fixed‐end beamの英語

The actuator 13 has beam parts 33a and 33b which form a leaf spring of which the fixed end is fixed on the substrate 31, and a connection part 34 which is connected between the beam parts 33a and 33b.例文帳に追加

アクチュエータ１３は、基板３１に対して固定端が固定された板ばねをなす梁部３３ａ，３３ｂと、梁部３３ａ，３３ｂ間に接続された接続部３４とを有する。 - 特許庁

The beam constituent part 15 is bent to the side opposite to a substrate 11 along the direction from the fixed end side toward the free end side in a state that a force is not applied to the beam part 13.例文帳に追加

梁構成部１５は、梁部１３が力を受けない状態で、固定端側から自由端側に向かう方向に沿って基板１１と反対側に反っている。 - 特許庁

The installing PC cable 30 is inserted in the bridge shaft direction into a floorslab concrete 20 for constituting a main beam block 10, and the fixed end of the installing PC cable 30 is fixed to the constructed main beam block 10B.例文帳に追加

主桁ブロック１０を構成する床版コンクリート２０に架設ＰＣケーブル３０を橋軸方向に挿入し、架設ＰＣケーブル３０の固定端を施工済み主桁ブロック１０Ｂに固定する。 - 特許庁

This contact probe is equipped with: the beam part 31 having a cantilever structure; two or more wires 33 insulated mutually, and extending from a fixed end toward a free end on the beam part 31; and two or more contact parts 2 formed near the free end of the beam part 31, and connected respectively to the wires 33.例文帳に追加

片持ち梁構造を有するビーム部３１と、互いに絶縁され、ビーム部３１上で固定端から自由端に向かって延びる２以上の配線３３と、ビーム部３１の自由端付近に形成され、配線３３にそれぞれ接続された２以上のコンタクト部２とを備える。 - 特許庁

The probe 3 includes a cantilevered beam section 31 along the support substrate 4, a base section 32 formed at a fixed end of the beam section 31 and conducted to an external terminal 24 of the main substrate 2 through the probe insertion hole, and a contact section 33 formed at a free end of the beam section 31.例文帳に追加

プローブ３は、支持基板４に沿う片持ち梁構造のビーム部３１、ビーム部３１の固定端に形成され、プローブ挿通孔を通ってメイン基板２の外部端子２４と導通させたベース部３２及びビーム部３１の自由端に形成されたコンタクト部３３を有する。 - 特許庁

In the optical modulator, a deflection region 110 is formed at part of both ends-fixed beam 105, and particularly, is formed in the vicinity of one fixed end 105a.例文帳に追加

光変調装置では、撓み部位１１０が、両端固定梁１０５の一部に形成されており、特に一方の固定端１０５ａの近傍に形成されている。 - 特許庁

This contact probe 1 includes the contact part 2 abutting on the inspection object 102, and the beam part 3 having a cantilever structure wherein a fixed end is fixed to a probe substrate 107 and the contact part 2 is formed on the free end of the other end.例文帳に追加

コンタクトプローブ１は、検査対象物１０２に当接させるコンタクト部２と、プローブ基板１０７に固定端が固着され、他端の自由端部にコンタクト部２が形成される片持ち梁構造のビーム部３とを備える。 - 特許庁

The projection part 22 is projected to a direction toward the inspection object 102 from the end face 21a, and is formed so that the distal end face of the projection part 22 is arranged furthermore to the beam part fixed end side than a center part of the end face 21a.例文帳に追加

突起部２２は、端面２１ａから検査対象物１０２へ向かう方向に突出し、端面２１ａの中心部よりもビーム部固定端側に寄って突起部２２の先端面が配置されるように形成されている。 - 特許庁