field emission-type scanning electronとは 意味・読み方・使い方

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁

The titanium dioxide has 1-3 ratio D_top/D_50 of the maximum particle diameter D_top to the average particle diameter D_50 when the primary particles thereof are observed by a field emission-type scanning electron microscope.例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡で観察した一次粒子の最大粒子径Ｄ_topと平均粒子径Ｄ_50の比Ｄ_top／Ｄ_50が１以上３以下であることを特徴とする二酸化チタン。 - 特許庁

The electric field emission type electron source is manufactured by using a scan (33) of an energy beam (32), changing scanning conditions of the scan of the energy beam on the center and fringe parts of the electronic source element, and accumulating electron emitting substances with sharp top ends on a substrate (31).例文帳に追加

エネルギビーム（３２）の走査（３３）を利用し、該エネルギビームの走査を電子源素子の中心部と周辺部とで走査条件を変化させ、基板（３１）の上に先端が先鋭化された電子放出物質を堆積することにより作製された電界放出型電子源。 - 特許庁

When the surface of the metal film 30 is observed using a field emission type scanning electron microscope at an acceleration voltage of 3 kV or lower, small particles having a particle size of 3 μm or smaller, intermediate particles having a particle size of 5-20 μm formed by aggregating the small particles, and large particles having a particle size of 30 μm or larger formed by aggregating the intermediate particles are observed.例文帳に追加

また、金属被膜３０の表面を、電界放射型走査電子顕微鏡を用いて加速電圧３ｋＶ以下で観察した際に、粒径３μｍ以下の小粒子と、この小粒子が凝集して形成された粒径５μｍ以上２０μｍ以下の中粒子と、この中粒子が凝集して形成された粒径３０μｍ以上の大粒子と、が観察されることを特徴とする。 - 特許庁