beam specimensとは 意味・読み方・使い方

EM biological specimens are rapidly damaged by the electron beam.発音を聞く 例文帳に追加

電子顕微鏡の生物試料は、電子ビームによって急速に傷つけられる。 - 科学技術論文動詞集

In crystalline specimens, the use of the primary beam (bright-field) or a Bragg-reflected beam (dark-field) gives rise to diffraction contrast.発音を聞く 例文帳に追加

結晶性試料では、一次ビーム(明視野)またはブラッグ反射ビーム(暗視野)の利用が、回折コントラストをもたらす。 - 科学技術論文動詞集

The preparation of cross-section specimens using focused ion beam milling is outlined in the present article.発音を聞く 例文帳に追加

集束イオンビーム・ミリングを使った断面試料の作製は、今回の論文でその概要が述べられる。 - 科学技術論文動詞集

Many specimens undergo mass loss in the electron beam, which is dependent on the irradiation dose D = Q / A, where Q is the total electron charge and A is the area of irradiation.発音を聞く 例文帳に追加

多くの試料は電子ビームの中で質量損失を受け、それは照射線量D = Q / Aに依存する: ここでQは全電荷量、Aは照射領域である。 - 科学技術論文動詞集

An electron beam is applied onto the specimen to be inspected while it is scanned, a current value generated in the specimen corresponds to the irradiation position of the electron beam at the time when the electron beam is applied, stored as a current waveform, and an incorrect position is detected by comparing the current waveforms of the two inspection specimens.例文帳に追加

被検査試料に対して電子ビームを走査させながら照射し、電子ビームが照射された際に試料に生じた電流値をそのときの電子ビーム照射位置と対応付けて電流波形として記憶し、二つの被検査試料に対する電流波形を比較することにより、不良位置を検出する。 - 特許庁

To provide an electron beam system capable of displaying backscattered electron images at the same brightness and same contrast at all times if the atomic number differences are the same when illumination conditions including an accelerating voltage and an emission current are varied or when the specimens are observed with different instruments.例文帳に追加

加速電圧と照射電流値の照射条件が変わる場合及び／又は異なる装置で試料を観察する場合においても、原子番号差が同じであれば常に同じ輝度とコントラストで反射電子像の表示が行えるようにする。 - 特許庁