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electron probe microとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 電子プローブマイクロ
「electron probe micro」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
ELECTRON PROBE MICRO-ANALYZER例文帳に追加
電子プロ—ブマイクロアナライザ— - 特許庁
ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYTICAL METHOD, AND ANALYZER THEREFOR例文帳に追加
電子線プローブマイクロX線分析方法、及びその装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
斜出射電子線プローブマイクロX線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁
OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加
斜出射電子線プローブマイクロX線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロX線分析装置 - 特許庁
To provide an electron beam probe micro X-ray analytical method capable of analyzing a depth-directional element distribution from a surface of an analyzed sample.例文帳に追加
被分析試料の表面から深さ方向の元素分布分析をすることができる電子線プローブマイクロX線分析方法を提供すること - 特許庁
In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped.例文帳に追加
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁
The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated.例文帳に追加
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁
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「electron probe micro」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
In the method of estimating the type of clinker of the cement used for the cement hardened body using an electron probe micro-analyzer, non-hydration calcium silicate phase remaining in the cement hardened body is selected, composition analysis of a minute part of this non-hydration calcium silicate phase is performed using the electron probe micro-analyzer, and the type of clinker of the cement is estimated based on the result of the composition analysis.例文帳に追加
セメント硬化体に用いられたセメントのクリンカ品種を電子プローブマイクロアナライザを用いて推定する方法であって、セメント硬化体中に残存している未水和カルシウムシリケート相を選択し、この未水和カルシウムシリケート相の微小部分の組成分析を電子プローブマイクロアナライザを用いて行い、この組成分析の結果に基づきセメントのクリンカ品種を推定する。 - 特許庁
A sample is intermittently heated by a laser or micro-heating probe to be gasified and discharged little by little and the discharged sample is ionized by electron impact ionization.例文帳に追加
レーザ又は微小加熱プローブで試料を断続的に加熱し、少量づつ気化放出させ、電子衝撃イオン化で放出された試料をイオン化する。 - 特許庁
A state of a probe tip is observed therein by an optical microscope, an electron microscope or an ion microscope, and the rotation of the low-vibration stepping motor is stopped when the micro sample is directed along a desired direction.例文帳に追加
この時プローブ先端の様子を工学顕微鏡、電子顕微鏡、あるいはイオン顕微鏡により観察し、微小試料が所望の向きになった時点で低振動ステッピングモータの回転を止める。 - 特許庁
The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加
これにより得られたTi−Al系合金ターゲットは、Alを45〜65原子%含有し、X線回折で分析したときにTi_3Al,TiAl,TiAl_2,TiAl_3の少なくとも2種以上の相を含み、EPMA分析をしたときに単体の金属Ti及び金属Alが残存していない。 - 特許庁
A surface of the copper tube 1 has a film composed of a carbon compound having carbon content at the surface calculated on the basis of the intensity of C-Kα ray, of 1% or more in wavelength analysis of C-Kα ray by an Electron Probe Micro Analyzer method.例文帳に追加
銅管1の表面には、Electron Probe Micro Analyzer分析法のC−Kα線の波長分析において、C−Kα線の強度より算出した表面のカーボン量が、1%以上である炭素化合物からなる皮膜が形成されている。 - 特許庁
The titanium contains 0.1 to 2.5 mass% Fe and has a needle-like or lath-like microstructure and, in the concentration distribution analyzed by using an electron probe X-ray micro analyzer (EPMA), the area of a region having an Fe concentration ≥1.5 times the average concentration is ≥5% and hereby the corrosion resistance of the Fe-containing titanium material can be improved.例文帳に追加
Feを0.1〜2.5質量%含有するチタンにおいて、針状あるいはラス状のミクロ組織を有し、電子線マイクロアナライザ(EPMA)で分析した濃度分布においてFe濃度が平均濃度に対して1.5倍以上に濃化した部分の面積を5%以上とすることによって、Fe含有チタン材の耐食性を高めることができる。 - 特許庁
On the surface of the copper tube 1, there is formed a film made of a carbonic compound showing a main peak in the range of 44-45 Å and showing, in the range of 45-46.1 Å, a peak having a strength smaller than that of the above main peak through the wavelength resolution of C-Kα x-rays in Electron Probe Micro Analysis.例文帳に追加
銅管1の表面には、Electron Probe Micro Analyzer分析法のC−Kα線の波長分析において、44Å〜45Åの範囲にメインピークを示し、45Å〜46.1Åの範囲に上記メインピークよりも強度が小さいピークを示す炭素化合物よりなる皮膜が形成されている。 - 特許庁
The ceramic substrate is formed by dividing a ceramic base material along a scribe line formed on one face of the ceramic material containing silicon nitride, and when the surface is measured using by an electron probe micro analyzer, the concentration of a silicon oxide and a composite oxide of silicon on the face is not more than 2.7 Atom%.例文帳に追加
窒化珪素からなるセラミックス母材の一面に形成されたスクライブラインに沿って該セラミックス母材を分割して形成されたセラミックス基板であって、前記一面における酸化シリコン及びシリコンの複合酸化物の濃度が、電子プローブマイクロアナライザを用いた表面測定において2.7Atom%以下であることを特徴とする。 - 特許庁
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