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dpkとは 意味・読み方・使い方
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遺伝子名称シソーラスでの「dpk」の意味 |
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dpk
| fly | 遺伝子名 | dpk |
| 同義語（エイリアス） | dParkin; D-parkin; dparkin; SD01679; park; Parkin; CG10523; parkin | |
| SWISS-PROTのID | --- | |
| EntrezGeneのID | EntrezGene:40336 | |
| その他のDBのID | FlyBase:FBgn0041100 |
| human | 遺伝子名 | DPK |
| 同義語（エイリアス） | JNK/SAPK-inhibitory kinase; Jun kinase-inhibitory kinase; JIK; FLJ31808; Cutaneous T-cell lymphoma tumor antigen HD-CL-09; TAOK3; TAO kinase 3; Thousand and one amino acid protein 3; Serine/threonine-protein kinase TAO3; hKFC-A; CTCL tumor antigen HD-CL-09; Dendritic cell-derived protein kinase; Kinase from chicken homolog A; KDS; MAP3K18; DKFZp666H245 | |
| SWISS-PROTのID | SWISS-PROT:Q9H2K8 | |
| EntrezGeneのID | EntrezGene:51347 | |
| その他のDBのID | HGNC:18133 |
| human | 遺伝子名 | DPK |
| 同義語（エイリアス） | Potassium channel subfamily K member 1; HOHO1; TWIK-1; TWIK1; Potassium channel KCNO1; potassium channel, subfamily K, member 1; HOHO; KCNO1; Inward rectifying potassium channel protein TWIK-1; KCNK1 | |
| SWISS-PROTのID | SWISS-PROT:O00180 | |
| EntrezGeneのID | EntrezGene:3775 | |
| その他のDBのID | HGNC:6272 |
本文中に表示されているデータベースの説明
「dpk」を含む例文一覧
該当件数 : 3件
The aligner also measures the surface position of a wafer by irradiating a device portion DPk on which a pattern is formed with light ILY.例文帳に追加
また、パターンが形成されたデバイス部分ＤＰｋに照明光ＩＬ_Yを照射してウェハの表面位置を計測する。 - 特許庁
The trusted device contains one buffer, and the register to the buffer is virtualized to and from an external storage device by enciphering a value of the register using a private device key DPK.例文帳に追加
トラステッド・デバイスは１つのバッファを含み、そのバッファに対するレジスタが、秘密デバイス鍵ＤＰＫを使用してそのレジスタの値を暗号化することによって、外部記憶装置に及び外部記憶装置から仮想化される。 - 特許庁
Then the aligner finds the surface positions of the marks AM by finding the level difference between the device portion DPk and the line SL from the measured results and subtracting the level difference from the surface position of the wafer, and then, adding the heights of the marks AM to the remainder.例文帳に追加
これらの計測結果からデバイス部分ＤＰｋとストリートラインＳＬとの段差を求め、ウェハの表面位置から段差を減算し、これにアライメントマークＡＭの高さを加えることによりアライメントマークＡＭの表面位置を求める。 - 特許庁
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