出するＸ線分光検出部５、試料から発生する電子Ｅを検出する電子検出部６などを備えている。 - 特許庁
A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured.例文帳に追加
オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。 - 特許庁
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