electron probe micro-analysisとは 意味・読み方・使い方

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING FOREIGN MATTER BY OBLIQUE EMISSION ELECTRON BEAM PROBE MICRO-X-RAY ANALYSIS例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析による異物の分析方法およびその装置 - 特許庁

OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYSIS METHOD, PROGRAM USED THEREIN, AND OBLIQUE EJECTION ELECTRON BEAM PROBE MICRO X-RAY ANALYZER例文帳に追加

斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析方法およびそれに用いられるプログラム、並びに、斜出射電子線プローブマイクロＸ線分析装置 - 特許庁

In the method of estimating the type of clinker of the cement used for the cement hardened body using an electron probe micro-analyzer, non-hydration calcium silicate phase remaining in the cement hardened body is selected, composition analysis of a minute part of this non-hydration calcium silicate phase is performed using the electron probe micro-analyzer, and the type of clinker of the cement is estimated based on the result of the composition analysis.例文帳に追加

セメント硬化体に用いられたセメントのクリンカ品種を電子プローブマイクロアナライザを用いて推定する方法であって、セメント硬化体中に残存している未水和カルシウムシリケート相を選択し、この未水和カルシウムシリケート相の微小部分の組成分析を電子プローブマイクロアナライザを用いて行い、この組成分析の結果に基づきセメントのクリンカ品種を推定する。 - 特許庁

The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).例文帳に追加

これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁

A surface of the copper tube 1 has a film composed of a carbon compound having carbon content at the surface calculated on the basis of the intensity of C-Kα ray, of 1% or more in wavelength analysis of C-Kα ray by an Electron Probe Micro Analyzer method.例文帳に追加

銅管１の表面には、Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏ Ａｎａｌｙｚｅｒ分析法のＣ−Ｋα線の波長分析において、Ｃ−Ｋα線の強度より算出した表面のカーボン量が、１％以上である炭素化合物からなる皮膜が形成されている。 - 特許庁

On the surface of the copper tube 1, there is formed a film made of a carbonic compound showing a main peak in the range of 44-45 Å and showing, in the range of 45-46.1 Å, a peak having a strength smaller than that of the above main peak through the wavelength resolution of C-Kα x-rays in Electron Probe Micro Analysis.例文帳に追加

銅管１の表面には、Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏ Ａｎａｌｙｚｅｒ分析法のＣ−Ｋα線の波長分析において、４４Å〜４５Åの範囲にメインピークを示し、４５Å〜４６．１Åの範囲に上記メインピークよりも強度が小さいピークを示す炭素化合物よりなる皮膜が形成されている。 - 特許庁