failure investigationとは 意味・読み方・使い方

To provide a failure monitoring device that can reduce time required for investigation and corrective actions to find a cause of failure in a power converter.例文帳に追加

電力変換器において、故障原因の究明と対策にかかる時間を短縮する故障モニタ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system for collecting failure investigation information material and the like which enable material necessary for identifying a cause of a failure having occurred to be properly collected according to a type of the failure.例文帳に追加

発生した障害の種類に応じて、その発生原因の特定に必要な資料の採取を適切に行うことを可能とする障害調査情報資料採取システム等を提供する。 - 特許庁

To provide an information collection procedure management system for rapidly and efficiently registering new investigation information collection procedure which is automatically executed when a failure occurs, and consolidating the collected investigation information or the investigation information collection procedure.例文帳に追加

障害発生時に新規の調査情報採取手順を迅速かつ効率的に登録してその採取手順の自動実行を可能とするとともに、調査情報採取手順や採取した調査情報の管理の一元化が可能な情報採取手順管理システムを提供する。 - 特許庁

Although a programming failure has been mentioned as a possible cause, we should conduct a proper investigation to identify the cause.発音を聞く 例文帳に追加

プログラムの不備ということが言われていますけれども、どのような原因でこうした不備が起きたのか、きちんと追及していく必要があると思います。 - 金融庁

To provide a substrate processing apparatus capable of surely and promptly performing result determination of process treatment and failure investigation in a clean room.例文帳に追加

クリーンルーム内でプロセス処理の結果判定や障害調査を確実に且つ迅速に行うことができる基板処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique allowing easy investigation of a cause of a failure occurring during computer usage.例文帳に追加

コンピュータを利用中に発生する不具合の原因究明を容易に行うことを可能とする技術を提供すること。 - 特許庁

A failure investigation part 123 investigates whether any of the cause range components extracted by the cause range extraction part 122 fails or not.例文帳に追加

障害調査部１２３は、原因範囲抽出部１２２が抽出した原因範囲部品に障害が発生しているか否かを調査する。 - 特許庁

To provide a manufacturing and shipping method of a semiconductor device capable of speed-up of cause investigation and measures at a failure occurrence time of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の不良発生時の原因究明および対策の迅速化が図れる半導体装置の製造出荷方法を提供する。 - 特許庁