electron probe microanalyzerとは 意味・読み方・使い方

To efficiently measure a geological age using an electron probe microanalyzer, and to efficiently display an age map.例文帳に追加

電子プローブマイクロアナライザを用いる地質年代測定と年代マップの表示を効率よく行う。 - 特許庁

To easily set an X-ray extraction angle with respect to dispersion type X-ray spectrometer of a plurality of wavelengths, in oblique emission electron probe microanalyzer (EPMA) analysis.例文帳に追加

斜出射ＥＰＭＡ分析において、複数の波長分散形Ｘ線分光器に対するＸ線取出し角度を簡単に設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a particle analyzing device by means of an electron probe microanalyzer capable of correctly determining the compounds to be analyzed even if particles are small enough to fall under an electron diffusion domain of an electron beam irradiated to a specimen.例文帳に追加

試料照射電子線の電子拡散領域以下の小さい粒子の場合でも、正しく分析目的の化合物を判定することが可能な電子プローブマイクロアナライザによる粒子解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inclusion analysis method of a sample by the EPMA (electron probe microanalyzer) for performing efficient measurement by avoiding unneeded measurement and without decreasing measurement accuracy.例文帳に追加

無駄な測定を避け且つ測定精度を低下させずに効率的な測定を行えるようにした、ＥＰＭＡによる試料の介在物分析方法を提供する。 - 特許庁

To reduce electron rays to an embedding material in a surface analysis method by an EPMA(electronic probe microanalyzer) for a sample embedding material consisting of a sample that is embedded by the embedding material.例文帳に追加

包埋材に包埋された試料からなる試料包埋体に対するＥＰＭＡによる面分析法において、包埋材への電子線照射をできるだけ低減できるようにする。 - 特許庁

An epi-illumination device S3, an observation device K2, a reflecting objective lens 10 with a hole, and an optical mechanism arranged on an optical path connecting those are used for observing a reflected optical image for accurately aligning the analytical point, in this electron probe microanalyzer.例文帳に追加

分析点の位置合わせを精度よく行うための反射光学像の観察は、落射照明装置Ｓ３と観察装置Ｋ２と有孔反射対物レンズ１０とこれらを結ぶ光路に配置された光学機構を用いる。 - 特許庁

In the ceramic substrate containing Si, the concentration of silicon oxide and silicon complex oxides in the surface of the substrate is set to 2.7 Atom% or below by surface measurement using an electron probe microanalyzer.例文帳に追加

Ｓｉを含有してなるセラミックス基板であって、基板表面における酸化シリコン及びシリコンの複合酸化物の濃度が、電子プローブマイクロアナライザを用いた表面測定で２．７Ａｔｏｍ％以下に設定されていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an electron probe microanalyzer, provided with an optical observation system of satisfying both requests of shallow focal point depth and high magnification observation for accurately aligning the analytical point, and of wide-view field and low magnification observation for searching for the analytical point in a thin sample by a transmission optical image.例文帳に追加

分析点の位置合わせを精度よく行うための浅い焦点深度及び高倍率観察と、薄片試料の分析点探しを透過光学像によって行うときの広い視野及び低倍率観察という両方の要求を満たす光学観察系を備える電子プローブマイクロアナライザの提供。 - 特許庁